【技术实现步骤摘要】
全可编程SOC芯片的MIO功能快速验证方法
本专利技术涉及芯片验证
，尤其是一种全可编程SOC芯片的MIO功能快速验证方法。
技术介绍
随着半导体制造技术的不断快速发展，芯片的集成度越来越高、功能也越来越强大，传统的SOC芯片已经无法满足需求，因此全可编程SOC芯片应运而生，该芯片集成了嵌入式处理器和FPGA芯片、提供了一个更加灵活的解决方案，既具备了传统SOC芯片的所有优势，又克服了传统SOC芯片灵活性差、专用性强以及设计复杂的缺点。全可编程SOC芯片中包含较多的多路复用IO(MIO，MultiuseI/O)，MIO是内部数据与外设之间交互的窗口，因此对MIO的功能验证是保证芯片正常工作的最后一道关口。在全可编程SOC芯片中，每个MIO可以配置为输入/输出端口，在输入/输出两种情况，分别可以配置成上拉和三态的状态，实现输出驱动强度的调整，同时还有多种不同的MOS类型，各种功能模式在芯片实际使用过程中均会触发，因此验证过程复杂繁琐，目前对MIO的验证都是手动编写每一个MIO测试案例，验证周期较长而且验证覆盖率难...
【技术保护点】
1.一种全可编程SOC芯片的MIO功能快速验证方法，其特征在于，所述方法包括：/n初始化验证环境平台，所述验证环境平台包括测试用例层及其包含的验证环境层，所述验证环境层集成AXI系统环境；/n将待验证的全可编程SOC芯片的MIO参数数据输入所述验证环境平台的测试用例层，所述测试用例层调用测试代码根据所述MIO参数数据在验证环境中构建得到验证用例，所述MIO参数数据至少包括所述全可编程SOC芯片中的MIO端口的数量以及每个MIO端口的所有功能模式；/n所述验证用例利用所述AXI系统环境中的master_base_sequence根据第i个目标地址以及第j个目标数据对所述全可编...
【技术特征摘要】
1.一种全可编程SOC芯片的MIO功能快速验证方法，其特征在于，所述方法包括：
初始化验证环境平台，所述验证环境平台包括测试用例层及其包含的验证环境层，所述验证环境层集成AXI系统环境；
将待验证的全可编程SOC芯片的MIO参数数据输入所述验证环境平台的测试用例层，所述测试用例层调用测试代码根据所述MIO参数数据在验证环境中构建得到验证用例，所述MIO参数数据至少包括所述全可编程SOC芯片中的MIO端口的数量以及每个MIO端口的所有功能模式；
所述验证用例利用所述AXI系统环境中的master_base_sequence根据第i个目标地址以及第j个目标数据对所述全可编程SOC芯片中的寄存器进行配置、将所述第i个目标地址的寄存器配置为所述第j个目标数据，使得所述全可编程SOC芯片中由第i个目标地址的寄存器控制的第i个MIO端口工作在所述第j个目标数据对应的第j个功能模式下，i和j均为参数且起始值均为1；所述测试用例调用uvm_hdl_*类函数利用测试数据对所述第i个MIO端口的第j个功能模式进行测试得到验证结果；
若j＜N则令j＝j+1，若j＝N且i＜M则令i＝i+1并令j＝1，再次执行所述利用所述AXI系统环境中的master_base_sequence根据第i个目标地址以及第j个目标数据对所述全可编程SOC芯片中的寄存器进行配置的步骤；
若j＝N且i＝M，则完成对所述全可编程SOC芯片的MIO功能验证，N为所述第i个MIO端口的功能模式的总数量，M为所述全可编程SOC芯片中的MIO端口的数量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，MIO端口的功能模式包括所述MIO端口作为输入端口时的所有MOS管传输类型、所有上拉状态电压值和所有三态电压值，以及，所述MIO端口作为输出端口时的所有MOS管传输类型、所有上拉状态电压值和所有三态电压值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
使用带参数的宏定义将所述AXI系统环境中的master_base_sequence对寄存器的配置操作编写为宏函数，所述宏函数的参数包括寄存器地址和配置值；
则所述利用所述AXI系统环境中的master_base_sequence根据第i个目标地址以及第j个目标数据对所述全可编程SOC芯片中的寄存器进行配...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭佳形，丛红艳，闫华，单悦尔，赵赛，
申请(专利权)人：无锡中微亿芯有限公司，中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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