【技术实现步骤摘要】
夹爪式探针夹具及探针夹持设备
[0001]本专利技术涉及晶圆测试领域,进一步地涉及夹爪式探针夹具及探针插持设备。
技术介绍
[0002]在半导体晶圆测试阶段,需要对晶圆上的未封装芯片进行测试,测试过程中会使用到探针卡。探针卡上用到的探针属于高精度探针,这种探针等效直径一般在30um
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100um范围内。探针的特点是尺寸小,比较脆弱,很容易划伤或者损坏,但为了进行测试,在探针卡制作过程中需要将探针安装到陶瓷孔内,该安装过程比较复杂,目前制作工人仍然是工人将探针夹取,然后经过姿态调整以后,将探针安装到孔里面。
[0003]需要指出的是,人工操作的主要缺点如下:第一,夹持力量不稳定,探针容易划伤或损坏;第二,人工操作稳定性不好,探针转移过程中容易损坏;第三,操作人员容易疲劳,植针效率受限。
[0004]综上所述,需要对现有的探针夹取方法进行改进。
技术实现思路
[0005]针对上述技术问题,本专利技术的目的在于提供夹爪式探针夹具及探针夹持设备,所述夹爪式探针夹具能够通过夹取的方式抓 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.夹爪式探针夹具,其特征在于,包括:角度调整机构;夹爪机构,所述夹爪机构连接于所述角度调整机构,所述夹爪机构用于夹持探针,所述角度调整机构用于调整所述夹爪机构的角度。2.根据权利要求1所述的夹爪式探针夹具,其特征在于,其中所述角度调整机构包括旋转件和旋转架,所述旋转架连接于所述旋转件的动力输出轴,所述夹爪机构安装于所述旋转架。3.根据权利要求2所述的夹爪式探针夹具,其特征在于,其中所述夹爪机构包括第一夹持组件、第二夹持组件以及滑动件,其中所述第一夹持组件包括第一安装臂和第一夹持臂,所述第二夹持组件包括第二安装臂和第二夹持臂;所述第一夹持臂安装于所述第一安装臂,所述第二夹持臂安装于所述第二安装臂;所述第一安装臂安装于所述旋转架,所述滑动件安装于所述第一安装臂,所述第二安装臂安装于所述滑动件的滑动杆,并且所述第一夹持臂和所述第二夹持臂相对设置;所述滑动件的所述滑动杆能够被驱动作伸缩运动,以调整所述第一夹持臂和所述第二夹持臂之间的距离。4.根据权利要求3所述的夹爪式探针夹具,其特征在于,其中所述第一夹持组件进一步包括第一延伸臂,所述第一延伸臂安装于所述第一安装臂的一侧;所述第二夹持组件进一步包括第二延伸臂,所述第二延伸臂安装于所述第二安装臂的一侧,并且所述第一延伸臂和所述第二延伸臂相对设置;所述夹爪式探针夹具进一步包括微调旋钮,所述微调旋钮可转动地安装于所述第一延伸臂,所述微调旋钮的头端抵接于所述第二延伸臂,通过旋转所述微调旋钮能够调整所述第一延伸臂和所述第二...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁建,罗雄科,
申请(专利权)人:上海泽丰半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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