一种集成电路电磁发射多角度测试夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路电磁发射多角度测试夹具，其包括固定于安装座上的壳体，壳体的两端固定有同轴连接头，壳体的顶面设置有矩形窗口，所述安装座的顶部固定有两个位于壳体内的竖向的导向杆，且导向杆上滑动套装有导向环，两个导向环之间固定有横向的夹具座，所述夹具座的顶面设置有圆形的安装槽，且安装槽内转动配合有圆形夹具盘，所述圆形夹具盘的底部固定有与夹具座转动连接的第一连接杆，第一连接杆的下端固定有旋钮。本实用新型专利技术不仅能够用于对电路板进行测试，且还能根据需要调节角度，可同时满足多个角度的测试要求，从而能适应不同的检测标准，不仅操作方便，且也减少了测试结果与实际应用的偏差。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路电磁发射多角度测试夹具
本技术涉及电路板测试领域，尤其涉及一种集成电路电磁发射多角度测试夹具。
技术介绍
随着电子技术的飞速发展，电子产品也向着复杂化和小型化方向发展，产品的结构越来越紧凑，这些发展趋势对集成电路的电磁兼容性要求越来越高。集成电路的发射方式主要是传导发射和辐射发射两种。而国际标准中，一般利用TEM小室测量IC辐射发射水平。TEM小室有一个方形窗口，用于安装测试板，并且可以在0°,90°,180°和270°这四个角度上进行测试。然而，目前使用的TEM小室的测试板及其安装窗口均为方形，限制了角度的选取，由于IC的辐射发射测试可能会有其他角度要求，此结构无法满足多角度测试需求，为此，需要改进。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决了不同角度的测试需求，避免了传统方式的单一性，同时减少了测试结果与实际应用的偏差，有效的保证了实验的可靠性，而提出的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种集成电路电磁发射多角度测试夹具，包括固定于安装座上的壳体，壳体的两本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路电磁发射多角度测试夹具，包括固定于安装座(1)上的壳体(2)，壳体(2)的两端固定有同轴连接头(3)，壳体(2)的顶面设置有矩形窗口，其特征在于，所述安装座(1)的顶部固定有两个位于壳体(2)内的竖向的导向杆(4)，且导向杆(4)上滑动套装有导向环(5)，两个导向环(5)之间固定有横向的夹具座(6)，所述夹具座(6)的顶面设置有圆形的安装槽，且安装槽内转动配合有圆形夹具盘(7)，所述圆形夹具盘(7)的底部固定有与夹具座(6)转动连接的第一连接杆(8)，第一连接杆(8)的下端固定有旋钮(9)，所述夹具座(6)的顶部固定有两个竖向的第二连接杆(10)，两个第二连接杆(10)的上端固...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路电磁发射多角度测试夹具，包括固定于安装座(1)上的壳体(2)，壳体(2)的两端固定有同轴连接头(3)，壳体(2)的顶面设置有矩形窗口，其特征在于，所述安装座(1)的顶部固定有两个位于壳体(2)内的竖向的导向杆(4)，且导向杆(4)上滑动套装有导向环(5)，两个导向环(5)之间固定有横向的夹具座(6)，所述夹具座(6)的顶面设置有圆形的安装槽，且安装槽内转动配合有圆形夹具盘(7)，所述圆形夹具盘(7)的底部固定有与夹具座(6)转动连接的第一连接杆(8)，第一连接杆(8)的下端固定有旋钮(9)，所述夹具座(6)的顶部固定有两个竖向的第二连接杆(10)，两个第二连接杆(10)的上端固定有同一个盖合于矩形窗口上的盖板(12)，两个第二连接杆(10)的相对侧均固定有探头(11)，所述圆形夹具盘(7)的顶面设置有矩形的固定槽，固定槽的侧壁上设置有安装孔，安装孔内安装有固定组件。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具，其特征在于，所述固定组件包括滑动配合于安装孔内的限位块(13)，所述限位块(13...

【专利技术属性】
技术研发人员：张娜娜，
申请(专利权)人：苏州华碧微科检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32