一种扫描链构建方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提出一种扫描链构建方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：选取任一寄存器作为扫描链的起始寄存器；基于每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度确定起始寄存器的下一级寄存器；其中，匹配度由寄存器的物理位置信息和基于时钟树(clock tree synthesis，CTS)的路径延迟信息确定；将下一级寄存器作为新的起始寄存器，执行基于每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度确定起始寄存器的下一级寄存器的操作，直到下一级寄存器是芯片中最后一个寄存器；按照起始寄存器和下一级寄存器的关系构建将所有寄存器的扫描链。建将所有寄存器的扫描链。建将所有寄存器的扫描链。

【技术实现步骤摘要】
一种扫描链构建方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及数字集成电路领域，具体涉及一种扫描链构建方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]当前数字芯片设计规模越来越大，制造过程中存在一定的缺陷率，而可测试性设计(Design for Testability，DFT)是在芯片生产制造后将有缺陷的芯片筛选出来的重要保障，而扫描(SCAN)测试是DFT中最重要的测试方法之一。
[0003]SCAN测试中，采用不同的策略将芯片中寄存器串成的一条链叫扫描链，常用扫描链构建方法有基于时钟域串链、基于电源区域串链、基于逻辑层次串链等方式，在具体实现中可以基于其中一种或者混合多种方式进行。
[0004]然而，现有的扫描链构建方法均未考虑物理实现中CTS的影响对扫描链的影响，导致SCAN串链的结果不好，如CTS之后结果不理想，造成扫描链路径上存在setup/holde时序较差、造成面积和功耗的额外增加。
[0005]申请内容
[0006]本申请提供用于扫描链构建方法、装置、设备及存储介质。r/>[0007]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫描链构建方法，其特征在于，包括：选取任一寄存器作为扫描链的起始寄存器；基于每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度确定所述起始寄存器的下一级寄存器；其中，所述匹配度由寄存器的物理位置信息和时序信息确定；将所述下一级寄存器作为新的起始寄存器，执行基于每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度确定所述起始寄存器的下一级寄存器的操作，直到下一级寄存器是芯片中最后一个寄存器；按照起始寄存器和下一级寄存器的关系构建将所有寄存器的扫描链。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选取任一寄存器作为扫描链的起始寄存器，包括：选择时钟延迟最小的寄存器作为扫描链的起始寄存器。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度确定所述起始寄存器的下一级寄存器，包括：基于所述起始寄存器和预设长度确定分析区域；确定所述分析区域中的每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度；将最小匹配度对应的候选寄存器确定为起始寄存器的下一级寄存器。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述起始寄存器和预设长度确定分析区域，包括：以所述起始寄存器为中心，以预设长度为半径确定圆圈区域确定为分析区域。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述分析区域中的每个候选寄存器与起始寄存器的匹配度，包括：对于每个候选寄存器，分别确定候选寄存器与起始寄存器之间的距离和时钟延时信息，以及候选寄存器的保持时间和延时时间；根据所述距离、时钟延时信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭敏强，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：