【技术实现步骤摘要】
显示面板及其测试系统和测试方法
本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板及其测试系统和测试方法。
技术介绍
现有的显示面板具有显示区与非显示区。非显示区上设有测试端子。测试端子用于在量产中的点亮测试制程里向显示面板输入外部测试信号。现有的显示面板的非显示区包括多个触控测试端子和多个显示测试端子。多个触控测试端子和多个显示测试端子均采用单行间隔设置的方式分布。这样导致触控测试端子和显示测试端子沿显示面板边长方向所占的边长空间比例较大，不利于面板的窄边框设计。此外，现有技术的点亮测试制程中，触控测试电路装置与显示测试电路装置是相互独立的，导致触控测试与显示测试需要分时进行假压连接，这样也大大降低了显示面板的测试效率，影响了量产产能。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种显示面板及其测试系统和测试方法，以实现显示面板窄边框化的同时实现触控测试与显示测试的同步进行，有效提升产能。本申请实施例提供一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述非显示区包括：触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；显...
【技术保护点】
1.一种显示面板，包括显示区和非显示区，其特征在于，所述非显示区包括：/n触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；/n显示测试区，包括间隔排列的多个显示测试端子；/n所述多个触控测试端子设置为至少两行，和/或所述多个显示测试端子设置为至少两行；至少一行所述触控测试端子与所述显示测试端子位于同一行。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种显示面板，包括显示区和非显示区，其特征在于，所述非显示区包括：
触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；
显示测试区，包括间隔排列的多个显示测试端子；
所述多个触控测试端子设置为至少两行，和/或所述多个显示测试端子设置为至少两行；至少一行所述触控测试端子与所述显示测试端子位于同一行。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一行所述多个触控测试端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示测试端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控测试端子的中心点与多个所述显示测试端子的中心点位于同一水平线上。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一行所述触控测试端子均与多个所述显示测试端子同行设置，每一行所述显示测试端子均与多个所述触控测试端子同行设置。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个触控测试端子设置为至少两行，所述触控测试区内的至少一行所述触控测试端子与多个所述显示测试端子位于同一行；
相邻两行触控测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述触控测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个显示测试端子设置为至少两行，所述显示测试区内的至少一行所述显示测试端子与多个所述触控测试端子位于同一行；
相邻两行显示测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述显示测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。
6.一种显示面板的测试系统，其特征在于，包括如权利要求1所述的显示面板、测试压头以及柔性测试电路板；
所述测试压头包括本体、至少两根压条以及限位件，其中，所述本体上开设有用于固定所述压条的凹槽；所述压条位于所述凹槽内，所述压条沿所述凹槽深度方向的厚度大于所述凹槽的深度；所述限位件与所述本体可拆卸连接；相邻两根所述压条中心线之间的距离与相邻两行所述触控测试端子的中心线之间的距离或相邻两行所述显示测试端子的中心线之间的距离相等；
所述柔性测试电路板上对应所述触控测试区设置有触控信号输出区，所述触控信号输出区设置有用于电连接所述触控测试端子的触控信号输出端子；所述柔性测试电路板上对应所述显示测试区设置有显示信号输出区，所述显示信号输出区设置有用于电连接所述显示测试端子的显示信号输出端子；所述柔性测试电路板上还设置有用于输入外部触控信号的触控信号输入端子以及用于输入外部显示信号的显示信号输入端子；
所述多个触控信号输出端子设置为至少两行，和/或所述多个显示信号输出端子设置为至少两行；至少一行所述触控信号输出端子与所述显示信号输出端子位于同一行。
技术研发人员：郭文均，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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