BOSA接收功率校准装置方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种BOSA接收功率校准方法及装置，其中，BOSA接收功率校准方法包括：根据BOSA参数信息确定校准类型；根据以下对象确定校准参数：校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，第二采样信息用于指示预设的采样点对应的接收光功率信息；根据校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据光功率信息与ADC信息之间的关系进行双向光学子系统BOSA接收功率校准。通过本发明专利技术，解决了相关技术中BOSA接收功率校准过程中，由于未能对于可能影响光功率信息和ADC信息的因素全面考量而导致BOSA接收功率校准不准确的问题，以达到改善BOSA接收功率校准准确性的效果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
BOSA接收功率校准装置方法及装置


[0001]本专利技术涉及微电子领域，具体而言，涉及一种BOSA接收功率校准装置方法及装置。

技术介绍

[0002]随着光纤通信技术的发展和核心网以及接入网的建设，为实现光纤到户(Fibre To The Home，FTTH)的全网光纤化，无源光纤网络(Passive Optical Network，PON)已不断展现向终端用户提供可靠的数据、语音和视频通信的能力。目前的PON技术中，千兆位无源光纤网络(Gigabit Passive Optical Network，GPON)和以太网无源光网络(Ethernet Passive Optical Network，EPON)是现在两种主流的高效宽带接入技术。
[0003]上述PON技术的实现可采用PON单板，对PON单板而言，其可通过搭载双向光学子系统(Bi-directional Optical Sub-Assembly，BOSA)以实现与光纤线路终端(Optical line terminal，OLT)相连接。BOSA的设置代替了传统的光模块方案，去掉外壳和控制芯片降低了单板成本，也提高了单板的性能。由于BOSA直接用于与OLT连接，因此，BOSA的接收性能则直接影响着光通信业务质量的高低。
[0004]BOSA内部设置有一个光电雪崩二极管(Avalanche Photon Diode，APD)；对于使用板载BOSA的PON单板，需要为BOSA提供一个升压电路模块，由于升压电路的使用，则需要对BOSA中的APD的温度查找表，即不同温度与该APD对应输出的光电流数值之间的映射关系的记录进行温度补偿，上述温度补偿的过程即为对BOSA接收功率的校准。
[0005]相关技术中，进行BOSA接收功率的校准的过程中，通常采用二点确定或三点确定的方法，以建立BOSA接收功率校准的模型，进而对BOSA接收功率进行校准。但上述BOSA接收功率校准的模型建立过程中，往往会由于模型建立中的诸多因素考量不全面而导致BOSA接收功率校准模型与实际情况并不相符，进而造成BOSA接收功率校准的准确性较低。
[0006]针对上述相关技术中，BOSA接收功率校准过程中，由于未能对于可能影响光功率信息和ADC信息的因素全面考量而导致BOSA接收功率校准不准确的问题，相关技术中尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0007]本专利技术实施例提供一种BOSA接收功率校准装置方法及装置，以至少解决相关技术中BOSA接收功率校准过程中，由于未能对于可能影响光功率信息和ADC信息的因素全面考量而导致BOSA接收功率校准不准确的问题
[0008]根据本专利技术的一个实施例，提供了一种BOSA接收功率校准方法，包括：
[0009]根据BOSA参数信息确定校准类型；
[0010]根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，所述第二采样信息用于指示预设的所述采样点对应的接收光功率信息；
[0011]根据所述校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信
息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准。
[0012]根据本专利技术的另一个实施例，还提供了一种BOSA接收功率校准方法，包括：
[0013]获取温度信息与所述APD的DAC信息之间的对应关系，其中，所述APD的所述DAC信息用于指示所述APD在对应的所述温度信息指示的温度中进行工作的控制信息；
[0014]根据所述温度信息与所述DAC信息的所述对应关系，确定工作温度信息对应的DAC信息，其中，所述工作温度信息用于指示所述BOSA的工作温度；
[0015]根据所述工作温度信息对应的所述DAC信息，确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准。
[0016]根据本专利技术的另一个实施例，还提供了一种BOSA接收功率校准装置，包括：
[0017]第一确定模块，用于根据BOSA参数信息确定校准类型；
[0018]第二确定模块，用于根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，所述第二采样信息用于指示预设的所述采样点对应的接收光功率信息；
[0019]第一第一校准模块，用于根据所述校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准。
[0020]根据本专利技术的另一个实施例，还提供了一种BOSA接收功率校准装置，包括：
[0021]获取模块，用于获取温度信息与所述APD的DAC信息之间的对应关系，其中，所述APD的所述DAC信息用于指示所述APD在对应的所述温度信息指示的温度中进行工作的控制信息；
[0022]对应模块，用于根据所述温度信息与所述DAC信息的所述对应关系，确定工作温度信息对应的DAC信息，其中，所述工作温度信息用于指示所述BOSA的工作温度；
[0023]第二校准模块，用于根据所述工作温度信息对应的所述DAC信息，确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准。
[0024]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
[0025]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
[0026]通过本专利技术，由于可根据BOSA参数信息确定校准类型；并根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，所述第二采样信息用于指示预设的所述采样点对应的接收光功率信息；从而根据所述校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准。因此，本专利技术可以解决相关技术中BOSA接收功率校准过程中，由于未能对于可能影响光功率信息和ADC信息的因素全面考量而导致BOSA接收功率校准不准确的问题，以达到有效改善BOSA接收功率校准的准确性的问题。
附图说明
[0027]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0028]图1是根据本专利技术实施例提供的BOSA接收功率校准方法的流程图(一)；
[0029]图2是根据本专利技术具体实施例提供的单板的结构示意图；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双向光学子系统BOSA接收功率校准方法，其特征在于，包括：根据BOSA参数信息确定校准类型；根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，所述第二采样信息用于指示预设的所述采样点对应的接收光功率信息；根据所述校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行双向光学子系统BOSA接收功率校准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据BOSA参数信息确定校准类型之前，还包括：获取所述BOSA中预设的寄存器的类型信息；根据所述寄存器的所述类型信息，确定所述BOSA参数信息。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息，包括：根据以下对象获取拟合光功率信息：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述拟合光功率信息用于指示在预设的所述采样点进行拟合处理所得到的光功率信息；根据所述拟合光功率信息以及所述接收光功率信息，确定所述校准参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述拟合光功率信息以及所述接收光功率信息，确定所述校准参数，包括：确定校准数值，其中，所述校准数值为所述采样点中的所述拟合光功率信息与对应的所述采样点中的所述接收光功率信息之间的误差为极小值的情形下，所述校准参数的数值；根据所述校准类型与所述校准数值确定所述校准参数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据BOSA参数信息确定校准类型之前，包括：获取温度信息与所述APD的DAC信息之间的对应关系，其中，所述APD的所述DAC信息用于指示所述APD在对应的所述温度信息指示的温度中进行工作的控制信息；根据所述温度信息与所述DAC信息的所述对应关系，确定工作温度信息对应的DAC信息，其中，所述工作温度信息用于指示所述BOSA的工作温度。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取温度信息与所述APD的DAC信息之间的对应关系，包括：获取所述温度信息与所述APD的初始DAC信息之间的对应关系；其中，所述APD的所述初始DAC信息用于指示所述APD在对应的所述温度信息指示的温度中理论进行工作的控制信息；根据所述温度信息与所述初始DAC信息的所述对应关系，获取所述温度信息与所述APD的实际DAC信息之间的对应关系；其中，所述APD的所述实际DAC信息用于指示所述APD在对应的所述温度信息指示的温度中，在BOSA中实际进行工作的控制信息；所述根据所述温度信息与所述DAC信息的所述对应关系，确定工作温度信息对应的DAC信息，包括：
根据所述温度信息与所述实际DAC信息的所述对应关系，获取所述工作温度信息对应的所述实际DAC信息，确定所述工作温度信息对应的DAC信息。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述温度信息与所述初始DAC信息的所述对应关系，获取所述温度信息与所述APD的实际DAC信息之间的对应关系，包括：根据所述温度信息与所述初始DAC信息的所述对应关系，获取所述温度信息对应的所述APD的第一初始DAC信息与第二初始DAC信息；其中，所述第一初始DAC信息用于指示所述APD在所述温度信息指示的温度中正常工作的DAC信息，所述第二初始DAC信息用于指示所述APD在所述温度信息指示的温度中临界发光的DAC信息；根据BOSA的工作电压，确定所述工作温度信息对应的所述第一初始DAC信息与所述第二初始DAC信息之间的目标差值；选取目标温度信息对应的所述第一初始DAC信息与所述第二初始DAC信息，其中，所述目标温度信息对应的所述第一初始DAC信息与所述第二初始DAC信息之间的差值符合所述目标差值；将所述目标温度信息对应的所述初始DAC信息配置为所述工作温度信息对应的所述实际DAC信息，以获取所述温度信息与所述实际DAC信息之间的对应关系。8.根据权利要求5至8任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：输入测试光至外部的光功率测量单元以获取第一光功率信息，其中，所述第一光功率信息为所述光功率测量单元对所述测试光进行测量得到的光功率信息；输入所述测试光至所述BOSA以获取第二光功率信息，其中，所述第二光功率信息为所述BOSA输出的所述测试光的光功率信息；获取所述第一光功率信息与所述第二光功率信息的关系。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一光功率信息与所述第二光功率信息的关系之后，包括：在所述第一光功率信息与所述第二光功率信息的差值小于或等于预设的误差阈值的情形下，根据所述光功率信息与所述ADC信息之间的所述关系进行BOSA接收功率校准；或者，在所述第一光功率信息与所述第二光功率信息的差值大于预设的误差阈值的情形下，执行以下操作：所述获取温度信息与所述APD的DAC信息之间的对应关系，并根据所述温度信息与所述DAC信息的所述对应关系确定工作温度信息对应的DAC信息；所述根据BOSA参数信息确定校准类型；根据以下对象确定校准参数：所述校准类型、第一采样信息、第二采样信息；其中，所述第一采样信息用于指示预设的采样点中测量的测量ADC信息，所述第二采样信息用于指示预设的所述采样点对应的接收光功率信息；根据所述校准参数确定光功率信息与ADC信息之间的关系，并根据所述光功率信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐兆文，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：