一种用于在电气和/或电子电路上进行测试的工具，适于与测试器或万用表结合使用，所述测试器或万用表设置有探针以检测电路的一个或多个电气和/或电子参数，所述探针具有相应的尖端，所述尖端适于被放置为与待测电路的部件接触，该工具包括：支撑框架(2)，被设计成限定支撑平面(3)，支撑平面(3)用于设置至少一个待测试的电气和/或电子电路；测试器的探针(7)的支撑结构(4)，支撑结构(4)以固定或可调节的方式连接到支撑框架(2)，以被布置在支撑平面(3)上方，并且具有用于一次连接一个或多个探针(7)并将探针(7)设置在支撑平面(3)上方并使相应的尖端(9)且与设置在支撑平面(3)上方的电路接触的装置。电路接触的装置。电路接触的装置。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于在电气和/或电子电路上进行测试的工具和组件
[0001]本专利技术在用于控制电气和/或电子设备的系统的
中得到应用，并且涉及一种用于执行测试的工具，该测试被设计为验证电气和/或电子电路的正确操作。
[0002]本专利技术还涉及一种组件，该组件包括上述工具和多个尖端，该多个尖端适于与该仪器相关联以执行一个或多个电路操作测试。
技术介绍
[0003]众所周知，通常通过可以检测特定参数的专用工具来执行用于检验电气和/或电子电路(例如存在于电子板上的印刷电路)的正确操作的测试。
[0004]最常用的工具是所谓的测试器或万用表，它们使您能够检查电路各个触点之间的电导通性并测量诸如电压和电流强度之类的值以及可能的诸如频率、温度、电容量之类的附加参数，取决于工具的复杂程度和所用探针的类型。
[0005]其他类型的工具，例如电压表、电流表、欧姆表，也允许检测单个参数。
[0006]上述模拟或数字类型的工具的特征均在于存在适合于接近电路的各个触点以检查电连续性或根据可能因工具而异的形式获得所选参数的特定量度的尖端或探针的存在。
[0007]已知解决方案的第一个缺点是上述工具要求用户不断地支撑尖端或探针，以使它们与电路的各部分保持接触。
[0008]该操作模式除了由于需要操作者不断出现而特别不便外，还可能导致读数错误，因为尽管感觉操作正确，操作者仍可能无法正确或以正确的强度施加尖端。
[0009]其次，手动支撑尖端的需求也不允许一次应用多于一对的尖端，以在不同的触点对上获得更多的读数。
[0010]最后但并非最不重要的一点是，探针不允许调节和稳定在电路的用于获取电或电子信号的部件上的接触力。
技术实现思路
[0011]本专利技术的目的是通过提供一种工具来克服上述缺点，该工具用于在电气和/或电子电路上执行测试，该工具不需要尖端、探针或其他被设计成与电路的部分相接触以用于检测一个或多个电气和/或电子特征且在测试过程中必须由操作员不断支撑的装置。
[0012]一个特定的目的是提供一种用于在电气和/或电子电路上进行测试的工具，该工具允许始终正确地以适当的强度施加尖端、探针或等效装置，以确保与待测电路的部分接触。
[0013]另一个目的是提供一种用于在电气和/或电子电路上执行测试的工具，该工具允许在电路的不同元件上同时执行甚至更多的测试。
[0014]另一个目的是提供一种用于对电气和/或电子电路进行测试的工具，其特征在于高效率和易于使用。
[0015]另一个目的是提供一种用于在电气和/或电子电路上进行测试的组件，该组件允
许调节和稳定接触尖端在其采集电气或电子信号的电路部件上的保持力。
[0016]这些目的以及下文中将变得更加明显的其他目的是通过一种用于对电气和/或电子电路进行测试的工具实现的，根据独立权利要求所述，该工具包括支撑框架和用于探针的支撑结构，支撑框架适于限定支撑平面，支撑平面用于定位在其上执行测试的至少一个电气和/或电子电路，支撑结构以固定或可调节的方式连接到支撑框架，以被布置在支撑平面上方，并且具有用于一次连接一个或多个尖端并且将它们定位在支撑平面上且与布置在支撑平面上的电路接触的装置。
[0017]由于这些特征的组合，探针可以放置成与电路的各个部分接触并保持在适当的位置，而无需操作员手动支撑它们。
[0018]此外，将有可能同时应用多于一对的探针，因为它们都将通过支撑结构保持在适当的位置，以便即使每个探针都彼此相同，也能够检测与电路相关的更多参数。
[0019]根据从属权利要求获得本专利技术的有利实施例。
附图说明
[0020]根据对根据本专利技术的探针和组件的优选但非排他性实施例的详细描述，本专利技术的其他特征和优点将变得更加明显，所述工具和组件借助于所附图表作为非限制性示例示出，其中：
[0021]图1是本专利技术的组件的透视图，该组件包括根据本专利技术的工具和一对探针；
[0022]图2是图1的组件的俯视图；
[0023]图3是图1的工具的细节的放大透视图；
[0024]图4是适于与图3的工具一起使用的探针的透视图；
[0025]图5是图4的探针的主视图；
[0026]图6是图4的探针的剖视图；
[0027]图7是图4的探针的第一细节的放大透视图；
[0028]图8是图4的探针的第二细节的放大透视图。
具体实施方式
[0029]图1示出了的用于对电路和/或电子电路进行测试的组件(总体上以100示出)的优选实施例。
[0030]组件100基本上包括多个探针，这些探针被设计成连接到用于已知类型的被检测参数的测量和读取仪器(因此未示出)，并连接到根据本专利技术的工具上，该工具具有以下目的：在测量过程中将探针固定在适当的位置。
[0031]组件可以测量或验证的电气和/或电子参数的类型将取决于所使用的测试器或万用表的类型以及相关的探针，而没有特别的理论限制。
[0032]通过非限制性示例，借助于根据本专利技术的组件100，或者借助于工具和已知类型的探针的组合使用，将有可能检查电路的一个或多个部分的电连续性，以便控制电路的完整性，或测量电阻、电压、电容或其他电气或物理参数，或验证被测电子电路中数据的正确传输。
[0033]电路的类型不是本专利技术的限制，尽管优选地，该电路可以是具有卡或其他支撑物
的印刷电路，例如PCB。
[0034]在其最基本的构造中，根据本专利技术的工具(总体上用1表示)包括支撑框架2，支撑框架2具有支撑平面3，支撑平面3用于定位至少一个将在上面执行测试的电气和/或电子电路(由于已知而本身未示出)。
[0035]优选地，支撑平面3将设置有抗静电架，待测电路放置在该抗静电架上，并且该抗静电架可以相对于支撑框架2固定或分离或适于被分离。
[0036]可替代地，也可以不存在支撑平面3，并且在这种情况下，电路可以布置在操作者提供的并且探针将在其上方操作的任何其他水平支撑件上。
[0037]框架2被紧固到测试器探针的支撑结构4，支撑结构4可以以固定或可调节的方式连接到支撑框架2以被布置在支撑表面3上方，从而能够调节探针的高度。
[0038]支撑结构4设有用于一次连接一个或多个探针并且将其定位在支撑平面3上方的一定高度的装置，该高度允许尖端与布置在支撑平面3上的电路的部件接触，并对应于希望采集电气和/或电子信号以进行测试的高度。
[0039]在所示的构造中，支撑结构4包括模板5，模板5适于放置在支撑平面3上方并距离支撑平面3预定高度。
[0040]可能地，模板5可以铰接到支撑框架2的一侧，以便例如在不使用时倾斜或升高。
[0041]模板5设置有多个通孔6，多个通孔6根据行和列的图案分布，以便基本上覆盖模板5的整个延伸，模板5又可以具有与支撑平面3的表面延伸接近的表面延伸。
[0042]通孔6的数量和尺寸对于本专利技术不是限制性的，并且还将取决于所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于在电气和/或电子电路上进行测试的工具，适于与测试器或万用表结合使用，所述测试器或万用表设置有探针以检测电路的一个或多个电气和/或电子参数，所述探针具有相应的尖端，所述尖端适于被放置为与待测电路的部件接触，其特征在于，所述工具包括：
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支撑框架(2)，被设计成限定支撑平面(3)，所述支撑平面(3)用于设置至少一个待测试的电气和/或电子电路；
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所述测试器的探针(7)的支撑结构(4)，所述支撑结构(4)以固定或可调节的方式连接到所述支撑框架(2)，以被布置在所述支撑平面(3)上方，并且具有用于一次连接一个或多个探针(7)并将所述探针(7)设置在所述支撑平面(3)上方并使相应的尖端(9)且与设置在所述支撑平面(3)上方的所述电路接触的装置。2.根据权利要求1所述的工具，其特征在于，所述支撑结构(4)包括模板(5)，所述模板(5)适于以距所述支撑平面(3)预定高度的方式放置在所述支撑平面(3)上方，并具有用于将相应探针(7)锚固在所述支撑平面(3)上的多个预定位置的多个底座。3.根据权利要求2所述的工具，其特征在于，所述锚固座由形成在所述模板(5)上的通孔(6)限定。4.根据权利要求3所述的工具，其特征在于，所述通孔(6)中的每个包括第一耦合装置，所述第一耦合装置与所述通孔(6)的内周边缘(8)相关联并适于与互补的第二耦合装置配合，所述第二耦合装置与所述探针(7)相关联或适于与所述探针(7)相关联。5.根据权利要求4所述的工具，其特征在于，所述支撑平面(3)包括基本水平的抗静电架，所述待测电路位于所述抗静电架上。6.根据权利要求5所述的工具，其特征在于，所述支撑结构(4)包括铰接臂(16)，所述铰接臂(16)具有固定端(17)和活动端(18)，所述固定端(17)连接至所述支撑框架(2)，所述活动端(18)设有用于固定多个尖端(21)的装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：波格丹，
申请(专利权)人：迈吉克汽车运动公司，
类型：发明
国别省市：
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