一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置制造方法及图纸

本申请涉及一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置。所述方法包括：获取多张工业颗粒连片制品分割图像；根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息；对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像；所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。采用本方法能够提高颗粒在全局图像的定位效率和准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置
本申请涉及图像处理
，特别是涉及一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置。
技术介绍
在生产线生产的工业颗粒连片制品，是将多个颗粒连成一片生产出来连片制品，例如，LED封装芯片的封装连片。LED是一种常用的发光器件，也称为发光二极管；与传统灯具相比，LED节能灯具有环保、颜色范围覆盖广、响应速度快等特点；在各种需要光源的场景中，LED灯已经发挥着重要的作用，如汽车信号灯、交通信号灯、室外大屏幕、显示器等。生产出来的LED封装芯片的连片上包含成百上千个LED封装芯片，每个LED封装芯片非常小，甚至1毫米不到，这对品质检测工位要求非常高，往往需要人在显微镜下观察，这个过程不仅耗时而且成本极高。现有对工业颗粒连片制品的全局定位方法主要包括：模板匹配方法和全局搜索方法。这两种方法都是利用图像中的灰度信息，确定当前图像重叠部分的相似性，从而达到图像配准的目的。模板匹配方法主要通过在搜索图中，选取子图，计算其与模板的相似度，这种方法操作简单、配准精度高，但是对噪声敏感，且不能有旋转、尺度不一致等情况。全局搜索方法是使待配准图在参考图像上平移，比较平移过程中两幅图像的配准程度，在进行所有平移之后选择相似性测度最优的，这种方法准确度高，对噪声比较鲁棒，但是计算量大，非常耗时。现有的对工业颗粒连片制品的全局定位方法，只能适用于尺寸小的工业颗粒连片制品，对于尺寸大的工业颗粒连片制品难以实现全局定位。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高定位效率的面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置。一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法，所述方法包括：获取多张工业颗粒连片制品分割图像；根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息；对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像；所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。在其中一个实施例中，所述根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，包括：将所述工业颗粒连片制品分割图像进行二值化，获得二值工业颗粒连片制品分割图像；根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得工业颗粒连片制品目标图像；计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标，得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标；其中，所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标与颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标相同。在其中一个实施例中，所述根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得工业颗粒连片制品目标图像，包括：根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得边缘目标图像；判断所述边缘目标图像的尺寸是否在预设范围内；如果所述边缘目标图像的尺寸在预设范围内，则所述边缘目标图像为工业颗粒连片制品目标图像。在其中一个实施例中，在计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标，得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标之后，包括：根据任意相邻的两个所述工业颗粒连片制品目标图像的中心距离计算参考距离；将已知行列值的任一所述工业颗粒连片制品目标图像确定为参考目标图像；判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的中心距离是否小于所述参考距离；在与所述参考目标图像的中心距离小于所述参考距离时，根据所述参考目标图像的行列值，计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。在其中一个实施例中，所述参考距离包含水平参考距离和垂直参考距离；所述判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的距离是否小于所述参考距离，包括：判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的水平距离是否小于水平参考距离，以及垂直距离是否小于所述垂直参考距离；所述在所述距离小于所述参考距离时，根据所述参考目标图像的行列值，计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值，包括：在所述水平距离小于水平参考距离，以及垂直距离小于所述垂直参考距离时，根据所述参考目标图像的行列值，计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。在其中一个实施例中，所述对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像，包括：获取前一相邻工业颗粒连片制品分割图像的像素宽度和像素高度；根据所述像素宽度和像素高度计和预设重叠区域的重叠宽度和重叠长度，计算当前工业颗粒连片制品分割图像的边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标；根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标，确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置；将所述当前工业颗粒连片制品分割图像平移到所述拼接位置；重复上述步骤，直到所有所述工业颗粒连片制品分割图像平移到拼接位置，获得工业颗粒连片制品全局图像。在其中一个实施例中，在所述根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标，确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置之后，包括：计算所述前一相邻工业颗粒连片制品分割图像和所述当前工业颗粒连片制品分割图像在所述预设重叠区域中的所述颗粒的最小偏移量；根据所述最小偏移量对所述拼接位置进行修正。在其中一个实施例中，所述根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息，包括：根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，获取所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标和所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，获取所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的行列值；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的行列值和所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的行列值。在其中一个实施例中，所述面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法还包括：根据所述定位信息，在所述工业颗粒连片制品全局图像对每个所述颗粒进行标注。一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的装置，所述装置包括：工业颗粒连片制品分割图像获取模块，用于获取多张工业颗粒连片制品分割图像；局部定位模块，用于根据所述工业颗本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取多张工业颗粒连片制品分割图像；/n根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息；/n对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像；所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息；/n根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。/n

【技术特征摘要】
20200508 CN 20201038084531.一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取多张工业颗粒连片制品分割图像；
根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息；
对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像；所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息；
根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，包括：
将所述工业颗粒连片制品分割图像进行二值化，获得二值工业颗粒连片制品分割图像；
根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得工业颗粒连片制品目标图像；
计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标，得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标；
其中，所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标与颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标相同。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得工业颗粒连片制品目标图像，包括：
根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测，获得边缘目标图像；
判断所述边缘目标图像的尺寸是否在预设范围内；
如果所述边缘目标图像的尺寸在预设范围内，则所述边缘目标图像为工业颗粒连片制品目标图像。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标，得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标之后，包括：
根据任意相邻的两个所述工业颗粒连片制品目标图像的中心距离计算参考距离；
将已知行列值的任一所述工业颗粒连片制品目标图像确定为参考目标图像；
判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的中心距离是否小于所述参考距离；
在与所述参考目标图像的中心距离小于所述参考距离时，根据所述参考目标图像的行列值，计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述参考距离包含水平参考距离和垂直参考距离；
所述判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的距离是否小于所述参考距离，包括：
判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像，与所述参考目标图像的水平距离是否小于水平参考距离，以及垂直距离是否小于所述垂直参考距离；
所述在所述距离小于所述参考距离时，根据所述参考目标图像的行列值，计算所述未知行列值的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：别晓辉，徐盼盼，别伟成，单书畅，
申请(专利权)人：视睿杭州信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33