陶瓷喷涂工艺的质检方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术涉及陶瓷质检技术领域，具体涉及一种陶瓷喷涂工艺的质检方法、系统及计算机可读存储介质，首先控制初始拍摄点位上的工业相机采集包含至少一块陶瓷的检测图像；接着将所述检测图像和预先存储的标准图像进行对比，确定所述检测图像与所述标准图像的灰度偏差，确定所述灰度偏差是否超过预设阈值；若所述灰度偏差超过预设阈值，则调整工业相机的拍摄点位，直至所述工业相机采集到的检测图像与所述标准图像的灰度偏差在预设阈值范围内；当所述灰度偏差在预设阈值范围内时，提取所述检测图像中的陶瓷区域，基于所述陶瓷区域的图像确定所述陶瓷的表面喷涂工艺是否合格；本发明专利技术能够准确表达陶瓷的喷涂工艺，准确获得陶瓷图像的质检结论。

【技术实现步骤摘要】
陶瓷喷涂工艺的质检方法、系统及计算机可读存储介质
本专利技术涉及陶瓷质检
，具体涉及一种陶瓷喷涂工艺的质检方法、系统及计算机可读存储介质。
技术介绍
在陶瓷制造过程中，通常需要采集包含陶瓷的图像，进而通过对图像的识别来确定陶瓷的喷涂工艺是否达到出厂标准；在对陶瓷的图像进行采集时，受光源亮度、陶瓷表面反光等影响，往往对采集的陶瓷表面图像造成干扰，无法准确表达陶瓷的喷涂工艺，导致对陶瓷图像的质检失真。
技术实现思路
本专利技术提供一种陶瓷喷涂工艺的质检方法、系统及计算机可读存储介质，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，所述方法包括以下步骤：步骤S100、控制初始拍摄点位上的工业相机采集包含至少一块陶瓷的检测图像；步骤S200、将所述检测图像和预先存储的标准图像进行对比，确定所述检测图像与所述标准图像的灰度偏差，确定所述灰度偏差是否超过预设阈值；步骤S300、若所述灰度偏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：/n步骤S100、控制初始拍摄点位上的工业相机采集包含至少一块陶瓷的检测图像；/n步骤S200、将所述检测图像和预先存储的标准图像进行对比，确定所述检测图像与所述标准图像的灰度偏差，确定所述灰度偏差是否超过预设阈值；/n步骤S300、若所述灰度偏差超过预设阈值，则调整工业相机的拍摄点位，直至所述工业相机采集到的检测图像与所述标准图像的灰度偏差在预设阈值范围内；/n步骤S400、当所述灰度偏差在预设阈值范围内时，提取所述检测图像中的陶瓷区域，基于所述陶瓷区域的图像确定所述陶瓷的表面喷涂工艺是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
步骤S100、控制初始拍摄点位上的工业相机采集包含至少一块陶瓷的检测图像；
步骤S200、将所述检测图像和预先存储的标准图像进行对比，确定所述检测图像与所述标准图像的灰度偏差，确定所述灰度偏差是否超过预设阈值；
步骤S300、若所述灰度偏差超过预设阈值，则调整工业相机的拍摄点位，直至所述工业相机采集到的检测图像与所述标准图像的灰度偏差在预设阈值范围内；
步骤S400、当所述灰度偏差在预设阈值范围内时，提取所述检测图像中的陶瓷区域，基于所述陶瓷区域的图像确定所述陶瓷的表面喷涂工艺是否合格。


2.根据权利要求1所述的一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，其特征在于，所述步骤S200包括：
计算所述检测图像的平均灰度值和标准图像的平均灰度值的差值，得到所述检测图像与所述标准图像的灰度差值；
计算所述检测图像的灰度梯度值和标准图像的灰度梯度值的差值，得到所述检测图像与所述标准图像的灰度梯度差值；
若所述灰度差值超过预设阈值和/或所述灰度梯度差值超过预设阈值，则确定所述灰度偏差超过预设阈值；
若所述灰度差值超过预设阈值和所述灰度梯度差值均在预设阈值内，则确定所述灰度偏差在预设阈值内。


3.根据权利要求2所述的一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，其特征在于，所述灰度梯度值通过以下任一种方式确定：Roberts梯度、Sobel梯度、Prewitt梯度、Laplacian梯度。


4.根据权利要求1所述的一种陶瓷喷涂工艺的质检方法，其特征在于，所述步骤S300包括：
若所述灰度偏差超过预设阈值，则控制工业相机沿规划拍摄路径上的拍摄点位依次采集检测图像，并实时确定所述检测图像的灰度偏差是否超过预设阈值；
当所述工业相...

【专利技术属性】
技术研发人员：李科，
申请(专利权)人：广东职业技术学院，
类型：发明
国别省市：广东;44