一种纳米薄膜拉伸实验仪及拉伸试验方法技术

本公开提供了一种纳米薄膜拉伸实验仪及拉伸试验方法，属于材料测试技术领域，包括工作台、激光发射器以及白屏，所述工作台上设有顶部为敞口的储液池，所述储液池通过纳米加载台固定在工作台上，在所述储液池内设有平行底面的第一横梁，在所述储液池的顶部设有纳米定位台，纳米定位台的底部设有竖直放置的反射玻璃，反射玻璃的底部设有与所述第一横梁相平行的第二横梁，第一横梁和第二横梁的底部均设有用于固定纳米薄膜的固定件；所述激光反射器发出的光能够通过反射玻璃发射到白屏上，在远离白屏表面的方向上设有摄像机。白屏表面的方向上设有摄像机。白屏表面的方向上设有摄像机。

【技术实现步骤摘要】
一种纳米薄膜拉伸实验仪及拉伸试验方法


[0001]本公开属于材料测试
，具体是涉及一种纳米薄膜拉伸实验仪及拉伸试验方法。

技术介绍

[0002]这里的陈述仅提供与本公开相关的
技术介绍
，而不必然地构成现有技术。
[0003]纳米薄膜材料是指厚度在1～100nm之间的薄膜材料，并且随着材料厚度缩减至纳米尺度，材料的物理和化学性质都会发生巨大变化，使其既不同于宏观尺度材料也不同于微观尺度下的分子或原子。因此，与宏观尺度下薄膜材料相比，纳米尺度下的薄膜材料在光学、力学、化学和物理等方面表现出了截然不同的性质。并且纳米薄膜材料在催化、传感器、化工、生物医学和光学等方面具有广泛的应用前景。但由于纳米尺度下薄膜材料的特殊性，宏观尺度下测得的材料力学性能参数已不适用于纳米薄膜材料。这导致许多纳米薄膜材料长期停留在实验阶段，无法应用于实践。所以，目前需要一种可适用于纳米尺度薄膜材料的仪器来测量其力学性能参数。本专利技术使用间接测量方法，基于光反射原理与材料力学原理，设计出一种测量纳米薄膜力学性能的仪器。本仪器可以通过简单的操作快速测得纳米薄膜材料的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米薄膜拉伸实验仪，其特征在于，包括工作台、激光发射器以及白屏，所述工作台上设有顶部为敞口的储液池，所述储液池通过纳米加载台固定在工作台上，在所述储液池内设有平行底面的第一横梁，在所述储液池的顶部设有纳米定位台，纳米定位台的底部设有竖直放置的反射玻璃，反射玻璃的底部设有与所述第一横梁相平行的第二横梁，第一横梁和第二横梁的底部均设有用于固定纳米薄膜的固定件；所述激光反射器发出的光能够通过反射玻璃发射到白屏上，在远离白屏表面的方向上设有摄像机。2.如权利要求1所述的一种纳米薄膜拉伸实验仪，其特征在于，第一横梁和第二横梁上设有固定件的一面上设有粘性涂层。3.如权利要求2所述的一种纳米薄膜拉伸实验仪，其特征在于，所述固定件为定位针。4.如权利要求1所述的一种纳米薄膜拉伸实验仪，其特征在于，所述纳米定位台通过U型支架固定在工作台上。5.如权利要求1所述的一种纳米薄膜拉伸实验仪，其特征在于，所述反射玻璃通过支撑固定在纳米定位台上。6.基于权利要求1
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5任一项所述的一种纳米薄膜拉伸实验仪的拉伸试验方法，其特征在于，包括如下过程：控制纳米定位台移动，按照待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶贵根，张彭，王志敏，李新建，薛世峰，张毅，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：