接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法。接口转换电路，置于芯片内部，包括：解码模块、控制模块、数据模块、写入模块、读取模块和比较输出模块。解码模块用于根据主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；控制模块包括压缩判断单元，压缩判断单元用于根据测试指令判断原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；数据模块用于根据判断结果输出测试数据；其中，测试数据包括写入数据和期待响应数据；写入模块用于将写入数据输出至芯片；读取模块用于采集芯片反馈的读取；数据比较输出模块用于根据读取数据和期待响应数据，得到错误信号并输出。本发明专利技术实施例可以提高芯片测试的灵活性和效率。

【技术实现步骤摘要】
接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法
本专利技术实施例涉及芯片测试
，尤其涉及一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法。
技术介绍
为了确保芯片能正常工作，在芯片制造过程中和制造完成后，必须对芯片进行严格的测试。通常，芯片测试要通过联合测试工作组(JointTestActionGroup，JTAG)测试引脚进行，标准JTAG协议的测试方法，是在测试数据输入端口向芯片灌入测试向量，然后在测试数据输出端口获取芯片的响应信号，以此来检测芯片的功能是否正常。芯片内部的测试电路负责接收并执行外部测试系统发送来的测试向量，然后将结果向量反馈给外部的芯片测试系统。随着计算需求的高度发展，软件对运算算力的要求越来越高，导致芯片规模越来越大，测试向量越来越复杂，使得芯片测试所需的时间越来越长。因此，现有的芯片测试方法存在灵活性差、效率低的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法，以提高芯片测试的灵活性和效率。第一方面，本专利技术实施例提供了一种接口转换电路，置于芯片内部，用于芯片测试，所述接口转换电路包括：解码模块，所述解码模块的输入端用于与外部的主控设备连接；所述解码模块用于根据所述主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；其中，所述测试向量与所述接口转换电路匹配；控制模块，所述控制模块的输入端与所述解码模块的第一输出端连接；所述控制模块包括压缩判断单元，所述压缩判断单元用于根据所述测试指令判断所述原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；数据模块，所述数据模块的第一输入端与所述解码模块的第二输出端连接，所述数据模块的第二输入端与所述控制模块的输出端连接；所述数据模块用于根据所述判断结果输出测试数据；其中，所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；写入模块，所述写入模块的输入端与所述数据模块的第一输出端连接，所述写入模块的输出端与所述芯片的测试访问端口的输入端连接，以将所述写入数据输出至所述芯片；读取模块，所述读取模块的输入端与所述芯片的测试访问端口的输出端连接；所述读取模块用于采集所述芯片反馈的读取数据；比较输出模块，所述比较输出模块的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接，所述比较输出模块的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述比较输出模块用于根据所述读取数据和所述期待响应数据，得到错误信号并通过输出端输出。可选地，所述测试数据还包括掩码数据；所述比较输出模块包括：与单元、异或单元和错误寄存器；所述与单元的第一输入端与所述数据模块的第三输出端连接；所述与单元的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述与单元用于根据所述掩码数据和所述读取数据得到实际关心数据，并过滤不关心数据；所述异或单元的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接；所述异或单元的第二输入端与所述与单元的输出端连接；所述异或单元用于根据所述实际关心数据和所述期待响应数据得到比较结果；所述错误寄存器的第一输入端与所述异或单元的输出端连接，所述错误寄存器的第一输出端为所述比较输出模块的输出端；所述错误寄存器用于根据所述比较结果得到所述错误信号，以及存储并输出所述错误信号。可选地，所述解码模块内配置有指令集，所述解码模块依据所述指令集的规则解码所述测试向量，得到所述测试指令和所述原始测试数据。可选地，所述指令集中的指令包括赋值指令；所述赋值指令包括全0指令或全1指令。可选地，所述测试指令包括循环指令，所述控制模块还包括顺序控制单元；所述顺序控制单元分别与所述解码模块、所述写入模块和所述读取模块连接；所述顺序控制单元用于根据所述循环指令控制测试顺序。可选地，所述控制模块还包括使能控制单元；所述使能控制单元与所述写入模块和所述读取模块连接，用于控制测试开始或结束。可选地，所述控制模块还包括模式控制单元；所述接口转换电路还包括：数据选择模块；所述数据选择模块分别与所述比较输出模块和所述读取模块连接；所述数据选择模块输出测试结果；所述测试结果包括所述错误信号或所述读取数据；所述模式控制单元与所述数据选择模块连接，用于选择所述数据选择模块输出的所述测试结果为所述错误信号或所述读取数据。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种芯片，包括：如本专利技术任意实施例所提供的接口转换电路。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种芯片测试系统，包括：主控设备、软件模块和如本专利技术任意实施例所提供的芯片；所述软件模块用于处理原始标准测试向量，以得到与所述芯片中的接口转换电路相匹配的测试向量并输出；所述主控设备包括输入端和输出端；所述主控设备的输入端与所述软件模块连接，所述主控设备的输出端与所述芯片连接；所述主控设备用于将所述软件模块发送的测试向量传送给所述芯片。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种如本专利技术任意实施例所提供的芯片的芯片测试方法，包括：主控设备将与所述芯片中的接口转换电路相匹配的测试向量传送给所述芯片中的接口转换电路；解码模块接收所述测试向量，并根据所述测试向量得到测试指令和原始测试数据；控制模块接收所述测试指令，根据所述测试指令判断所述原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；数据模块接收所述判断结果，根据所述判断结果输出测试数据；其中，所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；写入模块将所述写入数据通过测试访问端口传输给所述芯片；读取模块通过所述测试访问端口采集所述芯片反馈的读取数据；比较输出模块根据所述读取数据和所述期待响应数据得到错误信号并输出。本专利技术实施例提供的接口转换电路，设置有解码模块、控制模块和数据模块。通过解码模块解码测试向量得到测试指令和原始测试数据；其中，测试指令指示了该测试向量中解码出的原始测试数据是否经过了压缩，还可以指示压缩方式。控制模块根据测试指令动态控制数据模块的解压缩功能打开或关闭；当控制模块中的压缩判断单元根据测试指令判断出原始测试数据已压缩时，数据模块解压原始测试数据，得到测试数据。这样，在转换接口内部实现了硬件的解压缩结构，可以有效减少数据传输过程，提高测试效率。并且，写入模块和读取模块的设置，使得写入数据可以直接灌入测试访问端口，并且读取数据可以直接从测试访问端口提取。也就是说，该接口转换电路使芯片测试可以脱离JTAG测试引脚进行，提高了芯片测试的灵活性。以及，接口转换电路中设置有比较输出模块，可以在芯片内部进行读取数据和期待响应数据的比较，测试系统直接获取比较输出模块输出的错误信号便可得知芯片是否正常，并不需要输出所有读取数据在芯片外部进行处理，从而减少数据传输，提高了测试效率。因此，与现有技术相比，本专利技术实施例可以提高芯片测试的灵活性和效率。附图说明图1是本专利技术实施例提供的一种接口转换电路的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的另一种接口转换电路的结构示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种比较输出模块的结构示意图；图4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种接口转换电路，置于芯片内部，用于芯片测试，其特征在于，包括：/n解码模块，所述解码模块的输入端用于与外部的主控设备连接；所述解码模块用于根据所述主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；其中，所述测试向量与所述接口转换电路匹配；/n控制模块，所述控制模块的输入端与所述解码模块的第一输出端连接；所述控制模块包括压缩判断单元，所述压缩判断单元用于根据所述测试指令判断所述原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；/n数据模块，所述数据模块的第一输入端与所述解码模块的第二输出端连接，所述数据模块的第二输入端与所述控制模块的输出端连接；所述数据模块用于根据所述判断结果输出测试数据；其中，所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；/n写入模块，所述写入模块的输入端与所述数据模块的第一输出端连接，所述写入模块的输出端与所述芯片的测试访问端口的输入端连接，以将所述写入数据输出至所述芯片；/n读取模块，所述读取模块的输入端与所述芯片的测试访问端口的输出端连接；所述读取模块用于采集所述芯片反馈的读取数据；/n比较输出模块，所述比较输出模块的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接，所述比较输出模块的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述比较输出模块用于根据所述读取数据和所述期待响应数据，得到错误信号并通过输出端输出。/n...

【技术特征摘要】
1.一种接口转换电路，置于芯片内部，用于芯片测试，其特征在于，包括：
解码模块，所述解码模块的输入端用于与外部的主控设备连接；所述解码模块用于根据所述主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；其中，所述测试向量与所述接口转换电路匹配；
控制模块，所述控制模块的输入端与所述解码模块的第一输出端连接；所述控制模块包括压缩判断单元，所述压缩判断单元用于根据所述测试指令判断所述原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；
数据模块，所述数据模块的第一输入端与所述解码模块的第二输出端连接，所述数据模块的第二输入端与所述控制模块的输出端连接；所述数据模块用于根据所述判断结果输出测试数据；其中，所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；
写入模块，所述写入模块的输入端与所述数据模块的第一输出端连接，所述写入模块的输出端与所述芯片的测试访问端口的输入端连接，以将所述写入数据输出至所述芯片；
读取模块，所述读取模块的输入端与所述芯片的测试访问端口的输出端连接；所述读取模块用于采集所述芯片反馈的读取数据；
比较输出模块，所述比较输出模块的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接，所述比较输出模块的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述比较输出模块用于根据所述读取数据和所述期待响应数据，得到错误信号并通过输出端输出。


2.根据权利要求1所述的接口转换电路，其特征在于，所述测试数据还包括掩码数据；
所述比较输出模块包括：与单元、异或单元和错误寄存器；
所述与单元的第一输入端与所述数据模块的第三输出端连接；所述与单元的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述与单元用于根据所述掩码数据和所述读取数据得到实际关心数据，并过滤不关心数据；
所述异或单元的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接；所述异或单元的第二输入端与所述与单元的输出端连接；所述异或单元用于根据所述实际关心数据和所述期待响应数据得到比较结果；
所述错误寄存器的第一输入端与所述异或单元的输出端连接，所述错误寄存器的第一输出端为所述比较输出模块的输出端；所述错误寄存器用于根据所述比较结果得到所述错误信号，以及存储并输出所述错误信号。


3.根据权利要求1所述的接口转换电路，其特征在于，所述解码模块内配置有指令集，所述解码模块依据所述指令集的规则解码所述测试向量，得到所述测试指令和所述原始测试数据。


4...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱海涛，
申请(专利权)人：上海燧原科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31