密封装置检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种密封装置率检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；并在第一预设时间段后采集对应的多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；以此来检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时缩短了密封装置的检测时间，降低了检测成本，增加了密封装置带来的经济收益。增加了密封装置带来的经济收益。增加了密封装置带来的经济收益。

【技术实现步骤摘要】
密封装置检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，特别是涉及一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]大多数密封装置上都有焊接缝、阀门、电缆孔等使密封装置中的气体泄漏到大气中的结构，为了检测一个密封装置是否合格，就需要确定密封装置的泄漏率。为了得到密封装置更为准确的泄漏率，通常会为密封装置输入设计压力的气体对密封装置是否合格进行检测(设计压力指设定在密封装置的最高压力，其值不低于密封装置的工作压力)，然后通过设置在密封装置内的各传感器获取例如可以是温度、压力、湿度等数据，并根据该数据计算得到该密封装置在设计压力下的泄漏率，然后将计算值与设计压力下的最大允许泄漏率进行比对，根据比对结果检测该密封装置是否合格。但通过设计压力对密封装置进行检测，其检测时间较长，且安全性差，容易造成人身伤害以及设备损坏。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，可以通过远低于设计压力的气体检测密封装置的密封性能，进一步判断密封装置是否合格，检测时间短，安全性好。
[0004]本申请实施例的第一方面提供了一种密封装置检测方法，该方法通过密封装置检测设备执行，包括：
[0005]为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；
[0006]在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；
[0007]根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；
[0008]根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；
[0009]根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。
[0010]本申请实施例的第二方面提供了一种密封装置检测装置，该装置包括：
[0011]输入模块，用于为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；
[0012]采集模块，用于在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；
[0013]处理模块，用于根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；
[0014]处理模块，还用于根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；
[0015]处理模块，还用于根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。
[0016]本申请实施例的第三方面提供了一种密封装置检测设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一项方法的步骤。
[0017]本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。
[0018]本申请实施例提供了一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；该试验压力大于标准大气压且小于设计压力；在将试验压力的气体输入至密封装置第一预设时间段后采集对应的多组数据，该数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，并根据试验数据计算得到在试验压力下的最大允许泄漏率，在预设时间段后只需要根据试验压力下的最大允许泄漏率检测该密封装置是否合格，不需要再输入设计压力的气体至该密封装置进行检测，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时由于设计压力在输入密封装置所需的时间以及采集数据所需的时间均大于较低压力下的时间，所以本申请的检测过程在较低压力完成缩短了密封装置的检测时间，且能够降低检测成本，增加密封装置带来的经济收益。
附图说明
[0019]图1为一个实施例中密封装置检测方法的应用环境图；
[0020]图2为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；
[0021]图3为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；
[0022]图4为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；
[0023]图5为一个实施例中密封装置的泄漏率检测装置的结构框图；
[0024]图6为一个实施例中密封装置的泄漏率检测设备的内部结构图。
具体实施方式
[0025]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0026]本申请提供的密封装置的泄漏率检测方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，密封装置检测设备102中的输入模块通过管道与密封装置104连接，密封装置检测设备102中的采集模块设置在密封装置104内并通过网络与密封装置的检测设备102中的处理模块进行通信。密封装置检测设备102能够通过管道为密封装置104输入不同压力的气体，检测设备102中的处理模块能够通过设置在密封装置104内的传感器获取多组不同类型的数据计算得到对应的多个泄漏率，进一步得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率，并根据该试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。其中，密封装置检测设备
102的处理模块可以但不限于是各种计算机设备、独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群。
[0027]在一个实施例中，如图2所示，提供了一种密封装置检测方法，以该方法应用于图1中的密封装置检测设备为例进行说明，包括以下步骤：
[0028]步骤S202，为密封装置输入不同试验压力的气体；所述试验压力大于标准大气压且小于设计压力。
[0029]其中，密封装置例如可以是核电站的安全壳、发酵罐、天然气储藏罐等装置；试验压力为绝对压力，不同试验压力例如可以是0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa等大于标准大气压且小于设计压力的多组试验压力。
[0030]示例性的，密封装置检测设备可以根据压力值为0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa等小于设计压力的多组试验压力确定输入密封装置内气体的质量，然后按照预设的气体质量为密封装置输入不同质量的气体，以使该密封装置内气体压力的压力值等于试验压力的压力值，且在不同的时刻使密封装置内气体的压力值不同。例如，在第一时刻为密封装置输入50kg的气体，该密封装置内的压力为0.15MPa，第二时刻为密封装置输入100kg的气体，该密封装置内可以是有149kg(从第一时刻到第二时刻，密本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种密封装置检测方法，其特征在于，该方法通过密封装置检测设备执行，包括：为所述密封装置输入不同试验压力的气体；所述试验压力大于标准大气压且小于设计压力；在将所述试验压力的气体输入至所述密封装置第一预设时间段后按照预设的时间间隔采集对应的多组数据，所述数据为设置在所述密封装置内的传感器采集的数据；根据所述多组数据计算得到所述密封装置在所述试验压力下的泄漏率；根据多个所述试验压力下的泄漏率、流动方程以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄漏率；根据所述试验压力下的最大允许泄漏率检测所述密封装置是否合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：根据流动方程的约束关系对多个所述试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与所述流动方程对应的综合系数值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述流动方程包括哈根
‑
泊肃叶层流流动方程、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程，所述根据流动方程的约束关系对对多个所述试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与所述流动方程对应的综合系数值包括：将多个所述试验压力下的泄漏率、所述哈根
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泊肃叶层流流动方程以及所述绝热孔流流动方程进行拟合；在拟合结果收敛的情况下，从所述拟合结果中获取所述哈根
‑
泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和所述绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；在拟合结果不收敛的情况下，将多个所述试验压力下的泄漏率、所述尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及所述绝热孔流流动方程进行拟合，从所述拟合结果中获取所述绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和所述尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：根据所述第一综合系数值、所述第二综合系数值以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄...

【专利技术属性】
技术研发人员：方兴，郑登科，翁文庆，李剑波，张伟，
申请(专利权)人：中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：