一种半导体二极管质检装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体二极管质检装置，包括方体，所述方体内部开设有凹槽，所述凹槽内部转动连接有圆盘，所述圆盘外壁固定连接有固定板，所述固定板外壁开设有条形槽，所述条形槽内部滑动连接有滑块，所述滑块外壁远离条形槽一侧固定连接活动杆，所述活动杆远离滑块一端铰接有滑板。本实用新型专利技术通过在方体顶部开设有第一稳定槽，第一稳定槽长度与第二稳定槽长度相等，第一稳定槽宽度小于第二稳定槽宽度，使稳定块无法从第二稳定槽内部滑出，连接杆的加入，使活动块可以带动滑板运动，滑槽的加入，使滑板的运动轨迹得到限制，滑块的截面形状设置为圆形，使滑块和条形槽之间的摩擦阻力大大降低。阻力大大降低。阻力大大降低。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体二极管质检装置


[0001]本技术涉及半导体二极管
，具体涉及一种半导体二极管质检装置。

技术介绍

[0002]二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件。它具有单向导电性能，即给二极管阳极和阴极加上正向电压时，二极管导通。当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止。因此，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开。二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛。特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能。无论是在常见的收音机电路还是在其他的家用电器产品或工业控制电路中，都可以找到二极管的踪迹。目前，市面上的半导体二极管进行质检时，不同型号的二极管需要不同的质检装置。
[0003]因此，专利技术一种半导体二极管质检装置来解决上述问题很有必要。
[0004]在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种半导体二极管质检装置，通过在方体顶部开设有第一稳定槽，使稳定块无法从第二稳定槽内部滑出，在活动块内部设置固定杆，使活动块的稳定性大大增加，在活动块外壁设置连接杆，使活动块可以带动滑板运动，以解决技术中的上述不足之处。
[0006]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体二极管质检装置，包括方体，所述方体内部开设有凹槽，所述凹槽内部转动连接有圆盘，所述圆盘外壁固定连接有固定板，所述固定板外壁开设有条形槽，所述条形槽内部滑动连接有滑块，所述滑块外壁远离条形槽一侧固定连接活动杆，所述活动杆远离滑块一端铰接有滑板，所述凹槽内壁开设有滑槽，所述滑槽与滑板滑动连接，所述滑板外壁远离活动杆一侧固定连接有连接杆，所述连接杆远离滑板一端固定连接有活动块，所述活动块内部贯穿有固定杆，所述固定杆与活动块滑动连接，所述方体顶部开设有第一稳定槽，所述第一稳定槽与凹槽连通，所述第一稳定槽内部开设有第二稳定槽，所述第二稳定槽内部滑动连接有稳定块，所述第一稳定槽内部滑动连接有测试筒，所述测试筒贯穿于稳定块内部，所述稳定块与测试筒固定连接，所述测试筒底端与活动块外壁固定连接。
[0007]优选的，所述活动块外壁远离连接杆一侧固定连接有第一挡块，所述凹槽内壁固定连接有第二挡块，所述第一挡块与第二挡块之间设有弹簧。
[0008]优选的，所述固定板的数量设置为两个，两个所述固定板对称分布于圆盘外壁两侧。
[0009]优选的，所述弹簧一端与第一挡块外壁固定连接，所述弹簧另一端与第二挡块外
壁固定连接。
[0010]优选的，所述滑槽的数量设置为两个，两个所述滑槽均匀分布于凹槽内部。
[0011]优选的，所述第一稳定槽长度与第二稳定槽长度相等，所述第一稳定槽宽度小于第二稳定槽宽度。
[0012]优选的，所述滑块的截面形状设置为圆形，所述第一稳定槽的截面形状设置为方形。
[0013]在上述技术方案中，本技术提供的技术效果和优点：
[0014]通过在方体顶部开设有第一稳定槽，第一稳定槽长度与第二稳定槽长度相等，第一稳定槽宽度小于第二稳定槽宽度，使稳定块无法从第二稳定槽内部滑出，固定杆的加入，使活动块的稳定性大大增加，连接杆的加入，使活动块可以带动滑板运动，滑槽的加入，使滑板的运动轨迹得到限制，滑块的截面形状设置为圆形，使滑块和条形槽之间的摩擦阻力大大降低，该装置在进行半导体二极管质检时，不同型号的二极管不需要不同的质检装置。
附图说明
[0015]为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本技术的整体结构示意图；
[0017]图2为本技术的凹槽俯剖视图；
[0018]图3为本技术的第一稳定槽主剖视图；
[0019]图4为本技术的条形槽俯视图。
[0020]附图标记说明：
[0021]1方体、2凹槽、3圆盘、4固定板、5条形槽、6滑块、7活动杆、8滑板、9滑槽、10连接杆、11活动块、12固定杆、13第一稳定槽、14第二稳定槽、15稳定块、16测试筒、17第一挡块、18第二挡块、19弹簧。
具体实施方式
[0022]现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些示例实施方式使得本公开的描述将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。
[0023]此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多示例实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的示例实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、实现或者操作以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。
[0024]本技术提供了如图1
‑
4所示的一种半导体二极管质检装置，包括方体1，所述方体1内部开设有凹槽2，所述凹槽2内部转动连接有圆盘3，所述圆盘3外壁固定连接有固定
板4，所述固定板4外壁开设有条形槽5，所述条形槽5内部滑动连接有滑块6，所述滑块6外壁远离条形槽5一侧固定连接活动杆7，所述活动杆7远离滑块6一端铰接有滑板8，所述凹槽2内壁开设有滑槽9，所述滑槽9与滑板8滑动连接，所述滑板8外壁远离活动杆7一侧固定连接有连接杆10，所述连接杆10远离滑板8一端固定连接有活动块11，所述活动块11内部贯穿有固定杆12，所述固定杆12与活动块11滑动连接，所述方体1顶部开设有第一稳定槽13，所述第一稳定槽13与凹槽2连通，所述第一稳定槽13内部开设有第二稳定槽14，所述第二稳定槽14内部滑动连接有稳定块15，所述第一稳定槽13内部滑动连接有测试筒16，所述测试筒16贯穿于稳定块15内部，所述稳定块15与测试筒16固定连接，所述测试筒16底端与活动块11外壁固定连接。
[0025]进一步的，在上述技术方案中，所述活动块11外壁远离连接杆10一侧固定连接有第一挡块17，所述凹槽2内壁固定连接有第二挡块18，所述第一挡块17与第二挡块18之间设有弹簧19，使活动块11可以回到原来位置，增加弹簧19的稳定性。
[0026]进一步的，在上述技术方案中，所述固定板4的数量设置为两个，两个所述固定板4对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体二极管质检装置，包括方体(1)，其特征在于：所述方体(1)内部开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)内部转动连接有圆盘(3)，所述圆盘(3)外壁固定连接有固定板(4)，所述固定板(4)外壁开设有条形槽(5)，所述条形槽(5)内部滑动连接有滑块(6)，所述滑块(6)外壁远离条形槽(5)一侧固定连接活动杆(7)，所述活动杆(7)远离滑块(6)一端铰接有滑板(8)，所述凹槽(2)内壁开设有滑槽(9)，所述滑槽(9)与滑板(8)滑动连接，所述滑板(8)外壁远离活动杆(7)一侧固定连接有连接杆(10)，所述连接杆(10)远离滑板(8)一端固定连接有活动块(11)，所述活动块(11)内部贯穿有固定杆(12)，所述固定杆(12)与活动块(11)滑动连接，所述方体(1)顶部开设有第一稳定槽(13)，所述第一稳定槽(13)与凹槽(2)连通，所述第一稳定槽(13)内部开设有第二稳定槽(14)，所述第二稳定槽(14)内部滑动连接有稳定块(15)，所述第一稳定槽(13)内部滑动连接有测试筒(16)，所述测试筒(16)贯穿于稳定块(15)内部，所述稳定块(15)与测试筒(16)固定连接，所述测试筒(16)底端与活动块(11)外壁固...

【专利技术属性】
技术研发人员：华国铭，
申请(专利权)人：苏州福摩斯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：