一种新型APD校正算法制造技术

本发明专利技术公开了一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理；所述步骤一中，通过恒温箱稳定模块温度并提供常低高温调试环境，所述步骤三中，直流电源为光源模块与待测模块供电，通过电调衰减器控制输入被测模块功率，通过BERT模型提供高频信号并提供误码率数据，所述步骤四中，通过PC机控制衰减器、调节APD偏压及读取BERT误码率；该发明专利技术安全、可靠，使用此校正方法，是为了减少了高低温下多次查找误码率的时间，直接查找VBR值效率高；且通过该校正方法，可以将偏差控制在0.2V以内，此偏差对APD的性能影响非常小。

【技术实现步骤摘要】
一种新型APD校正算法
本专利技术涉及APD校正算法
，具体为一种新型APD校正算法。
技术介绍
雪崩二极管，是光接收器件，主要作用是检测经过传输的弱光信号转换为电信号，其工作原理是雪崩光电二极管吸收光子会产生电子-空穴对，在高反偏电压产生的强电场作用下电子-空穴对被加速，从而获得足够的能量，然后与晶格发生碰撞，形成连锁效应，结果形成大量的电子-空穴对，引发雪崩现象，电流成指数增长；所以APD工作条件是需要有一定的反向偏压才能产生相应的倍增效应，而APD也存在击穿电压，当Vapd=VBR时，此时雪崩增益无穷大，同时雪崩噪声也变得非常大，这种情况视为APD击穿，当然使用时必须Vapd<VBR；无论是VBR值还是还是最佳Vapd值都是随温度变化而变化，而VBR值与Vapd的变化趋势相近，只是截距相差较大；因此，现阶段需要专利技术出一种新型APD校正算法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种新型APD校正算法，以解决上述
技术介绍
中提出测试校正耗时和误差比较大的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理；其中在上述步骤一中，打开PC机和恒温箱，并打开配套APD校正的控制软件和BERT模型，检查设备，保证各个设备和软件都处于正常工作状态；其中在上述步骤二中，将需要测试校正的雪崩光电二极管器件被测模块插入到测试板上，并保证插入的稳定性；其中在上述步骤三中，将电调衰减器输出端光纤跳线插入雪崩光电二极管器件被测模块，并将BERT模型的输入端插入到测试板上，将BERT模型的输出端插入到PC机上，然后接通直流电源；其中在上述步骤四中，点击APD校正软件，由软件自动完成APD偏压校正；其中在上述步骤五中，进行三温校正模块校正完成后，拔下雪崩光电二极管器件被测模块和电调衰减器输出端上的光纤跳线，完成测试校正结束后的整理工作。优选的，所述步骤一中，通过恒温箱稳定模块温度并提供常低高温调试环境。优选的，所述步骤二中，测试板为光源与被测模块供电。优选的，所述步骤三中，直流电源为光源模块与待测模块供电，通过电调衰减器控制输入被测模块功率，通过BERT模型提供高频信号并提供误码率数据。优选的，所述步骤四中，通过PC机控制衰减器、调节APD偏压及读取BERT误码率。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：该专利技术安全、可靠，使用此校正方法，是为了减少了高低温下多次查找误码率的时间，直接查找VBR值效率高；且通过该校正方法，可以将偏差控制在0.2V以内，此偏差对APD的性能影响非常小。附图说明图1为本专利技术的温度-偏压实验示意图；图2为本专利技术的校正系统示意图；图3为本专利技术的方法流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3，本专利技术提供的一种实施例：一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理；其中在上述步骤一中，打开PC机和恒温箱，并打开配套APD校正的控制软件和BERT模型，检查设备，保证各个设备和软件都处于正常工作状态，通过恒温箱稳定模块温度并提供常低高温调试环境；其中在上述步骤二中，将需要测试校正的雪崩光电二极管器件被测模块插入到测试板上，并保证插入的稳定性，通过测试板为光源与被测模块供电；其中在上述步骤三中，将电调衰减器输出端光纤跳线插入雪崩光电二极管器件被测模块，并将BERT模型的输入端插入到测试板上，将BERT模型的输出端插入到PC机上，然后接通直流电源，直流电源为光源模块与待测模块供电，通过电调衰减器控制输入被测模块功率，通过BERT模型提供高频信号并提供误码率数据；其中在上述步骤四中，点击APD校正软件，由软件自动完成APD偏压校正，通过PC机控制衰减器、调节APD偏压及读取BERT误码率；其中在上述步骤五中，进行三温校正模块校正完成后，拔下雪崩光电二极管器件被测模块和电调衰减器输出端上的光纤跳线，完成测试校正结束后的整理工作。基于上述，本专利技术的优点在于，该专利技术使用时，根据实验数据△Vapd≈△Vapd1≈△Vapd2，其误差比较小，如果模块设计APDDAC是8位字节，APD驱动芯片电压最大值是50V，则偏差可以控制在0.2V以内，此偏差对APD的性能影响非常小，如图1。对于本领域技术人员而言，显然本专利技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本专利技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本专利技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本专利技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本专利技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理，其特征在于：/n其中在上述步骤一中，打开PC机和恒温箱，并打开配套APD校正的控制软件和BERT模型，检查设备，保证各个设备和软件都处于正常工作状态；/n其中在上述步骤二中，将需要测试校正的雪崩光电二极管器件被测模块插入到测试板上，并保证插入的稳定性；/n其中在上述步骤三中，将电调衰减器输出端光纤跳线插入雪崩光电二极管器件被测模块，并将BERT模型的输入端插入到测试板上，将BERT模型的输出端插入到PC机上，然后接通直流电源；/n其中在上述步骤四中，点击APD校正软件，由软件自动完成APD偏压校正；/n其中在上述步骤五中，进行三温校正模块校正完成后，拔下雪崩光电二极管器件被测模块和电调衰减器输出端上的光纤跳线，完成测试校正结束后的整理工作。/n

【技术特征摘要】
1.一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理，其特征在于：
其中在上述步骤一中，打开PC机和恒温箱，并打开配套APD校正的控制软件和BERT模型，检查设备，保证各个设备和软件都处于正常工作状态；
其中在上述步骤二中，将需要测试校正的雪崩光电二极管器件被测模块插入到测试板上，并保证插入的稳定性；
其中在上述步骤三中，将电调衰减器输出端光纤跳线插入雪崩光电二极管器件被测模块，并将BERT模型的输入端插入到测试板上，将BERT模型的输出端插入到PC机上，然后接通直流电源；
其中在上述步骤四中，点击APD校正软件，由软件自动完成APD偏压校正；
其中在上述步骤五中，进行三温校正模块校正完成后，拔下...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟海峰，周永华，付德康，龚国星，
申请(专利权)人：南通中瑞通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32