一种大容量智能卡的成品测试方法技术

本发明专利技术公开了一种大容量智能卡的成品测试方法，所述成品测试方法基于测试系统，测试系统由计算机、ATE设备和大容量智能卡组成，其中，所述大容量智能卡包括安全存储器，计算机连接ATE设备，ATE设备连接大容量智能卡。该成品测试方法开始启动，当大容量智能卡中安全存储器对收到的测试指令进行自动识别后，便按照预期测试向量中的APDU指令组合自动进行操作，以测试向量要求的存储器起止地址、操作方式、背景数据对地址区间内的存储器单元进行连续自测试，可以消除传统的存储器按页发送操作指令时消耗的通讯时间，可显著降低测试成本，极大的提升测试效率、覆盖率。

【技术实现步骤摘要】
一种大容量智能卡的成品测试方法
本专利技术涉及智能卡集成电路
，尤其涉及一种大容量智能卡的成品测试方法。
技术介绍
智能卡(SmartCard)又称集成电路卡，即IC卡(IntegratedCircuitCard)。它将集成电路芯片封装成卡片形式，通过与终端设备通讯实现身份认证、数据的处理、存储、传递等操作。IC卡是大规模集成电路、计算机技术和信息安全技术发展的产物，随着IC卡技术的日趋成熟，IC卡的应用领域日益广泛，目前在金融、通信、社保、安全证件、交通、教育、医疗健康、电子政务等众多领域当中得到规模化的发展与应用。存储器是智能卡的核心组成部分，核心功能是存储COS软件、应用数据、算法库等，其容量大小制约着智能卡的安全特性与功能，为满足日益丰富的应用场景与安全需求，智能卡的存储器容量由最初的3KB、第二代8KB～16KB和第三代的32～128KB，逐渐过渡到当前的256K及以上，存储器占用智能卡芯片70％以上的使用面积，在FT(FinalTest，最终测试)阶段其受损的概率最大。根据当前的协议约定单条指令能够传输的数据为0.5～1KB，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大容量智能卡的成品测试方法，所述成品测试方法基于测试系统，测试系统由计算机、ATE设备和大容量智能卡组成，其中，所述大容量智能卡包括安全存储器，计算机连接ATE设备，ATE设备连接大容量智能卡，其特征在于，所述成品测试方法的具体步骤如下：/n步骤一：计算机编译测试程序并向ATE设备发出开始测试指令；/n步骤二：ATE设备调用计算机编译测试程序并设置预期测试向量值；/n步骤三：ATE设备向大容量智能卡发出预期测试向量中的APDU指令组合，APDU指令组合为指定大容量智能卡中安全存储器的测试起始地址和测试结束地址，以及擦测试、编程测试和校验操作的指令组合；/n步骤四：大容量智能卡中安全存储...

【技术特征摘要】
1.一种大容量智能卡的成品测试方法，所述成品测试方法基于测试系统，测试系统由计算机、ATE设备和大容量智能卡组成，其中，所述大容量智能卡包括安全存储器，计算机连接ATE设备，ATE设备连接大容量智能卡，其特征在于，所述成品测试方法的具体步骤如下：
步骤一：计算机编译测试程序并向ATE设备发出开始测试指令；
步骤二：ATE设备调用计算机编译测试程序并设置预期测试向量值；
步骤三：ATE设备向大容量智能卡发出预期测试向量中的APDU指令组合，APDU指令组...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳睿，许秋林，肖金磊，陈凝，孟红霞，丁义民，
申请(专利权)人：北京紫光青藤微系统有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11