一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺制造技术

技术编号:29131829 阅读:30 留言:0更新日期:2021-07-02 22:26
本发明专利技术涉及一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺,将已经设计的图形采用软件处理生成黑白二值的位图图像,接着传入DMD,利用DMD的特性使紫外光对应位图图像的部分反射,黑色区域不会反射紫外光,白色区域反射紫外光,使样品得到正确的曝光,完成光刻。本发明专利技术能实现高效的光刻,提高工作效率的同时,还能提高精确性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺
本专利技术涉及一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺。
技术介绍
当代集成电路的发展进程中,紫外光刻技术起着不可替代的作用。利用紫外光源对紫外敏感的光刻胶进行空间选择性的曝光,进而将设计好电路版图转移到硅片上形成集成电路,这一工艺就是紫外光刻技术。光刻机的分辨率和套刻精度直接决定了所制造的集成电路的集成度,也成为了评价光刻设备品质的关键指标。常规光刻机需要定制光学掩模板,不但价格高,且灵活性差。任何设计上的变动,都需要重新制造掩模板。激光直写设备具备很高的灵活性,且可以达到较高的精度,但由于是逐行扫描,曝光效率较低。近些年,基于空间光调制器(DMD/DLP)的技术在紫外曝光方面获得了长足的进展。传统使用掩膜版进行光刻需要首先设计版图,进而送去加工,周期比较长,设计细节需要反复的推敲,而激光直写光刻需要逐行扫描,且设备较昂贵。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本专利技术的目的是提供一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺。为实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:...

【技术保护点】
1.一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺,其特征在于:将已经设计的图形采用软件处理生成黑白二值的位图图像,接着传入DMD,利用DMD的特性使紫外光对应位图图像的部分反射,黑色区域不会反射紫外光,白色区域反射紫外光,使样品得到正确的曝光,完成光刻。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺,其特征在于:将已经设计的图形采用软件处理生成黑白二值的位图图像,接着传入DMD,利用DMD的特性使紫外光对应位图图像的部分反射,黑色区域不会反射紫外光,白色区域反射紫外光,使样品得到正确的曝光,完成光刻。


2.根据权利要求1所述的一种基于无掩膜光刻机的数字掩膜版工艺...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯捷吴阳严振中刘威
申请(专利权)人:赫智科技苏州有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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