显示面板以及电子设备制造技术

本申请公开了一种显示面板以及电子设备，所述显示面板中，测试电路具有信号传输线，所述信号传输线电连接触控信号线，所述信号传输线还与数据线通过连接走线电连接。这样，在测试阶段，可以通过所述信号线传输线为所述数据线输入测试信号，通过所述信号传输线实现面板测试，在非测试阶段，所述连接走线与所述测试电路断路，所述信号传输线输出所述触控电极检测的触控信号，通过所述信号传输线实现触控检测，可见所述测试电路中的信号传输线即可以用于面板测试，又可以用于触控检测，降低了走线数量。所述电子设备采用上述显示面板，能够降低走线数量，便于实现窄边框设计以及全面屏设计。

【技术实现步骤摘要】
显示面板以及电子设备
本申请涉及电子设备
，更具体的说，涉及一种显示面板以及电子设备。
技术介绍
随着科学技术的不断进步，越来越多的具有显示功能的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。电子设备实现显示功能的主要部件是显示面板，随着电子设备功能的不断强大，要求显示面板不仅仅具有图像显示功能，还需要集成其他功能，如集成触控电极具有触控检测功能等，导致显示面板需要具有更多的走线，不便于窄边框设计与全面屏设计。
技术实现思路
有鉴于此，本申请提供了一种显示面板以及电子设备，方案如下：一种显示面板，所述显示面板具有显示区以及边框区，显示面板包括：设置在显示区的多个子像素，子像素与数据线电连接；位于显示区的触控电极；与触控电极电连接的触控信号线；设置在边框区的测试电路；测试电路包括信号传输线，信号传输线电连接触控信号线；连接走线，连接走线与数据线一一对应，在测试阶段，信号传输线与数据线之间通过连接走线连通，信号传输线为数据线输入测试信号，在非测试阶段，连接走线与测试电路断路，信号传输线输出触控电极检测的触控信号。本申请技术方案提供的显示面板中，测试电路具有信号传输线，信号传输线电连接触控信号线，信号传输线还与数据线通过连接走线电连接。这样，在测试阶段，可以通过信号线传输线为数据线输入测试信号，通过信号传输线实现面板测试，在非测试阶段，连接走线与测试电路断路，信号传输线输出触控电极检测的触控信号，通过信号传输线实现触控检测，可见测试电路中的信号传输线即可以用于面板测试，又可以用于触控检测，降低了走线数量。本申请还提供了一种电子设备，电子设备包括上述显示面板。本申请技术方案提供的电子设备采用上述显示面板，能够降低走线数量，便于实现窄边框设计以及全面屏设计。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。图1为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图2为本申请实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；图3为本申请实施例提供的一种测试电路的结构示意图；图4为图3所示测试电路中选通电路单元的结构示意图；图5为本申请实施例提供的显示面板中显示阵列的示意图；图6为本申请实施例提供的另一种测试电路的结构示意图；图7为本申请实施例提供的显示面板中信号传输线的排布方式示意图；图8为本申请实施例提供的显示面板中开关信号线的排布方式示意图；图9为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图10为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图11为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图12为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请中的实施例进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。现有显示面板中，测试电路仅用于出厂前的面板测试，用于测试是否存在数据线断路或是不能正常显示的子像素，测试电路需要设置单独的走线以及选通电路与数据线电连接。而触控电极的触控信号线也需要设置单独的走线以及选通电路，导致面板中信号线以及选通电路的数量多，需要占用较多的台阶面积。为了解决上述问题，本申请实施例提供的显示面板以及电子设备中，设计触控走线复用测试电路的信号传输线，从而无需单独为触控走线设置走线以及选通电路，降低了走线数量以及选通电路数量，便于电子设备窄边框和全面屏设计。为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图，所示显示面板100具有显示区AA以及边框区BB，显示面板包括：设置在显示区AA的多个子像素P，子像素P与数据线DATA电连接；位于显示区AA的触控电极200；与触控电极200电连接的触控信号线TP；设置在边框区BB的测试电路11；测试电路11包括信号传输线TPX，信号传输线TPX电连接触控信号线TP；连接走线13，连接走线13与数据线DATA一一对应，在测试阶段，信号传输线TPX与数据线DATA之间通过连接走线13连通，信号传输线TPX为数据线DATA输入测试信号，在非测试阶段，连接走线13与测试电路11断路，信号传输线TPX输出触控电极检测的触控信号。需要说明的是，图1中仅是示出了一个触控电极200，显示面板具有多个触控电极200，多个触控电极200阵列排布，本申请对触控电极200的具体数量以及排布方式不做限定。触控电极200与触控信号线TP不同层，二者之间可以通过过孔连接，为了降低连接阻抗，触控电极200与电连接的触控信号线TP之间可以通过多个过孔连接，图1中未示出过孔。可以单独在显示面板中增加金属层，用于制作触控电极200，也可以复用显示面板中已有金属层作为触控电极200。例如，当显示面板为LCD面板时，可以复用公共电极作为触控电极200，当显示面板为OLED面板时，OLED子像素需要通过封装层封装保护，封装层的背离OLED子像素的一侧增加金属层，用于形成触控电极200。本申请实施例中，对触控电极200的实现方式不做具体限定。其中，数据线DATA可以与位于边框区BB的显示控制芯片14电连接，在非测试阶段，显示控制芯片14通过数据线DATA为子像素P提供数据信号，以实现子像素P的发光显示。本申请技术方案提供的显示面板中，在测试阶段，测试电路11的信号传输线TPX不仅能够通过连接走线13为数据线DATA提供测试信号，实现面板测试(如VT测试)，可以基于输入的测试信号时显示面板的显示图像，测试是否存在数据线DATA断路或是坏点子像素P，在非测试阶段，信号传输线TPX还能够通过触控信号线TP获取并输出触控电极200检测的触控信号到触控芯片，触控芯片基于触控信号实现触控检测。可见，测试电路11中的信号传输线TPX即可以用于面板测试，又可以用于触控检测，降低了走线数量。本申请技术方案中，可以在测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区以及边框区，所述显示面板包括：/n设置在所述显示区的多个子像素，所述子像素与数据线电连接；/n位于所述显示区的触控电极；/n与所述触控电极电连接的触控信号线；/n设置在所述边框区的测试电路；所述测试电路包括信号传输线，所述信号传输线电连接所述触控信号线；/n连接走线，所述连接走线与所述数据线一一对应，在测试阶段，所述信号传输线与所述数据线之间通过所述连接走线连通，所述信号传输线为所述数据线输入测试信号，在非测试阶段，所述连接走线与所述测试电路断路，所述信号传输线输出所述触控电极检测的触控信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区以及边框区，所述显示面板包括：
设置在所述显示区的多个子像素，所述子像素与数据线电连接；
位于所述显示区的触控电极；
与所述触控电极电连接的触控信号线；
设置在所述边框区的测试电路；所述测试电路包括信号传输线，所述信号传输线电连接所述触控信号线；
连接走线，所述连接走线与所述数据线一一对应，在测试阶段，所述信号传输线与所述数据线之间通过所述连接走线连通，所述信号传输线为所述数据线输入测试信号，在非测试阶段，所述连接走线与所述测试电路断路，所述信号传输线输出所述触控电极检测的触控信号。


2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路具有多个第一选通晶体管，具有栅极、第一电极和第二电极；所述测试电路还具有开关信号线；所述第一选通晶体管的栅极电连接所述开关信号线，所述第一选通晶体管的第一电极与所述触控信号线电连接，且通过所述连接走线与所对应的数据线电连接，所述第一选通晶体管的第二电极与所述信号传输线电连接。


3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路具有多个选通电路单元，至少部分所述选通电路单元包括多个所述第一选通晶体管；
同一所述选通电路单元中，所述第一选通晶体管电连接相同的所述触控信号线、所述信号传输线和所述开关信号线，所述第一选通晶体管与所述数据线一一对应电连接。


4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述信号传输线用于连接触控芯片；
所述显示面板具有多个所述触控电极，多个所述触控电极至少包括第一触控电极和第二触控电极，所述第一触控电极到所述触控芯片的距离大于所述第二触控电极到所述触控芯片的距离；
其中，所述第一触控电极所对应连接的所述选通电路单元中所述第一选通晶体管的数量大于所述第二触控电极所对应连接的所述选通电路单元中所述第一选通晶体管的数量。


5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路具有多个选通电路组，所述选通电路组具有多个所述选通电路单元；
同一所述选通电路组中，所述选通电路单元电连接相同的所述信号传输线；不同所述选通电路组中的所述选通电路单元，电连接不同所述信号传输线。


6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，每个所述选通电路组包括Y个所述选通电路单元，Y为大于1的正整数；同一所述选通电路组中，所述选通电路单元分别对应连接一条所述开关信号线，所述选通电路组均电连接Y条所述开关信号线，且各个所述选通电路组电连接相同的Y条所述开关信号线。


7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路具有N个所述选通电路组，N为大于1的正整数；所述选通电路组中的所述选通电路单元的排列延伸方向为第一方向；...

【专利技术属性】
技术研发人员：冷传利，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31