【技术实现步骤摘要】
天线自动测试设备
[0001]本专利技术涉及自动化设备领域,特别涉及天线自动测试设备。
技术介绍
[0002]天线在生产完成后需要进行RF电磁频率测试和ICT测试电气功能测试,目前在进行此两种测试是,需要人工分别拿取产品到上述两种设备上上料,并通过设备出的测试结果,进行人工上下料,此种方式人工强度大,效率低。
技术实现思路
[0003]本专利技术解决的技术问题是提供一种能实现自动上下料的天线自动测试设备。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:天线自动测试设备,包括机架,所述机架上依次设置有料盘上料机构、天线产品折弯机构、上料位产品错位翻转机构、用于摆放折弯下料产品的半检料盘机构、用于对天线进行RF测试的RF测试机构、用于摆放RF测试后产品的RF测试料盘机构、对产品进行翻转的二次错位翻转机构、对产品进行ICT测试的ICT测试机构,用于放置测试后产品的的ICT测试料盘;
[0005]所述机架上还设置有将料盘上料机构内的料运送至天线产品折弯机构处的上料搬运机构、将天线产品折弯机构处的产品运送至上料位产品错位翻转机构处的折弯机下料机构、用于将上料位产品错位翻转机构处的产品送至半检料盘机构处和将半检料盘机构处的产品放至RF测试机构上的第一机械手机构、用于将RF测试机构处的产品送至RF测试料盘机构处或二次错位翻转处的的RF下料机械手、将二次错位翻转机构处的产品送至ICT测试机构,并从ICT测试机构内将产品送至ICT测试料盘处的ICT上下料机械手;
[0006]还包括用于 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.天线自动测试设备,包括机架(1),其特征在于:所述机架(1)上依次设置有料盘上料机构(4)、天线产品折弯机构(5)、上料位产品错位翻转机构(7)、用于摆放折弯下料产品的半检料盘机构(9)、用于对天线进行RF测试的RF测试机构(10)、用于摆放RF测试后产品的RF测试料盘机构(12)、对产品进行翻转的二次错位翻转机构(13)、对产品进行ICT测试的ICT测试机构(15),用于放置测试后产品的的ICT测试料盘(16);所述机架(1)上还设置有将料盘上料机构(4)内的料运送至天线产品折弯机构(5)处的上料搬运机构(3)、将天线产品折弯机构(5)处的产品运送至上料位产品错位翻转机构(7)处的折弯机下料机构(6)、用于将上料位产品错位翻转机构(7)处的产品送至半检料盘机构(9)处和将半检料盘机构(9)处的产品放至RF测试机构(10)上的第一机械手机构(8)、用于将RF测试机构(10)处的产品送至RF测试料盘机构(12)处或二次错位翻转处的的RF下料机械手(11)、将二次错位翻转机构(13)处的产品送至ICT测试机构(15),并从ICT测试机构(15)内将产品送至ICT测试料盘(16)处的ICT上下料机械手(14);还包括用于控制上述各机构的人机界面盒(2)。2.如权利要求1所述的天线自动测试设备,其特征在于:所述上料搬运机构(3)包括安装在机架(1)上的X轴搬运模组(301)、所述X轴搬运模组(301)上设置有Y轴搬运模组(302),所述Y轴搬运模组(302)上设置有Z轴搬运模组(303),所述Z轴搬运模组(303)上设置有抓料机构和抓料盘机构(307),所述抓料机构包括旋转驱动机构(304)和设置在旋转驱动机构(304)驱动轴上的第一吸取机构(305),所述抓料盘机构(307)包括上下驱动气缸和设置在上下驱动气缸上的料盘抓取件;所述X轴搬运模组(301)一侧还设置有第一CCD视觉引导机构(306)。3.如权利要求1所述的天线自动测试设备,其特征在于:所述料盘上料机构(4)包括料盘上料架,所述料盘上料架包括支架(406),还包括可穿过支架(406)的料盘托架(405)和驱动料盘托架(405)上下运动的料盘上下移动模组(401),所述支架(406)上设置有多个用于检测料盘的光纤传感器(402)和驱动光纤传感器(402)伸出的传感器驱动气缸,所述支架(406)两侧均设置有用于对料盘托架(405)和料盘分离的托盘分离机构(403)和用于对料盘定位的料盘定位机构(404);所述托盘分离机构(403)包括分离板和驱动分离板伸出的分离板驱动气缸,所述料盘定位机构(404)包括可伸入料盘侧边孔内的定位板和驱动定位板伸出的定位板驱动气缸。4.如权利要求1所述的天线自动测试设备,其特征在于:所述折弯机下料机构(6)包括第二吸取机构(603),还包括用于驱动第二吸取机构(603)做升降运动的第一升降驱动气缸(602)和驱动第二吸取机构(603)做水平运动的第一水平驱动气缸(601);所述上料位产品错位翻转机构(7)包括第一运料架(701)和位于运料...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘启华,石坚,
申请(专利权)人:扬州京柏自动化科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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