一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法技术

本发明专利技术提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法，在测试区L两端设两个固结区，将多个电阻应变片Y

【技术实现步骤摘要】
一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法
本专利技术属于变形测试
，具体涉及一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法。
技术介绍
电阻应变片测试技术已有数十年发展历史，被大量应用于工程变形检测，是目前使用得最普遍的变形检测手段之一。电阻应变片是一种片状变形传感元件，主要材料是很细的康铜丝，工作原理是：变形后康铜丝被拉长，横截面积减小，电阻值增大；根据电阻值与变形之间的关系，由检测电阻值改变来获得变形数据。生产厂家将康铜丝弯曲成一定形状后用高分子材料固结成片状传感元件，并进行统一标定，批量生产。电阻应变片具有工作原理简单清晰、成本低、易于实施、精度高等特点，得到普遍应用。但是，电阻应变片受康铜丝变形能力的限制，变形过大时，康铜丝会被拉断，有效应变量程通常为1.0%左右。对于利用塑性变形的结构工程、岩土工程等大变形工程而言，电阻应变片的量程显然不够，因此得不到应用，这是目前大变形检测的一个亟待解决的技术问题。
技术实现思路
针对
技术介绍
中存在的问题，本专利技术目的在于提供一种继承性大变形电阻应变片测试结构及本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：在测试点布置多个不同长度的电阻应变片Y

【技术特征摘要】
1.一种继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：在测试点布置多个不同长度的电阻应变片Yi，每个电阻应变片通过导线（2）外接测试仪器（3）；在测试区L两端设两个固结区（1），将电阻应变片Yi两端固结在测试对象（4）上，或者先将电阻应变片Yi固结在测试载体（5）上，再将测试载体（5）固结在测试对象(4)上；在测试区L范围内，第一个电阻应变片Y1的长度为L1=L，其它电阻应变片Yi的长度为Li-1＜Li≤Li-1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，i表示电阻应变片编号，n≥2为应变片数量，δ表示电阻应变片有效测试应变量。


2.根据权利要求1所述的继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：根据测试变形量最大值确定电阻应变片Yi的数量n。


3.根据权利要求1所述的继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：每个电阻应变...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶晓明，陈柏林，郭琪，傅翔，
申请(专利权)人：叶晓明，重庆大恒工程设计有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50