触控侦测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触控侦测方法，包括：启动所述触控屏，并通过自电容扫描所述触控屏各行及各列的自电容变化量差分数据，以获取相应的第一差分数列及第二差分数列；通过互电容扫描获取所述第一差分数列及第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置；以及根据所述参考值及所述参考值的对应位置，对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理；采用还原处理的数据代表触控产生的电容变化量，从而完成触控侦测。所述方法可使差分扫描检测的数据准确的呈现出其实际电容变化量，对触控或其他场景识别有非常高的还原度和可行性。本发明专利技术还提供一种触控侦测装置及电子设备。提供一种触控侦测装置及电子设备。提供一种触控侦测装置及电子设备。

【技术实现步骤摘要】
触控侦测方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术涉及触控
，尤其涉及一种触控侦测方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]在类似于Y-OCTA OLED显示面板上搭载On-cell触控屏，其结构上由于超薄贴合，导致该触控屏极容易受到OLED显示面板的显示噪声(Display Noise)的影响，并且还需要负载一个超大的Base电容(即电极与系统地之间的电容)。要突破这个技术堡垒，现有技术采用的解决方案是在前端扫描的时候同步差分扫描检测。但此方案虽然有效的减掉了触控屏内的显示噪声，但Base电容引起的Loading(负载)也被相应的减掉。
[0003]例如，请一并参阅图1，假设触控屏内有N个感应通道Sx1-SxN。在任意一个时刻(t0)，该N个感应通道Sx1-SxN收到相同的显示屏噪声(Display Noise)N。那么t0时刻每个感应通道感应到的信号分别为Sx1+N(t0)，Sx2+N(t0)，Sx3+N(t0)，
……
，Sx(N-1)+N(t0)，SxN+N(t0)。当采用上述同步差分方式检测时，可以得到N-1组数列：Sx2-Sx1，Sx3-Sx2，Sx4-Sx3，
……
，Sx(N-1)-Sx(N-2)，SxN-Sx(N-1)。显然，当采用同步差分方式处理后，显示屏噪声(Display Noise)N可在差分过程中被完全有效的减掉。然而，在差分过程中，也会把直流分量一并去除，而导致最终的差分数据变成一个没有基准参考的相对变化量。如此，无法确认触控能量的大小，而无法进行一些特殊行为、形态的准确识别。

技术实现思路

[0004]鉴于上述内容，有必要提供一种可对触控屏的差分数据进行有效还原的触控侦测方法、装置及电子设备。
[0005]本专利技术一方面提供一种触控侦测方法，应用于触控屏，所述触控屏为自互一体结构的电容式触控屏，所述触控屏包含检测电极，用以形成自电容和互电容；所述方法包括：
[0006]启动所述触控屏，并通过自电容扫描所述触控屏各行及各列的自电容变化量差分数据，以获取相应的第一差分数列及第二差分数列；
[0007]通过互电容扫描获取所述第一差分数列及第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置；以及
[0008]根据所述参考值及所述参考值的对应位置，对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理；
[0009]采用还原处理的数据代表触控产生的电容变化量，从而完成触控侦测。
[0010]作为一种优选方案，所述方法还包括：
[0011]通过自电容扫描获取所述触控屏各行及各列的自电容变化量数据后获取第一电容数列及第二电容数列；
[0012]定义一差分数据特征；
[0013]利用所述差分数据特征对所述第一电容数列及第二电容数列分别进行差分处理，进而得到所述第一差分数列及第二差分数列。
[0014]作为一种优选方案，所述差分数据特征为集合S＝{S1-Sn，S2-S1，S3-S2，
……
，S(n-1)-S(n-2)，Sn-S(n-1)}。
[0015]作为一种优选方案，获取所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置步骤包括：
[0016]通过互电容扫描，获取所述触控屏的互电容变化量数据，以获得一互容数据阵列；
[0017]获取所述互容数据阵列中每行互容在Y轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第一数列投影；
[0018]获取所述第一数列投影的最小值及所述最小值在所述第一数列投影的位置，并将所述第一数列投影的最小值或所述第一数列投影的最小值的倍数作为所述第一差分数列的参考值；
[0019]获取所述互容数据阵列中每列互容在X轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第二数列投影；以及
[0020]获取所述第二数列投影的最小值及所述最小值在所述第二数列投影的位置，并将所述第二数列投影的最小值或所述第二数列投影的最小值的倍数作为所述第二差分数列的参考值。
[0021]作为一种优选方案，根据所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及其对应位置，采用递归累和的方式或递归作差的方式对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理。
[0022]本专利技术另一方面提供一种触控侦测装置，应用于触控屏，所述触控屏为自互一体结构的电容式触控屏，所述触控屏包含检测电极，用以形成自电容和互电容；所述触控侦测装置包括：
[0023]第一获取模块，用以启动所述触控屏，并通过自电容扫描获取所述触控屏各行及各列的自电容变化量差分数据，进而获取第一差分数列及第二差分数列；
[0024]第二获取模块，用以通过互电容扫描获取所述第一差分数列及第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置；以及
[0025]数据还原模块，用以根据所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置，对获取的第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理，以采用还原处理的数据代表触控产生的电容变化量，从而完成触控侦测。
[0026]作为一种优选方案，所述第一获取模块还用以通过自电容扫描获取所述触控屏各行及各列的自电容变化量数据，进而获取第一电容数列及第二电容数列；所述装置还包括：
[0027]定义模块，用以定义一差分数据特征；
[0028]差分处理模块，用以利用所述差分数据特征对所述第一电容数列及第二电容数列分别进行差分处理，进而得到所述第一差分数列及第二差分数列。
[0029]作为一种优选方案，所述差分数据特征为集合S＝{S1-Sn，S2-S1，S3-S2，
……
，S(n-1)-S(n-2)，Sn-S(n-1)}。
[0030]作为一种优选方案，所述第一获取模块还用以通过互电容扫描获取所述触控屏的互容数据阵列；所述第二获取模块还用以：
[0031]获取所述互容数据阵列中每行互容在Y轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第一数列投影；
[0032]获取所述第一数列投影的最小值及所述最小值在所述第一数列投影的位置，并将所述第一数列投影的最小值或所述第一数列投影的最小值的倍数作为所述第一差分数列的参考值；
[0033]获取所述互容数据阵列中每列互容在X轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第二数列投影；以及
[0034]获取所述第二数列投影的最小值及所述最小值在所述第二数列投影的位置，并将所述第二数列投影的最小值或所述第二数列投影的最小值的倍数作为所述第二差分数列的参考值。
[0035]作为一种优选方案，所述数据还原模块根据所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及其对应位置，采用递归累和的方式或递归作差的方式对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理。
[0036]本专利技术另一方面提供一种电子设备，所述电子设备包括：
[0037]触控屏，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控侦测方法，应用于触控屏，其特征在于，所述触控屏为自互一体结构的电容式触控屏，所述触控屏包含检测电极，用以形成自电容和互电容；所述方法包括：启动所述触控屏，并通过自电容扫描所述触控屏各行及各列的自电容变化量差分数据，以获取相应的第一差分数列及第二差分数列；通过互电容扫描获取所述第一差分数列及第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置；以及根据所述参考值及所述参考值的对应位置，对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理；采用还原处理的数据代表触控产生的电容变化量，从而完成触控侦测。2.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于：所述方法还包括：通过自电容扫描获取所述触控屏各行及各列的自电容变化量数据后获取第一电容数列及第二电容数列；定义一差分数据特征；利用所述差分数据特征对所述第一电容数列及第二电容数列分别进行差分处理，进而得到所述第一差分数列及第二差分数列。3.如权利要求2所述的触控侦测方法，其特征在于：所述差分数据特征为集合S＝{S1-Sn，S2-S1，S3-S2，
……
，S(n-1)-S(n-2)，Sn-S(n-1)}。4.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于：获取所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及所述参考值的对应位置步骤包括：通过互电容扫描，获取所述触控屏的互电容变化量数据，以获得一互容数据阵列；获取所述互容数据阵列中每行互容在Y轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第一数列投影；获取所述第一数列投影的最小值及所述最小值在所述第一数列投影的位置，并将所述第一数列投影的最小值或所述第一数列投影的最小值的倍数作为所述第一差分数列的参考值；获取所述互容数据阵列中每列互容在X轴方向上的绝对值累和/平均绝对值或累和/平均值，以形成相应的第二数列投影；以及获取所述第二数列投影的最小值及所述最小值在所述第二数列投影的位置，并将所述第二数列投影的最小值或所述第二数列投影的最小值的倍数作为所述第二差分数列的参考值。5.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于：根据所述第一差分数列及所述第二差分数列的参考值及其对应位置，采用递归累和的方式或递归作差的方式对所述第一差分数列及第二差分数列进行数据还原处理。6.一种触控侦测装置，应用于触控屏，其特征在于，所述触控屏为自互一体结构的电容式触控屏，所述触控屏包含检测电极，用以形成自电容和互电容；所述触控侦测装置包括：第一获取模块，用以启动所述触控屏，...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖钡，骆志强，
申请(专利权)人：敦泰电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：