一种非晶磁环生产用检测设备制造技术

本实用新型专利技术属于磁环检测设备技术领域，尤其为一种非晶磁环生产用检测设备。本实用新型专利技术通过设置包括检测设备本体，所述检测设备本体的一侧上端左右两侧均设有箱门，所述箱门的底端一侧设有一号限位件，所述检测设备本体的一侧上端位于箱门的一侧设有二号限位件，所述一号限位件包括一号限位钩杆、连接块和一号限位磁吸块，所述一号限位钩杆的上端一侧固定连接有连接块，所述一号限位钩杆的底端一侧固定连接有一号限位磁吸块，所述二号限位件包括二号限位钩杆、转动片、转动轴、牵拉块、弹簧、提拉环和二号限位磁吸块，所述二号限位钩杆的上端一侧固定连接有二号限位磁吸块，便于转动打开之后箱门的限位定位，从而使得箱门不易自行回转复位。复位。复位。

【技术实现步骤摘要】
一种非晶磁环生产用检测设备


[0001]本技术涉及磁环检测设备
，具体为一种非晶磁环生产用检测设备。

技术介绍

[0002]非晶磁环，是用非晶材料加工的磁性元件，根据所用非晶带材的材质不同，可分为铁基非晶，钴基非晶等等，非晶具有饱和磁密远高于普通铁氧体和粉末磁芯的特点，但随着频率升高，磁导率会很快下降，一般用于几十K到上百K的频带,非晶磁环在生产过程中需要通过检测设备对其进行相应的检测，检测设备如现有的市面上所销售的光学筛分设备，检测指标包括：外形、轮廓、尺寸、表面污渍、表面划痕、毛刺、缺料等，检测精度较高且检测速度较快，操作简单，使用便捷，但是，现有的非晶磁环检测设备在使用过程中还存在以下问题：检测设备的箱门在打开之后缺乏较好的限位，铰连接的箱门容易自行回转，从而影响非晶磁环产品的取放，进而使得设备本体的操作以及使用较为不便。

技术实现思路

[0003]（一）解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种非晶磁环生产用检测设备，解决了现有的检测设备的箱门在打开之后缺乏较好的限位，铰连接的箱门容易自行回转的问题。
[0005]（二）技术方案。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种非晶磁环生产用检测设备，包括检测设备本体，所述检测设备本体的一侧上端左右两侧均设有箱门，所述箱门的底端一侧设有一号限位件，所述检测设备本体的一侧上端位于箱门的一侧设有二号限位件，所述一号限位件包括一号限位钩杆、连接块和一号限位磁吸块，所述一号限位钩杆的上端一侧固定连接有连接块，所述一号限位钩杆的底端一侧固定连接有一号限位磁吸块，所述二号限位件包括二号限位钩杆、转动片、转动轴、牵拉块、弹簧、提拉环和二号限位磁吸块，所述二号限位钩杆的上端一侧固定连接有二号限位磁吸块，所述连接块的底端一侧一体成型有提拉环，所述二号限位钩杆的底端另一侧一体成型连接的有牵拉块，且所述牵拉块的上端设有弹簧，所述二号限位钩杆的尾端一体成型有转动片，且所述转动片内部转动连接有转动轴。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述一号限位件和二号限位件均呈对称分布，所述一号限位钩杆和二号限位钩杆均为L形结构且均为弧形结构，所述一号限位磁吸块与二号限位磁吸块均为磁性构件且均为梯形结构。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接块与一号限位钩杆相互垂直且与箱门固定连接。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述提拉环为弧形结构且与二号限位钩杆相互垂直。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述提拉环为弧形结构且与二号限位钩杆
相互垂直。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述弹簧的上下两端分别与检测设备本体和牵拉块固定连接。
[0012]（三）有益效果
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种非晶磁环生产用检测设备，具备以下有益效果：
[0014]该非晶磁环生产用检测设备，通过设置于检测设备本体正面位于箱门底端一侧的一号限位件，以及检测设备本体正面位于一号限位件一侧的二号限位件，便于转动打开之后箱门的限位定位，从而使得箱门不易自行回转复位，进而便于检测设备本体的操作和使用，使用简单便捷，同时，通过一号限位件中的一号限位钩杆与二号限位件中的二号限位钩杆相互卡合进行限位，并进一步通过一号限位件中的一号限位磁吸块与二号限位件中的二号限位磁吸块相互吸合进行进一步的限位，从而使得相互接触的一号限位件与二号限位件不易活动脱离，并且，通过提拉环、转动片、转动轴和弹簧便于一号限位件相对二号限位件的弹性收放，从而便于一号限位件与二号限位件之间的接触连接以及脱离分离，进而便于箱门后续的转动闭合。
附图说明
[0015]图1为本技术结构示意图；
[0016]图2为本技术一号限位件外部连接侧视结构示意图；
[0017]图3为本技术二号限位件外部连接结构示意图；
[0018]图4为本技术一号限位件与二号限位件连接状态结构示意图。
[0019]图5为本技术一号限位件与二号限位件分拆状态结构示意图；
[0020]图中：1、检测设备本体；2、箱门；3、一号限位件；4、二号限位件；5、一号限位钩杆；6、连接块；7、一号限位磁吸块；8、二号限位钩杆；9、转动片；10、转动轴；11、牵拉块；12、弹簧；13、提拉环；14、二号限位磁吸块。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
实施例
[0022]请参阅图1
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5，本技术提供以下技术方案：一种非晶磁环生产用检测设备，包括检测设备本体1，检测设备本体1的一侧上端左右两侧均设有箱门2，箱门2的底端一侧设有一号限位件3，检测设备本体1的一侧上端位于箱门2的一侧设有二号限位件4，一号限位件3包括一号限位钩杆5、连接块6和一号限位磁吸块7，一号限位钩杆5的上端一侧固定连接有连接块6，一号限位钩杆5的底端一侧固定连接有一号限位磁吸块7，二号限位件4包括二号限位钩杆8、转动片9、转动轴10、牵拉块11、弹簧12、提拉环13和二号限位磁吸块14，二号
限位钩杆8的上端一侧固定连接有二号限位磁吸块14，连接块6的底端一侧一体成型有提拉环13，二号限位钩杆8的底端另一侧一体成型连接的有牵拉块11，且牵拉块11的上端设有弹簧12，二号限位钩杆8的尾端一体成型有转动片9，且转动片9内部转动连接有转动轴10。
[0023]本实施方案中，检测设备本体1在转动打开之后，通过一号限位件3中的一号限位钩杆5与二号限位件4中的二号限位钩杆8相互卡合进行限位，并进一步通过一号限位件3中的一号限位磁吸块7与二号限位件4中的提拉环13相互吸合进行进一步的限位，从而使得相互接触的一号限位件3与二号限位件4不易活动脱离，进而便于箱门2转动打开之后的限位固定，箱门2不易回转复位。
[0024]具体的，一号限位件3和二号限位件4均呈对称分布，一号限位钩杆5和二号限位钩杆8均为L形结构且均为弧形结构，一号限位磁吸块7与二号限位磁吸块14均为磁性构件且均为梯形结构。
[0025]本实施例中，圆形结构的连接块6为连接件，用于一号限位钩杆5与箱门2之间的固定连接，使得一号限位钩杆5的端部与箱门2的接触面积相对较宽。
[0026]具体的，连接块6与一号限位钩杆5相互垂直且与箱门2固定连接。
[0027]本实施例中，通过提拉环13便于一号限位磁吸块7的向下提拉，从而使得一号限位钩杆5与二号限位钩杆8相互脱离分离，且一号限位磁吸块7与二号限位磁吸块14相互脱离分离分离，进而便于一号限位件3相对二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非晶磁环生产用检测设备，其特征在于：包括检测设备本体（1），所述检测设备本体（1）的一侧上端左右两侧均设有箱门（2），所述箱门（2）的底端一侧设有一号限位件（3），所述检测设备本体（1）的一侧上端位于箱门（2）的一侧设有二号限位件（4），所述一号限位件（3）包括一号限位钩杆（5）、连接块（6）和一号限位磁吸块（7），所述一号限位钩杆（5）的上端一侧固定连接有连接块（6），所述一号限位钩杆（5）的底端一侧固定连接有一号限位磁吸块（7），所述二号限位件（4）包括二号限位钩杆（8）、转动片（9）、转动轴（10）、牵拉块（11）、弹簧（12）、提拉环（13）和二号限位磁吸块（14），所述二号限位钩杆（8）的上端一侧固定连接有二号限位磁吸块（14），所述连接块（6）的底端一侧一体成型有提拉环（13），所述二号限位钩杆（8）的底端另一侧一体成型连接的有牵拉块（11），且所述牵拉块（11）的上端设有弹簧（12），所述二号限位钩杆（8）的尾端一体成型有转动片（...

【专利技术属性】
技术研发人员：文志良，文江，文峰，刘碧清，
申请(专利权)人：深圳市创盈非晶新材料技术有限公司，
类型：新型
国别省市：