一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法及系统，所述方法包括：根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正，本发明专利技术基于共接收点道集通过引力拟合函数求取转换波剩余静校正量，改善转换波剩余静校正量的求取准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法及系统
本专利技术涉及石油地震勘探中地震数据处理
，尤其涉及一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法及系统。
技术介绍
近年来，多波勘探得到了越来越多的重视。特别是多波勘探在岩性分析、流体识别、裂缝检测和气云区成像等方面显示出其独特优势，在实际工业生产中得到了越来越多的重视。转换波剩余静校正量的求取是转换波处理的关键步骤，由于近地表的横波速度很低，导致转换波接收点的剩余静校正量比传统纵波的剩余静校正量大得多。横波的静校正量通常要大于相同位置纵波静校正量的2～10倍，与纵波相比，横波实际上不受近地表潜水面的影响，因此纵波和横波静校正量不存在简单的比例关系，使用纵波静校正量乘以某一系数来对横波静校正量进行近似通常是不能用于精细成像的，同时，沿用常规纵波剩余静校正算法进行转换波剩余静校正也具有一定的局限性，例如往往会出现不稳定的“周期跳跃”现象。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法，基于共接收点道集通过引力拟合函数求取转换波剩余静校正量，改善转换波剩余静校正量的求取准确度。本专利技术的另一个目的在于提供一种基于引力拟合的转换波剩余静校正系统。本专利技术的再一个目的在于提供一种计算机设备。本专利技术的还一个目的在于提供一种可读介质。为了达到以上目的，本专利技术一方面公开了一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法，包括：根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。优选的，所述根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位具体包括：在根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面上选取多段反映波形特征和能量特征的同相轴；对多段所述同相轴插值得到所述第一分析层位。优选的，所述根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位具体包括：通过纵波和转换波速度比值将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面；确定所述转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位。优选的，所述方法进一步包括：通过所述第二分析层位对所述转换波叠加剖面进行层拉平。优选的，所述选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量具体包括：确定所述第二分析层位多个位置预设时间间隔内检测数据的振幅能量值得到多个位置的质子串；依次改变每个检测数据在时间方向上的位置形成与其他检测数据的引力形成目标函数，确定所述目标函数取得最大值时各检测数据的位置与预设时间间隔内的初始位置的差为转换波剩余静校正量。本专利技术还公开了一种基于引力拟合的转换波剩余静校正系统，包括：纵波分析层位确定单元，用于根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；横波分析层位确定单元，用于根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；剩余静校正量确定单元，用于选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。优选的，所述纵波分析层位确定单元具体用于在根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面上选取多段反映波形特征和能量特征的同相轴，对多段所述同相轴插值得到所述第一分析层位。优选的，所述横波分析层位确定单元具体用于通过纵波和转换波速度比值将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，确定所述转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位。优选的，所述横波分析层位确定单元进一步用于通过所述第二分析层位对所述转换波叠加剖面进行层拉平。优选的，所述剩余静校正量确定单元具体用于确定所述第二分析层位多个位置预设时间间隔内检测数据的振幅能量值得到多个位置的质子串，依次改变每个检测数据在时间方向上的位置形成与其他检测数据的引力形成目标函数，确定所述目标函数取得最大值时各检测数据的位置与预设时间间隔内的初始位置的差为转换波剩余静校正量。本专利技术还公开了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上所述方法。本专利技术还公开了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述方法。本专利技术将纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并确定转换波叠加剖面上与纵波叠加剖面的第一分析层位对应的第二分析层位，在第二分析层位上设置预设时间间隔，将第二分析层位上预设时间间隔中的检测数据赋予质量，形成第二分析层位的质子串，然后根据最小势能原理分析质子串得到转换波剩余静校正量，本专利技术在剩余静校正计算理论的基础上结合最小势能原理，得到转换波剩余静校正量，可改善现有转换波剩余静校正量确定过程中易出现的不稳定的“周期跳跃”现象，且确定方法简单和稳定，计算量低。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体实施例的流程图之一；图2示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体实施例的流程图之二；图3示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体实施例的流程图之三；图4示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体实施例的流程图之四；图5示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体实施例的流程图之五；图6示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体例子中纵向叠加剖面的示意图；图7示出图6中纵向叠加剖面添加扰动后的示意图；图8示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法一个具体例子中静校正后的纵向叠加剖面的示意图；图9示出本专利技术一种基于引力拟合的转换波剩余静校正系统一个具体实施例的结构图；图10示出适于用来实现本专利技术实施例的计算机设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法，其特征在于，包括：/n根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；/n根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；/n选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法，其特征在于，包括：
根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；
根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；
选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。


2.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位具体包括：
在根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面上选取多段反映波形特征和能量特征的同相轴；
对多段所述同相轴插值得到所述第一分析层位。


3.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位具体包括：
通过纵波和转换波速度比值将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面；
确定所述转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位。


4.根据权利要求3所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
通过所述第二分析层位对所述转换波叠加剖面进行层拉平。


5.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量具体包括：
确定所述第二分析层位多个位置预设时间间隔内检测数据的振幅能量值得到多个位置的质子串；
依次改变每个检测数据在时间方向上的位置形成与其他检测数据的引力形成目标函数，确定所述目标函数取得最大值时各检测数据的位置与预设时间间隔内的初始位置的差为转换波剩余静校正量。


6.一种基于引力拟合的转换波剩余静校正系统，其特征在于，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊晶璇，刘鸿，曹中林，张华，唐虎，段鹏飞，
申请(专利权)人：中国石油天然气集团有限公司，中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11