【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试板
本申请涉及电子元件测试的
，尤其是涉及一种电子元件测试板。
技术介绍
电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件在使用前常进行检测，测试其是否能够正常工作。相关技术中，常用的电子元件测试板包括板体，板体上嵌设有测试铜片，测试铜片的一端嵌入板体内，另一端伸出至板体外部，测试铜片嵌入板体内的一端与测试设备电连接，测试铜片在板体上间隔嵌设有多个。测试时，测试人员将多个测试铜片分别搭接在电子元件的多个引线或金属接电上，然后测试设备向测试铜片通电，并检测电子元件是否能正常工作。针对上述中的相关技术，专利技术人认为在一些测试工况下，测试铜片与电子元件的电极接触处温度较高，导致测试铜片与电子元件电极接触的部分发生熔化，导致测试铜片损坏，使得电子元件测试板耐用性不高，存在待改进之处。
技术实现思路
为了提高电子元件测试板的耐用性，本申请提供一种电子元件测试板。本申请提供的一种电子元件测试板采用如下的技术方案：一种电子元...
【技术保护点】
1.一种电子元件测试板，包括板体（1），其特征在于：所述板体（1）上间隔设置有多个测试片（2），任一测试片（2）贯穿板体（1），任一所述测试片（2）的两端均伸出板体（1）外部，任一所述测试片（2）的一端均成型有触头（21），任一所述触头（21）与引线或金属接点接触的一侧上均设置有难熔触点（22），所述难熔触点（22）与测试片（2）一一对应，任一所述测试片（2）均与对应的难熔触点（22）电连接；任一所述测试片（2）远离触头（21）的一端与检测设备电连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试板，包括板体（1），其特征在于：所述板体（1）上间隔设置有多个测试片（2），任一测试片（2）贯穿板体（1），任一所述测试片（2）的两端均伸出板体（1）外部，任一所述测试片（2）的一端均成型有触头（21），任一所述触头（21）与引线或金属接点接触的一侧上均设置有难熔触点（22），所述难熔触点（22）与测试片（2）一一对应，任一所述测试片（2）均与对应的难熔触点（22）电连接；任一所述测试片（2）远离触头（21）的一端与检测设备电连接。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试板，其特征在于：所述难熔触点（22）包括钨钢触点（221）。
3.根据权利要求1所述的一种电子元件测试板，其特征在于：所述板体（1）包括多个压板（3），多个所述压板（3）沿压板（3）沿板体（1）厚度方向叠放，且多个压板（3）之间固定连接，所述测试片（2）夹持在任意相邻的两压板（3）之间；所述板体（1）上设置有用于将多个压板（3）连接紧固的紧固件（4）。
4....
【专利技术属性】
技术研发人员：庞晓辉，印晴佳，
申请(专利权)人：上海鹰卫精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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