一种测试信号接入板和点灯治具制造技术

本申请涉及显示模组检测技术领域，公开一种测试信号接入板和点灯治具。测试信号接入板包括：基材层；数据信号接入部，设置在基材层上，包括至少两排导电触点，导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接；相邻排的导电触点之间交错设置，且相邻排的导电触点之间错开的间距小于显示面板的数据信号测试引线之间的间距。上述测试信号接入板，可以避免pin miss的发生，提高Cell Test的不良检出，提高点灯测试检测的精确性；并且，本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备切割，可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X

【技术实现步骤摘要】
一种测试信号接入板和点灯治具


[0001]本申请涉及显示模组检测
，特别涉及一种测试信号接入板和点灯治具。

技术介绍

[0002]显示模组测试(Cell Test)是采用测试信号分块接入(Block Probe)的方式，以测试信号接入板作为信号连接的载具，将不同的电学信号输入到显示面板中，使显示面板呈现不同的图像画面，显示不良从而检出不良。随着技术发展，LCD行业内主流采用GOA(Gate On Array)架构技术进行显示面板设计，因此Cell Test设计测试信号接入板时，主要选择信号引线全接触(Full Contact) 或者两个短路棒(2D Shorting Bar)两种方案加载信号。
[0003]然而，这两种信号加载方案各有弊端：Full Contact方式很容易扎偏(pinmiss)导致信号错失，且由于测试信号接入板探针之间的距离较小，进而容易发生短路烧伤；而2D Shorting Bar的方式需要引入激光切割的切除设备 (Trimmer)，容易产生切除残留、引线腐蚀等不良，且切除设备固定资产投资很大。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试信号接入板，其特征在于，包括：基材层；数据信号接入部，设置在所述基材层上，包括至少两排导电触点，所述导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接；相邻排的所述导电触点之间交错设置，且相邻排的导电触点之间错开的间距小于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。2.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，每排所述导电触点中，相邻所述导电触点之间的间距小于或等于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。3.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，包括四排所述导电触点，奇数排的所述导电触点对齐设置，偶数排的所述导电触点对齐设置。4.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，所述数据信号接入部还包括导电层，所述导电层设置在所述基材层上，为一体式层结构；所述至少两排导电触点设置在所述导电层上。5.如权利要求4所述的测试信号接入板，其特征在于，还包括至少两根数据信号接入引线，所述至少两根数据信号接入引线设置在所述基材层上；所述导电层与所述至少两根数据信号接入引线中的任意一根或几根引线电连接。6.如权利要求5所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层与两根所述数据信号接入引线电连接。7.如权利要求5所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层设置有镂空部。8.如权利要求7所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层包括第一部分和第二部分；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：程文进，于洋，谢宗添，付火应，吴怀亮，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：