一种屏幕总成烧录测试盒制造技术

本发明专利技术提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT‑GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC‑DC线路、风扇线路和主控中心；本发明专利技术将四个功能合成一体，方便研发和生产，而且增加了风扇线路，让系统运行更加稳定；使用者能够在正负电压测量线路的辅助下使用专用的ADC线路检测，能精确测试VCI、IOVCC、VSP等的电压电流数据，能够精确到uA级，这些数据将在一个2.4寸显示屏幕上面实时显示出来，有利于测试人员的高效产出，提高生产线的生产任务进度。

【技术实现步骤摘要】
一种屏幕总成烧录测试盒
本专利技术涉及屏幕测试
，尤其是一种屏幕总成烧录测试盒。
技术介绍
智能手机是划时代的产品，它几乎改变了现代人民的生活方式，使得人民联系紧密便捷，使得人民更快更直接的获得当下热点资讯。因此，现代人民几乎人手一台智能手机。智能手机是一个巨大的市场，那么占据一台智能手机价值三分一的手机总成屏幕也是一个巨大的市场。如此巨大的市场，屏幕制造企业竞争日益激烈，而企业屏幕的生产测试效率决定企业效益。随着手机和其它智能设备的发展，对触控屏幕的需求越来越大，触控屏幕出厂前必需要经过程序的烧录和屏幕的测试，才能保证屏幕按客户的需求出货。触控屏幕的烧录和触控屏幕的测试都要要用到测试盒，一般工厂测试一个屏整成需要用到四个测试夹具(分别是：屏烧录测试夹具、CTP烧录测试夹具、屏测试测试夹具、CTP测试测试夹具)，为此，专利号为CN209328486U的对比文件则将这四个测试夹具集成一起。四个测试夹具集成一起固然有好处，然而，在实际的测试过程中，由于工作人员的疏忽，在将触控屏幕与集成的测试夹具对接时经常有接反的现象发生，通电后则电流过大使得电路烧毁，同时，四个测试夹具集成一起其硬件的发热现象严重，当出现过热时，测试人员不得不暂停测试以降温，这样则不利于集成测试夹具的长期使用，不利于测试人员的高效产出，进而拖延了生产线的生产任务进度。为此，有必要提出一种屏幕总成烧录测试盒来解决将四个测试夹具集成一起后使用时出现的上述问题。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提出一种屏幕总成烧录测试盒来解决将四个测试夹具集成一起后使用时出现的问题。本专利技术通过以下技术方案实现的：本专利技术提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接。进一步的，所述烧录电路包括电容触摸烧录线路、测试线路和第二烧录数据通道，所述第一烧录数据通道与所述第二烧录数据通道电连接，所述第二烧录数据通道与所述电容触摸烧录线路电连接，所述电容触摸烧录线路与所述测试线路电连接。进一步的，所述过流保护线路设有第一芯片、电容C390、电容C388、电容C389、电容C387，所述第一芯片的1引脚接入12V电压，所述电容C390和所述电容C388的一端分别与所述第一芯片的1引脚电连接，所述电容C390和所述电容C388的另一端共同接地，所述第一芯片的3引脚接地，所述第一芯片的2引脚分别与所述电容C389和所述电容C387的一端电连接并输出5V电压，所述电容C389另一端和所述电容C387另一端分别接地。进一步的，所述过流保护线路设有设有第二芯片、电容C398、电阻R374、电阻R266、电阻R265，所述第二芯片的5引脚接入所述第一芯片的2引脚输出的5V电压，所述电容C398一端与所述第二芯片的4引脚电连接，所述电容C398另一端接地，所述电阻R374一端与所述第二芯片的3引脚电连接，所述电阻R374另一端与所述第二芯片的2引脚电连接并接地，所述第二芯片的1引脚与所述电阻R266一端电连接，所述电阻R266另一端与所述电阻R265一端电连接，所述电阻R265另一端接地。进一步的，所述风扇线路设有电阻R307、电阻R308、二极管D15、风扇、三极管Q16、电阻R309、电阻R310，所述电阻R307一端接入VCC，所述电阻R307另一端与所述电阻R308一端电连接，所述电阻R308另一端接入正11V电压，所述二极管D15的K端分别与所述电阻R307、所述电阻R308和所述风扇的2引脚电连接，所述二极管D15的A端分别与所述三极管Q16的集电极和所述风扇的1引脚电连接，所述三极管Q16的基极分别与所述电阻R309和电阻R310的一端电连接，所述电阻R309另一端与所述三极管Q16的发射极电连接并接地。进一步的，所述触摸按键线路设有第三芯片、电阻R338、电容C336、电容C337、电阻R333、电阻R287、电阻R337、电阻R336、电阻R334、电容C338、按键KEY1、电阻R335、电容C335、按键KEY2、电容C339，所述第三芯片的1引脚与所述电容C337一端电连接，所述电容C337另一端接地，所述第三芯片的2引脚与所述电阻R338电连接，所述第三芯片的3引脚分别与所述电容C336和所述电阻R333的一端电连接，所述电容C336另一端和所述电阻R333另一端电连接并接地，所述第三芯片的4引脚接地，所述第三芯片的8引脚与所述电阻R337电连接，所述第三芯片的7引脚与所述电阻R336一端电连接，所述电阻R336另一端与所述电阻R287电连接，所述第三芯片的6引脚与所述电阻R334一端电连接，所述电阻R334的另一端分别与所述电容C338一端和所述按键KEY1电连接，所述电容C338另一端接地，所述第三芯片的5引脚分别与所述电阻R335一端和所述电容C335一端电连接，所述电容C335另一端接地，所述电阻R335另一端分别与所述电容C339一端和按键KEY2电连接，所述电容C339另一端接地。进一步的，所述正负电压测量线路包括VSP电压测试线路，所述VSP电压测试线路设有电容C301、电阻R281、电阻R282，所述电容C301一端接地，所述电容C301另一端分别与所述电阻R281一端和所述电阻R282一端电连接，所述电阻R281另一端接地。进一步的，所述正负电压测量线路包括OTP电压测试线路，所述OTP电压测试线路设有电阻R306、电阻R305，所述电阻R306一端与所述电阻R305一端电连接，所述电阻R305另一端接地。进一步的，所述正负电压测量线路包括VSN负电压测试电路，所述VSN负电压测试电路设有第四芯片、电阻R284、电容C306、电感线圈L9、二极管D22、电阻R285、可调电阻R286、电阻R288、电容C307，所述第四芯片的5引脚分别与所述电容C306的一端和所述电阻R284的一端电连接，所述电容C306的另一端接地，所述电阻R284另一端与所述第四芯片的4引脚电连接，所述电感线圈L9一端与所述第四芯片的5引脚电连接，所述电感线圈L9另一端与所述第四芯片的1引脚电连接，所述第四芯片的1引脚与所述二极管D22一端电连接，所述二极管D22另一端与所述可调电阻R286的3号接口电连接，所述可调电阻R286的2号接口分别与所述电阻R288一端和所述电容本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接。


2.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述烧录电路包括电容触摸烧录线路、测试线路和第二烧录数据通道，所述第一烧录数据通道与所述第二烧录数据通道电连接，所述第二烧录数据通道与所述电容触摸烧录线路电连接，所述电容触摸烧录线路与所述测试线路电连接。


3.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述过流保护线路设有第一芯片、电容C390、电容C388、电容C389、电容C387，所述第一芯片的1引脚接入12V电压，所述电容C390和所述电容C388的一端分别与所述第一芯片的1引脚电连接，所述电容C390和所述电容C388的另一端共同接地，所述第一芯片的3引脚接地，所述第一芯片的2引脚分别与所述电容C389和所述电容C387的一端电连接并输出5V电压，所述电容C389另一端和所述电容C387另一端分别接地。


4.根据权利要求3所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述过流保护线路设有设有第二芯片、电容C398、电阻R374、电阻R266、电阻R265，所述第二芯片的5引脚接入所述第一芯片的2引脚输出的5V电压，所述电容C398一端与所述第二芯片的4引脚电连接，所述电容C398另一端接地，所述电阻R374一端与所述第二芯片的3引脚电连接，所述电阻R374另一端与所述第二芯片的2引脚电连接并接地，所述第二芯片的1引脚与所述电阻R266一端电连接，所述电阻R266另一端与所述电阻R265一端电连接，所述电阻R265另一端接地。


5.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述风扇线路设有电阻R307、电阻R308、二极管D15、风扇、三极管Q16、电阻R309、电阻R310，所述电阻R307一端接入VCC，所述电阻R307另一端与所述电阻R308一端电连接，所述电阻R308另一端接入正11V电压，所述二极管D15的K端分别与所述电阻R307、所述电阻R308和所述风扇的2引脚电连接，所述二极管D15的A端分别与所述三极管Q16的集电极和所述风扇的1引脚电连接，所述三极管Q16的基极分别与所述电阻R309和电阻R310的一端电连接，所述电阻R309另一端与所述三极管Q16的发射极电连接并接地。


6.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述触摸按键线路设有第三芯片、电阻R338、电容C336、电容C...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋志平，吴兴初，罗钟群，
申请(专利权)人：深圳市爱协生科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44