用于高刷新率LED阵列的动态像素诊断制造技术

技术编号:28767337 阅读:48 留言:0更新日期:2021-06-09 10:52
用于LED像素阵列的LED控制器包含:响应于行和列选择信号被激活的开关K1;响应于脉冲宽度调制占空比被激活的开关K2;以及提供来自Vbias的电流源的开关K3。像素激活至少部分地由开关K1和K2的状态确定。在操作中,LED像素阵列中的LED像素由开关K1选择,并且对LED像素的故障确定基于Vf总线上确定的Vf来实现。故障确定基于Vf总线上确定的Vf来实现。故障确定基于Vf总线上确定的Vf来实现。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于高刷新率LED阵列的动态像素诊断
[0001]相关申请的交叉引用本申请要求2019年6月28日提交的美国专利申请号16/456,868、2019年6月28日提交的美国专利申请号16/456,874、2018年10月31日提交的欧洲专利申请号18203783.8和2018年9月10日提交的美国临时专利申请号62/729,244的优先权,其中每一项都通过引用被整体结合到本文中。


[0002]本公开一般涉及具有外部数据图像输入的微控制器,该微控制器能够以高速图像刷新速度支持可寻址的LED像素阵列。

技术介绍

[0003]虽然已经使用了支持CMOS电路的LED像素阵列,但是适合于商业用途的实际实施可能面临严重的制造、电力和数据管理问题。可能需要以30

60 Hz的刷新率来控制数以千计的发光像素的单独的光亮度。许多应用都需要高数据刷新率,以及需要支持各种各样的校准、测试和控制方法的系统。

技术实现思路

[0004]在一个实施例中,LED控制器包含图像缓冲器,以保存图像数据。响应于图像数据、LDO状态以及脉冲本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于LED像素阵列的LED控制器,包括:响应于行和列选择信号被激活的开关K1;响应于脉冲宽度调制占空比被激活的开关K2;提供来自Vbias的电流源的开关K3;以及其中,像素激活至少部分地由开关K1和开关K2的状态确定;以及其中,所述LED像素阵列中的LED像素通过开关K1来选择,并且对所述LED像素的故障确定基于Vf总线上确定的Vf来实现。2.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述脉冲宽度调制占空比通过图像数据来确定。3.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,开关K2是p

沟道MOSFET。4.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K3控制LDO。5.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K3是p

沟道MOSFET。6.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述Vf总线被所述LED像素阵列中所有的LED像素共享。7.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K1比所述脉冲宽度调制占空比更快地切换。8.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K1相对于所述脉冲宽度调制占空比异步地切换。9.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K1相对于所述脉冲宽度调制占空比同步地切换。10.根据权利要求1所述的LED控制器,其中,所述开关K1的控制相位与所述脉冲宽度调制占空比的控制相位相反。11.一种用于LED像素阵列的LED控制器,包括:提供行和列选择信号的逻辑;具有占空比的脉冲宽度调制器;所述LED像素阵列中至少部分根据所述脉冲宽度调制器的占空比以及所述行和列选择信号的状态来激活的LED像素;其中对所述LED像素的故障确定基于Vf总线上确定的Vf来实现。12.根据权利要求11所述的LED控制器,其中,所述脉冲宽度调制器的占空比通过图像数据来确定。13.根据权利要求11所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:R
申请(专利权)人:亮锐控股有限公司
类型:发明
国别省市:

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