磁共振系统校准方法、成像方法以及磁共振系统技术方案

本申请提供一种磁共振系统校准方法、成像方法以及磁共振系统。通过容积线圈和表面线圈同时分别接收每个回波信号，获得第一回波容积线圈信号、第一回波表面线圈信号、第二回波容积线圈信号以及第二回波表面线圈信号。根据第一回波容积线圈信号、第一回波表面线圈信号、第二回波容积线圈信号以及第二回波表面线圈信号中相互之间的组合，可以实现线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准。从而，磁共振系统校准方法进行一次扫描，可以实现同步接收上述四种信号，进而实现线圈灵敏度和主磁场匀场的同时校准，缩短了扫描时间，减少了校准耗时，有效的提高了校准扫描的效率。

【技术实现步骤摘要】
磁共振系统校准方法、成像方法以及磁共振系统
本申请涉及磁共振成像技术，特别是涉及一种磁共振系统校准方法、成像方法以及磁共振系统。
技术介绍
磁共振成像扫描前，需要针对患者进行一系列的系统性能校正扫描。比如磁场均匀性校正，该校正可保证磁共振成像系统具有均匀的主磁场，为压脂序列、DWI序列等临床应用提供保障。再比如，接收线圈的灵敏度校正，通过参考容积线圈的射频场，得到表面接收线圈的接收场分布，可有效改善磁共振图像的亮度均匀性，为临床诊断的正确性提供保障。因此，快速有效的校准方法对于磁共振扫描和图像质量至关重要。然而，传统的磁共振系统校准成像方法中需要分别单独进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准。并且，在传统的磁共振系统校准成像方法中单独进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准，使得扫描时间较长、耗时较长，进而使得校准效率偏低。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统磁共振系统校准成像方法的校准效率偏低的问题，提供一种校准效率高的磁共振系统校准方法、成像方法以及磁共振系统。本申请提供一种磁共振系统校准方法，包括：执行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁共振系统校准方法，其特征在于，包括：/n执行三维双回波磁共振扫描；/n采集所述三维双回波对应的第一回波容积线圈信号、第一回波表面线圈信号、第二回波容积线圈信号以及第二回波表面线圈信号；/n根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁共振系统校准方法，其特征在于，包括：
执行三维双回波磁共振扫描；
采集所述三维双回波对应的第一回波容积线圈信号、第一回波表面线圈信号、第二回波容积线圈信号以及第二回波表面线圈信号；
根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准。


2.如权利要求1所述的磁共振系统校准方法，其特征在于，根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准，包括：
根据所述第一回波容积线圈信号与所述第一回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准；
根据所述第一回波表面线圈信号与所述第二回波表面线圈信号进行主磁场匀场校准。


3.如权利要求1所述的磁共振系统校准方法，其特征在于，根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准，包括：
根据所述第一回波容积线圈信号与所述第一回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准；
根据所述第一回波容积线圈信号与所述第二回波容积线圈信号进行主磁场匀场校准。


4.如权利要求1所述的磁共振系统校准方法，其特征在于，根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准，包括：
根据所述第二回波容积线圈信号与所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准；
根据所述第一回波表面线圈信号与所述第二回波表面线圈信号进行主磁场匀场校准。


5.如权利要求1所述的磁共振系统校准方法，其特征在于，根据所述第一回波容积线圈信号、所述第一回波表面线圈信号、所述第二回波容积线圈信号以及所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准和主磁场匀场校准，包括：
根据所述第二回波容积线圈信号与所述第二回波表面线圈信号进行线圈灵敏度校准；
根据所述第一回波容积线圈信号与所述第二回波容积线圈信号进行主磁场匀场校准。


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【专利技术属性】
技术研发人员：黄文慧，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31