一种嵌入式设备制造技术

一种嵌入式设备，所述嵌入式设备包括：电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；FLASH存储器，用于数据存储与数据擦除；MCU，耦接所述电压检测电路，如果所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值时，所述FLASH存储器正在执行擦除操作，那么所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。通过本实用新型专利技术提供的技术方案，可以有效降低FLASH存储器中被擦除扇区的相邻扇区数据出现异常风险，进而可以使得系统在后续过程中正常启动。

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式设备
本技术涉及存储器
，具体地涉及一种嵌入式设备。
技术介绍
在嵌入式硬件设备系统中，系统电源处于掉电状态时，微控制单元(MicroprogrammedControlUnit，MCU)可能正在进行闪存(FLASH)存储器擦除操作。如果擦除操作未完成，但FLASH存储器电源已经下电，那么可能导致FLASH存储器中被擦除扇区的相邻扇区出现异常，数据丢失。在重启系统电源之后，FLASH存储器数据也可能仍然处于异常状态，甚至会导致系统无法正常启动。现有技术中缺乏FLASH存储器提供掉电擦除保护机制。一种直观方案是在每次上电之后，对之前FLASH存储器下电时正被擦除的扇区执行擦除操作，以避免相邻删除出现异常。然而，执行该擦除操作需要记录并找到掉电前正被擦除的扇区，且操作流程复杂，繁琐。因而，现有的设备需要改进。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是如何改进嵌入式设备，以优化FLASH存储器掉电擦除过程。为解决上述技术问题，本技术实施例提供一种嵌入式设备，包括：电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；FLASH存储器，用于数据存储与数据擦除；MCU，耦接所述电压检测电路，如果所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值时，所述FLASH存储器正在执行擦除操作，那么所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。可选的，所述嵌入式设备还包括：时序电路，用于控制所述系统电源、FLASH存储器电源和MCU电源的下电时序，以使所述系统电源先于所述FLASH存储器电源和MCU电源跌落；其中，所述FLASH存储器由所述FLASH存储器电源供电，所述MCU由所述MCU电源供电。可选的，所述时序电路包括：第一延时电路，用于控制所述系统电源先于所述MCU电源下电；第二延时电路，用于控制所述MCU电源先于所述FLASH存储器电源下电；其中，所述第一延时电路的输出信号早于所述第二延时电路的输出信号。可选的，所述时序电路选自：硬件延时电路、软件延时电路。可选的，所述电压检测电路包括：分压模块，用于对所述系统电源的电压进行分压；检测模块，包括硬件比较器或程序控制单元，用于检测分压电压是否低于所述预设基准掉电阈值。可选的，所述检测模块包括：硬件比较器或程序控制单元。可选的，所述FLASH存储器由FLASH存储器电源供电，所述MCU由MCU电源供电。与现有技术相比，本技术实施例的技术方案具有以下有益效果：本技术实施例提供一种嵌入式设备，包括：电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；FLASH存储器，用于数据存储与数据擦除；MCU，耦接所述电压检测电路，如果所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值时，所述FLASH存储器正在执行擦除操作，那么所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。本技术实施例提供的嵌入式设备可以基于电压检测电路的检测结果，使得MCU控制下电时正在执行擦除操作的FLASH存储器启动擦除保护操作，从而可以有效降低FLASH存储器中被擦除扇区的相邻扇区数据出现异常风险，进而可以使得系统在后续过程中正常启动。本技术实施例提供的技术方案，可以解决嵌入式设备缺少掉电保护的问题，达到实现终端掉电保护的效果。该技术方案可以有效保证FLASH存储器掉电擦除的完整性，尽量杜绝FLASH数据异常。进一步，所述嵌入式设备还包括：时序电路，用于控制所述系统电源、FLASH存储器电源和MCU电源的下电时序，以使所述系统电源先于所述FLASH存储器电源和MCU电源跌落；其中，所述FLASH存储器由所述FLASH存储器电源供电，所述MCU由所述MCU电源供电。本技术实施例提供的时序电路可以保证系统电源先于MCU电源和FLASH存储器电源跌落，从而保证MCU能正确检测到系统掉电信号，且可以在FLASH存储器掉电之前启动保护措施。附图说明图1是本技术实施例的一种嵌入式设备的结构示意图；图2是本技术实施例的一种检测模块的结构示意图；图3是本技术实施例的又一种嵌入式设备的结构示意图；图4是本技术实施例的一种电源时序示意图。具体实施方式如
技术介绍
所言，系统电源存在随时断电的可能性，系统电源掉电时，FLASH存储器有可能正在进行FLASH擦除操作。由于FLASH存储器工艺决定了相邻扇区共用编程资源，会出现FLASH存储器被擦除扇区的相邻扇区出现异常，导致数据丢失，现有技术方案缺乏FLASH存储器掉电擦除保护机制。本技术实施例提供一种嵌入式设备，包括：电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；FLASH存储器，用于数据存储与数据擦除；MCU，耦接所述电压检测电路，如果所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值时，所述FLASH存储器正在执行擦除操作，那么所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。本技术实施例提供的嵌入式设备可以基于电压检测电路的检测结果，使得MCU控制下电时正在执行擦除操作的FLASH存储器启动擦除保护操作，从而可以有效降低FLASH存储器中被擦除扇区的相邻扇区数据出现异常风险，进而可以使得系统在后续过程中正常启动。本技术实施例提供的技术方案，可以解决嵌入式设备缺少掉电保护的问题，达到实现终端掉电保护的效果。为使本技术的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。本文中的微控制单元MCU，可以理解为硬件比较器的单片微型计算机(SingleChipMicrocomputer)或者单片机，是把中央处理器(CentralProcessUnit，CPU)的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器(Timer)、USB、模数(A/D)转换、通用异步收发传输器(UART)、可编程逻辑控制器(ProgrammableLogicController，PLC)、直接存储器访问(DirectMemoryAccess，DMA)等周边接口，甚至液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，适于为不同的应用场合做不同组合控制。本文中的FLASH存储器可以简称为FLASH，属于内存器件的一种，是一种非易失性(Non-Volatile)内存。通常情况下，掉电不会丢失数据。图1是本技术实施例的一种嵌入式设备的结构示意图。参考图1，所述嵌入式设备100可以包括：电压检测电路101、FLASH存储器102和MCU103。其中，所述电压检测电路101用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值。所述FLASH存储器102用于数据存储与数据擦除。所述MCU103耦接所述电压检测电路101，如果所述电压检测电路101检测到所述系统电源电压值低于预设基准掉电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种嵌入式设备，其特征在于，包括：/n电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；/nFLASH存储器，用于数据存储与数据写入或擦除；/nMCU，耦接所述电压检测电路，当所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值，且所述FLASH存储器正在执行擦除操作时，所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。/n

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备，其特征在于，包括：
电压检测电路，用于检测系统电源的电压值是否低于预设基准掉电阈值；
FLASH存储器，用于数据存储与数据写入或擦除；
MCU，耦接所述电压检测电路，当所述电压检测电路检测到所述系统电源的电压值低于预设基准掉电阈值，且所述FLASH存储器正在执行擦除操作时，所述MCU控制所述FLASH存储器启动擦除保护操作。


2.根据权利要求1所述的嵌入式设备，其特征在于，还包括：
时序电路，用于控制所述系统电源、FLASH存储器电源和MCU电源的下电时序，以使所述系统电源先于所述FLASH存储器电源和MCU电源跌落；
其中，所述FLASH存储器由所述FLASH存储器电源供电，所述MCU由所述MCU电源供电。


3.根据权利要求2所述的嵌入式设备，其特征在于，所述时序电路包括：
第一延时电路，用于控制所述系统电源先...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲁赛军，蒋琛，陈晓鑫，韦献康，
申请(专利权)人：上海商米科技集团股份有限公司，广东川田科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31