用于光学检测电导线的检测系统技术方案

技术编号:28974429 阅读:60 留言:0更新日期:2021-06-23 09:18
本发明专利技术涉及用于光学检测电导线的检测系统,该检测系统包括:用于布置电导线的检测区域;包围检测区域的多个棱镜;对准该棱镜的相机,该相机被构造为通过棱镜从不同侧以光学方式确定布置在检测区域内的电导线;屏蔽设备,该屏蔽设备的弯曲内轮廓至少沿径向方向包围检测区域和棱镜;至少间接连接在指向检测区域的喷嘴上的空气通道,该空气通道被构造为向朝向检测区域的至少一些棱镜面施加清洁空气流,并因此带走棱镜面上的污物颗粒;通入屏蔽设备的内轮廓的区域内的另外的空气通道,空气通道被构造为沿两个相反的周向方向向屏蔽设备的内轮廓(38)施加相应的携带空气流,携带空气流将清洁空气流连同被带走的污物颗粒偏转到屏蔽设备的内轮廓的下部区域内的空气出口内。

【技术实现步骤摘要】
用于光学检测电导线的检测系统
本专利技术涉及用于光学检测电导线的检测系统。
技术介绍
为进行电导线的质量检测,通常需要从不同侧进行检查。为此可以使用带有光学辅助工具和相机的检测系统。特别地,在使用此类检测系统对电导线进行光学检测时,挑战可能在于,来自待检测的电导线的污物颗粒,例如断裂的屏蔽线等,总是污染光学辅助工具或相机,并且由此使得光学检测变得困难。
技术实现思路
因此,本专利技术所要解决的技术问题是提供一种解决方案,通过所述解决方案可以以特别简单的方式对电导线进行持久可靠的光学检测。根据本专利技术的用于光学检测电导线的检测系统包括用于布置电导线的检测区域和包围检测区域的多个棱镜。此外,检测系统具有对准棱镜的相机,所述相机被构造为通过棱镜从不同侧光学地确定布置在检测区域内的电导线。此外,检测系统包括屏蔽设备,所述屏蔽设备的弯曲内轮廓至少沿径向方向包围检测区域和棱镜。检测系统此外具有至少间接连接在指向检测区域的喷嘴上的空气通道,所述空气通道被构造为至少向朝向检测区域的一些棱镜面施加清洁空气流,并且因此带走存在于这些棱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于光学检测电导线的检测系统(10),其包括:/n-用于布置电导线的检测区域(16);/n-包围所述检测区域(16)的多个棱镜(18);/n-对准所述棱镜(18)的相机(14),所述相机被构造为通过所述棱镜(18)从不同侧以光学方式确定布置在所述检测区域(16)内的电导线;/n-屏蔽设备(12),所述屏蔽设备的弯曲内轮廓(34)至少沿径向方向包围所述检测区域(16)和所述棱镜(18);/n-至少间接连接在指向所述检测区域(16)的喷嘴(32)上的空气通道(40),所述空气通道被构造为向朝向所述检测区域(16)的至少一些棱镜面(22)施加清洁空气流(42),并且因此带走存在于所述棱镜面(...

【技术特征摘要】
20191219 DE 102019135129.41.一种用于光学检测电导线的检测系统(10),其包括:
-用于布置电导线的检测区域(16);
-包围所述检测区域(16)的多个棱镜(18);
-对准所述棱镜(18)的相机(14),所述相机被构造为通过所述棱镜(18)从不同侧以光学方式确定布置在所述检测区域(16)内的电导线;
-屏蔽设备(12),所述屏蔽设备的弯曲内轮廓(34)至少沿径向方向包围所述检测区域(16)和所述棱镜(18);
-至少间接连接在指向所述检测区域(16)的喷嘴(32)上的空气通道(40),所述空气通道被构造为向朝向所述检测区域(16)的至少一些棱镜面(22)施加清洁空气流(42),并且因此带走存在于所述棱镜面(22)上的污物颗粒;
-通入所述屏蔽设备(12)的内轮廓(34)的区域(38)的另外的空气通道(44),所述空气通道被构造为沿两个相反的周向方向向所述屏蔽设备(12)的内轮廓(34)施加相应的携带空气流(46),所述携带空气流将所述清洁空气流(42)连同被带走的污物颗粒偏转到所述屏蔽设备(12)的内轮廓(34)的下部区域(50)内的空气出口(48)内。


2.根据权利要求1所述的检测系统(10),其特征在于,所述屏蔽设备(12)的内轮廓(34)至少基本上为环形。


3.根据权利要求1或2所述的检测系统(10),其特征在于,被构造为用于供给所述携带空气流(46)的所述空气通道(44)沿切向方向通入所述屏蔽设备(12)的内轮廓(34)。

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【专利技术属性】
技术研发人员:利努斯·魏伯贝克曼纽尔·卡格胡博
申请(专利权)人:利萨·德雷克塞迈尔有限责任公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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