【技术实现步骤摘要】
电磁铁控制电路及其检测方法
[0001]本申请属于电磁铁控制
，具体涉及一种电磁铁控制电路及其检测方法。
技术介绍
[0002]现有的电磁铁控制电路通常采用普通的单回路控制方式，如图1所示，即通过一个开关电路来控制电磁铁线圈的电流大小，这种单回路控制方式存在以下问题：1)当开关电路S1出现短路时，电磁铁将不再受控制，电磁铁线圈中持续有电流，从而导致电磁铁控制电路无法制动，容易烧毁电磁铁；同时，现有的电磁铁控制电路不具备检测其性能好坏的能力，从而当电磁铁控制电路出现故障时无法及时报警；2)现有的电磁铁控制电路无法调整加载在电磁铁两端的电压大小，也就无法适配不同的电磁铁；3)由于现有的电磁铁控制电路与MCU属于相对独立的部分，现有的电磁铁控制电路无法监控MCU的状态，当MCU出现异常时，电磁铁控制电路无法及时切断电磁铁的电流，容易造成危险。
技术实现思路
[0003]为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本申请提供了一种电磁铁控制电路及其检测方法。
[0004]根据本申请实施例的第一方面，本申...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电磁铁控制电路，其特征在于，包括微处理器、第一驱动模块、第一晶体管、第二驱动模块、第二晶体管、电磁铁、第一检测模块和第二检测模块；所述微处理器通过所述第一驱动模块与所述第一晶体管连接，所述第一晶体管、电磁铁和第二晶体管依次串联，所述微处理器通过所述第二驱动模块与所述第二晶体管连接；所述第一晶体管与第一驱动模块连接的一端连接电源VP+；所述第一检测模块的一端连接在所述第一晶体管与电磁铁之间，其另一端与所述微处理器连接；所述第一检测模块用于对所述第一晶体管与电磁铁之间线路上任一点的电压进行检测，检测得到的电压发送给所述微处理器；微处理器根据接收到的第一检测模块检测到的电压和预设的第一电压值判断第一晶体管的性能；所述第二检测模块的一端连接在所述电磁铁与第二晶体管之间，其另一端与所述微处理器连接；所述第二检测模块用于对所述电磁铁与第二晶体管之间线路上任一点的电压进行检测，检测得到的电压发送给所述微处理器；所述微处理器根据接收到的第二检测模块检测到的电压和预设的第二电压值判断第二晶体管的性能。2.根据权利要求1所述的电磁铁控制电路，其特征在于，还包括第三检测模块，所述第三检测模块用于间接检测经过所述电磁铁的电流，所述微处理器根据所述第三检测模块的检测结果判断所述电磁铁的工作状态。3.根据权利要求1或2所述的电磁铁控制电路，其特征在于，还包括监控芯片，所述监控芯片与微处理器连接，其用于监控所述微处理器的工作状态。4.根据权利要求2所述的电磁铁控制电路，其特征在于，所述第一驱动模块包括与门电路和晶体管驱动电路，所述与门电路包括第一三极管、第二三极管、第一电阻和第二电阻，所述晶体管驱动电路包括第三电阻和第四电阻；所述第一晶体管采用P沟道的MOS管；所述微处理器的第一输入输出端口通过所述第一电阻与第一三极管的基极连接，所述微处理器的第二输入输出端口通过所述第二电阻与第二三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极连接所述第二三极管的集电极，所述第二三极管的发射极接地；所述第一三极管的集电极通过所述第三电阻与所述第一晶体管的栅极连接，所述第一晶体管的栅极通过所述第四电阻与电源VP+连接；所述第一晶体管的源极与电源VP+连接，所述第一晶体管的漏极与电磁铁的输入端连接。5.根据权利要求4所述的电磁铁控制电路，其特征在于，所述第二驱动模块包括第五电阻和第六电阻，所述第二晶体管采用N沟道的MOS管，其中，所述微处理器的第三输入输出端口与所述第二晶体管的栅极连接，所述第二晶体管的栅极通过所述第五电阻接地，所述第二晶体管的漏极与电磁铁的输出端连接，所述第二晶体管的源极通过所述第六电阻接地。6.根据权利要求4所述的电磁铁控制电路，其特征在于，所述微处理器的第三输入输出端口输出PWM信号，所述PWM信号通过所述第五电阻控制所述第二晶体管定时导通或截止。7.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨跞，李庚益，程小猛，陈宏伟，许楠，
申请(专利权)人：中科新松有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。