一种散射法比浊测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种散射法比浊测量装置，包括光源、光束整形组件、比色池、散射信号采集器以及阀基座；比色池设置在光束整形组件后的光路上，当比色池中收容有待测物时，入射至比色池的光线经过比色池时形成直射的透射光及散射的散射光；阀基座设置在透射光的光路上，阀基座为安装有用于控制液体管路的阀的基座，液体管路与反应池连通以用于向反应池输送液体，阀基座用于将透射光反射出散射法比浊测量装置，透射光反射出散射法比浊测量装置的方向偏离光源发出的光线以及散射光的方向。本发明专利技术采用阀基座来将透射光反射出散射法比浊测量装置，在不增加反射体的基础上消除了透射光因反射回光源而对光源出射光功率稳定性造成的影响，提高检测精度。提高检测精度。提高检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种散射法比浊测量装置


[0001]本专利技术涉及浊度测量装置，具体涉及一种散射法比浊测量装置。

技术介绍

[0002]众所周知，用炎症的标示物来观察人体内发炎的迹象以及程度和进程，已知的标示物有白细胞的数目，红细胞沉降速率，急性期蛋白等。C反应蛋白(CRP)就是这样一类急性期蛋白，它的浓度在受不同种刺激，如细菌感染，发炎，手术等后会快速增加，因此在临床上具有重要的指导意义。
[0003]普通C反应蛋白试剂盒检测范围一般在3-200mg/L，最低检测限一般在3-5mg/L，灵敏度较低。在儿科干扰性疾病中，由于普通新生儿C反应蛋白含量较低，常规检测反应不出微小的变化；在心血管疾病诊断方面，CRP<1mg/L为低危险性，1-3mg/L为中度危险性，>3mg/L为高危险性；因此，临床迫切需要检测线更低、检测精度更高的CRP浓度检测方法。近年来，逐步出现超敏C反应蛋白的概念，超敏因其高灵敏度、能检测出较低的C反应蛋白含量，大大迎合了临床的迫切需求。
[0004]常见的CRP检测方法均基于血清样本的乳胶比浊法，存在样本前处理以及相应的分析时间长的问题，因此在全血CRP检测应运而生。全血CRP也是基于乳胶散射法，样本溶血后，里面的抗原遇到吸附有抗体的胶乳颗粒时，抗原抗体结合而出现胶乳凝集。单个胶乳颗粒的大小在入射光波长之内，光线可透过。当两个以上胶乳颗粒凝集时，可阻碍光线透过，使透射光减少，同时散射光增加,其变化程度与胶乳凝集的程度成正比，亦与抗原量成正比，通过测量吸光度或者散射光可以得到抗原的量。
[0005]目前市面上采用乳胶比浊法的CRP测量系统主要缺陷如下：(1)没有识别到经准直透镜、反应池及其他组件对透射光的反射进而造成反射光进入激光器触发激光器外场干涉效应，从而导致激光器输出功率及输出波长不稳定，从而影响测量精度，不能够对超敏区间进行精确的测量。(2)对于透射光的反射吸收处理引入额外的结构或器件，增加了制造成本。

技术实现思路

[0006]本申请内容旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，在本申请提供一种散射法比浊测量装置，所述散射法比浊测量装置包括光源、光束整形组件、比色池、散射信号采集器以及阀基座；
[0007]所述光源用于发出光线；
[0008]所述光束整形组件设置于所述光源发出光线的光路中，用于调整所述光源发出的光线，并将调整后的光线入射至所述比色池；
[0009]所述比色池设置在所述光束整形组件后的光路上，当所述比色池中收容有待测物时，所述入射至所述比色池的光线经过所述比色池时形成直射的透射光及散射的散射光；
[0010]所述散射信号采集器在所述散射光的光路上，用于接收所述散射光以及检测所述
散射光信号；
[0011]所述阀基座设置在所述透射光的光路上，所述阀基座为安装有用于控制液体管路的阀的基座，所述液体管路与所述反应池连通以用于向所述反应池输送液体，所述阀基座用于将所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置，所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置的方向偏离所述光源发出的光线以及所述散射光的方向。
[0012]在进一步的实施例中，所述阀基座包括至少一个基座表面，所述反应池出射的透射光发射至所述基座表面，自所述反应池出射的透射光发射到所述基座表面的入射角不等于90度。
[0013]在进一步的实施例中，所述散射法比浊测量装置外还设有用于对其进行保温的保温层结构，且至少部分所述保温层结构设置在所述阀基座反射出的透射光的光路上，用于吸收被所述阀基座反射出的透射光。
[0014]在进一步的实施例中，所述保温层结构为具有多孔结构的保温棉。
[0015]在进一步的实施例中，所述比色池包括第一侧壁，自所述光束整形组件出射的光线发射至所述第一侧壁，并从所述第一侧壁入射至所述比色池，且自所述光束整形组件出射的光线发射到所述第一侧壁的入射角不等于90度。
[0016]在进一步的实施例中，所述光束整形组件包括准直透镜，所述准直透镜包括靠近所述光源的第一表面，所述第一表面为向所述光源方向凸出的曲面结构。
[0017]在进一步的实施例中，所述第一表面设置有减反膜。
[0018]在进一步的实施例中，所述光源发出的光线的中心光线入射至所述准直透镜的第一表面的入射角不等于90
°
。
[0019]在进一步的实施例中，所述光束整形组件还包括光斑限制光阑，所述光斑限制光阑设置在所述准直透镜与所述比色池之间，所述光斑限制光阑用于控制照射到所述比色池的光斑大小。
[0020]在进一步的实施例中，所述光斑限制光阑的通光孔径为1.5-3.2mm。
[0021]在进一步的实施例中，所述光斑限制光阑在光轴方向上的长度大于5mm。
[0022]在进一步的实施例中，所述光束整形组件还包括小孔光阑，所述小孔光阑设置在所述光源和所述准直透镜之间，所述小孔光阑用于限制入射到所述准直透镜的光束大小。
[0023]在进一步的实施例中，所述散射法比浊测量装置还包括相干光处理器件，所述相干光处理器件设置在反射光反射回所述光源的光路中，所述相干光处理器件用于将反射回所述光源的反射光进行光相位调制。
[0024]在进一步的实施例中，所述相干光处理器件设置在所述光源和所述光束整形组件之间。
[0025]在进一步的实施例中，所述相干光处理器件包括光隔离器、扩散片、毛玻璃中的至少一种。
[0026]在进一步的实施例中，所述散射法比浊测量装置还包括相干光处理器件，所述相干光处理器件设置在所述光源和所述光束整形组件之间，所述相干光处理器件用于对所述光源发出的光线进行光相位调制。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的散射法比浊测量装置采用阀基座来将透射光反射出散射法比浊测量装置，无需额外增加反射体部件，在不增加成本的基础上消除了透射光T因反射回光源而对光源出射光功率稳定性造成的影响，提高
检测精度。
[0027]本专利技术还提供另一种散射法比浊测量装置，所述散射法比浊测量装置包括光源、光束整形组件、比色池、散射信号采集器、反射体以及保温层结构；
[0028]所述光源用于发出光线；
[0029]所述光束整形组件设置于所述光源发出光线的光路中，用于调整所述光源发出的光线，并将调整后的光线入射至所述比色池；
[0030]所述比色池设置在所述光束整形组件后的光路上，当所述比色池中收容有待测物时，所述入射至所述比色池的光线经过所述比色池时形成直射的透射光及散射的散射光；
[0031]所述散射信号采集器设置在所述散射光的光路上，用于接收所述散射光以及检测所述散射光信号；
[0032]所述反射体设置在所述透射光的光路上，用于将所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置，所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置的方向偏离所述光源发出的光线以及所述散射光的方向；
[0033]所述保温层结构包围所述散射法比浊测量装置，用于对所述散射法比浊测量装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射法比浊测量装置，其特征在于，所述散射法比浊测量装置包括光源、光束整形组件、比色池、散射信号采集器以及阀基座；所述光源用于发出光线；所述光束整形组件设置于所述光源发出光线的光路中，用于调整所述光源发出的光线，并将调整后的光线入射至所述比色池；所述比色池设置在所述光束整形组件后的光路上，当所述比色池中收容有待测物时，所述入射至所述比色池的光线经过所述比色池时形成直射的透射光及散射的散射光；所述散射信号采集器在所述散射光的光路上，用于接收所述散射光以及检测所述散射光信号；所述阀基座设置在所述透射光的光路上，所述阀基座为安装有用于控制液体管路的阀的基座，所述液体管路与所述反应池连通以用于向所述反应池输送液体，所述阀基座用于将所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置，所述透射光反射出所述散射法比浊测量装置的方向偏离所述光源发出的光线以及所述散射光的方向。2.如权利要求1所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述阀基座包括至少一个基座表面，所述反应池出射的透射光发射至所述基座表面，自所述反应池出射的透射光发射到所述基座表面的入射角不等于90度。3.如权利要求1所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述散射法比浊测量装置外还设有用于对其进行保温的保温层结构，且至少部分所述保温层结构设置在所述阀基座反射出的透射光的光路上，用于吸收被所述阀基座反射出的透射光。4.如权利要求3所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述保温层结构为具有多孔结构的保温棉。5.如权利要求1所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述比色池包括第一侧壁，自所述光束整形组件出射的光线发射至所述第一侧壁，并从所述第一侧壁入射至所述比色池，且自所述光束整形组件出射的光线发射到所述第一侧壁的入射角不等于90度。6.如权利要求1所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述光束整形组件包括准直透镜，所述准直透镜包括靠近所述光源的第一表面，所述第一表面为向所述光源方向凸出的曲面结构。7.如权利要求6所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述第一表面设置有减反膜。8.如权利要求6所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述光源发出的光线的中心光线入射至所述准直透镜的第一表面的入射角不等于90
°
。9.如权利要求6所述的散射法比浊测量装置，其特征在于，所述光束整形组件还包括光斑限制光阑，所述光斑限制光阑设置在...

【专利技术属性】
技术研发人员：章涛，汪东生，
申请(专利权)人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：