光学器件及光模块制造技术

本发明专利技术涉及光通信技术领域，公开了一种光学器件及光模块，光学器件应用于光模块，光模块包括第一光检测器、第二光检测器以及光纤，光学器件包括入射端、第一全反射面、出射端以及第二全反射面，入射端用于入射光纤，第一全反射面对应所述入射端设置，用于反射经入射端入射的部分光线，以使部分光线出射至光学器件外的第一光检测器，出射端用于出射经入射端入射至光学器件内的剩余光线至光学器件外的光纤，第二全反射面与第一全反射面相背且间隔设置，第二全反射面用于反射镜出射端入射至光学器件内的光线，以使光线出射至光学器件外的第二光检测器。可对光学器件进行入光检测以及回光检测，保障光模块的正常工作。保障光模块的正常工作。保障光模块的正常工作。

【技术实现步骤摘要】
光学器件及光模块


[0001]本专利技术涉及光通信
，尤其涉及一种光学器件及光模块。

技术介绍

[0002]光模块作为光通信中实现电
‑
光
‑
电转换的重要器件，为了保障其正常工作，通常需要对光模块的耦合透镜的光路进行检测。一方面，保障耦合透镜能够正常耦合光信号至光纤，另一方面，避免从耦合透镜的入射端入射光线，并射至光模块的光源导致光模块无法正常工作的情况发生。
[0003]因此，如何对耦合透镜的结构进行设计，使其能满足光模块在工作时对耦合透镜进行入光检测和回光检测，以保障光模块的正常工作成为当下急需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例公开了一种光学器件及光模块，可对光学器件进行入光检测以及回光检测，保障光模块的正常工作。
[0005]第一方面，本专利技术实施例公开了一种光学器件，应用于光模块，所述光模块包括第一光检测器、第二光检测器以及光纤，所述光学器件包括入射端、第一全反射面、出射端以及第二全反射面，所述入射端用于入射光纤，所述第一全反射面对应所述入本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学器件，其特征在于，应用于光模块，所述光模块包括第一光检测器、第二光检测器以及光纤，所述光学器件包括：入射端，所述入射端用于入射光线；第一全反射面，所述第一全反射面对应所述入射端设置，用于反射经所述入射端入射的部分光线，以使所述部分光线出射至所述光学器件外的所述第一光检测器；出射端，所述出射端用于出射经所述入射端入射至所述光学器件内的剩余光线至所述光学器件外的所述光纤；以及第二全反射面，所述第二全反射面与所述第一全反射面相背且间隔设置，所述第二全反射面用于反射经所述出射端入射至所述光学器件内的光线，以使所述光线出射至所述光学器件外的所述第二光检测器。2.根据权利要求1所述的光学器件，其特征在于，所述光学器件具有第一侧以及与所述第一侧相对设置的第二侧，所述第一侧与所述入射端和所述出射端相邻且相连，所述第二侧与所述入射端和所述出射端相邻且相连，所述第一全反射面和所述第二全反射面位于所述第一侧，所述第一全反射面与所述第一侧形成第一夹角α，30
°
＜α＜60
°
或者120
°
＜α＜150
°
，所述第二全反射面与所述第一侧形成第二夹角β，30
°
＜β＜60
°
或者120
°
＜β＜150
°
；当30
°
＜α＜60
°
时，所述部分光线从所述第一侧出射至所述光学器件外的所述第一光检测器；当120
°
＜α＜150
°
时，所述部分光线从所述第二侧出射至所述光学器件外的所述第一光检测器；当30
°
＜β＜60
°
时，所述第二全反射面反射的所述光线从所述第一侧出射至所述光学器件外的所述第二光检测器；当120
°
＜β＜150
°
时，所述第二全反射面反射的所述光线从所述第二侧出射至所述光学器件外的所述第二光检测器。3.根据权利要求2所述的光学器件，其特征在于，所述第一全反射面与所述第二全反射面之间形成第三夹角γ；所述第一夹角为30
°
＜α＜60
°
，所述第二夹角为30...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯坤亮，丁细超，沈培逸，李宗政，
申请(专利权)人：江西欧迈斯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：