一种闪存芯片的测试装置制造方法及图纸

一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)。使用该装置后，解决操作员手摇升降的体力消耗，也解决了人工操作时快时慢，产量波动，效能损失的问题，极大的提高了设备利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存芯片的测试装置
本专利技术涉及一种闪存芯片的测试装置。
技术介绍
NAND闪存裸片检测，需要逐一上电模拟封装后的环境，测试其性能是否满足封装的要求，满足要求的良品，挑出进行下一步封装，避免浪费制造成本。测试时，在装有测试软件的电脑上，通过USB线缆连接针卡并对针卡供电，搭载主控芯片的PCB为主体的针卡通电后，即模拟出仅缺少NAND闪存的工作环境，这时使用针卡上细如毛发之探针，与晶圆上的每个pad接触，就形成了完整的数据存储系统，通过软件作用于主控，可对连接的晶圆输入信号并采集输出信号，判断芯片功能和性能是否达到设计规范要求，通过软件输出结果，判断晶圆为良品或不良品。原有的手摇升降式晶圆测试机的操作方法：1，将针卡在测试机顶部用螺丝锁定(针卡承载台通过调节旋钮上下移动予以调节)；2，工作台固定镶片形成90°夹角，工作台放入晶圆紧靠镶片，再通过工作台调节旋钮，进行水平前后左右以及水平旋转调节，使探针刚好与晶圆的pad位置一一对应；3，操作手摇杆来回转动180°，带动针卡托架，将工作台上升或下降，完成测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)；/n所述垂直支架(37)垂直安装在测试机底座(31)上，所述控制箱安装在垂直支架(37)的外侧，所述进步电机(38)安装在垂直支架(37)的内侧，该进步电机(38)上具有进步电机导轨(14)，所述测试托架(25)通过导轨滑块(40)可沿着进步电机导轨(14)上下位移；/n所述测试平台位于测试托架(25)的下方，并安装在测试机底座(31)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)；
所述垂直支架(37)垂直安装在测试机底座(31)上，所述控制箱安装在垂直支架(37)的外侧，所述进步电机(38)安装在垂直支架(37)的内侧，该进步电机(38)上具有进步电机导轨(14)，所述测试托架(25)通过导轨滑块(40)可沿着进步电机导轨(14)上下位移；
所述测试平台位于测试托架(25)的下方，并安装在测试机底座(31)上。


2.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述控制箱包括控制箱面板(8)和控制箱后盖(35)，所述控制箱后盖(35)通过控制箱面板(8)与垂直支架(37)连接；
所述控制箱后盖(35)的上部具有步进电机电缆孔(9)，侧面上部具有散热风扇(34)，侧面下部具有测试机开关(32)和测试机电源插孔(33)；所述控制箱面板(8)自上而下依次排列有记忆控制按钮(1)，锁定控制按钮(2)，缓冲控制按钮(3)，扎针控制按钮(4)，恢复原点控制按钮(5)，伺服电机控制按钮(6)，模式控制按钮(7)。


3.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述测试托架(25)的侧部具有测试托架固定孔(18)，该测试托架固定孔(18)用于连接导轨滑块(40)；该测试托架(25)具有急停保护罩(21)和急停微动开关(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王玉伟，
申请(专利权)人：深圳市卓然电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44