测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种测试系统，用于测试电子产品在设定电压范围内是否能正常工作，包括：供电电源，用于对电子产品提供电压，具有控制电压输出方式以及输出大小的电压开关；参数设定结构，用于设定对电子产品进行测试的预设参数，预设参数包括对电子产品输出的起始电压值、截止电压值、以及由起始电压值到截止电压值的电压变化速率；调节结构，用于按照预设参数调节电压开关，以对电子产品提供不同的电压，以对电子产品进行测试；判断结构，用于在供电电源的输出电压不同于截止电压值，电子产品出现异常时，判断测试不通过；并在供电电源的输出电压为截止电压值，电子产品正常工作时，判断测试通过。本发明专利技术还涉及一种测试方法。

【技术实现步骤摘要】
测试系统及测试方法
本专利技术涉及测试
，尤其涉及一种测试系统及测试方法。
技术介绍
目前的通讯与显示类产品(例如110寸8K终端产品/会议白板/5GDongle产品等)的常规测试中，电压缓升缓降测试是较为重要的一项。通过这一项测试，可以探究产品在一定范围内的低/高电压环境中，是否具有正常工作的能力。例如，某产品标称220V交流供电，但是宣称在120V-240V交流电压范围内都可以正常工作，那么就需要以一定的速率，从220V开始降低/升高供电电压到宣称临界值，来探究产品是否具备这种能力。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种测试系统及测试方法，用于测试电子产品在设定电压范围内是否能够正常工作。为了达到上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案是：一种测试系统，用于测试电子产品在设定电压范围内是否能正常工作，包括：供电电源，用于对电子产品提供电压，具有控制电压输出方式以及输出大小的电压开关；参数设定结构，用于设定对电子产品进行测试的预设参数，所述预设参数包括对电子产品输出的起始电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统，用于测试电子产品在设定电压范围的工作状态，其特征在于，包括：/n供电电源，用于对电子产品提供电压，具有控制电压输出方式以及输出大小的电压开关；/n参数设定结构，用于设定对电子产品进行测试的预设参数，所述预设参数包括对电子产品输出的起始电压值、截止电压值、以及由所述起始电压值到所述截止电压值的电压变化速率，其中，所述截止电压值为所述设定电压范围的两个端值，所述起始电压值位于两个所述端值之间；/n调节结构，用于按照所述预设参数调节所述电压开关，以对电子产品提供不同的电压，以对电子产品进行测试；/n判断结构，用于在所述供电电源的输出电压不同于所述截止电压值，电子产品出现异常时，判断...

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，用于测试电子产品在设定电压范围的工作状态，其特征在于，包括：
供电电源，用于对电子产品提供电压，具有控制电压输出方式以及输出大小的电压开关；
参数设定结构，用于设定对电子产品进行测试的预设参数，所述预设参数包括对电子产品输出的起始电压值、截止电压值、以及由所述起始电压值到所述截止电压值的电压变化速率，其中，所述截止电压值为所述设定电压范围的两个端值，所述起始电压值位于两个所述端值之间；
调节结构，用于按照所述预设参数调节所述电压开关，以对电子产品提供不同的电压，以对电子产品进行测试；
判断结构，用于在所述供电电源的输出电压不同于所述截止电压值，电子产品出现异常时，判断测试不通过；并在所述供电电源的输出电压为所述截止电压值，电子产品正常工作时，判断测试通过。


2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述调节结构包括：
夹持部，用于夹持所述电压开关；
驱动部，用于按照所述预设参数控制所述夹持部移动以夹持所述电压开关，并旋转所述电压开关，以按照所述电压变化速率增大或减小对电子产品输出的电压值。


3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述夹持部包括机械臂、设置于所述机械臂的一端的环形底座、以及设置于所述环形底座的内壁上的多个弧形夹板，多个弧形夹板合围形成用于夹持所述电压开关的夹持空间，所述弧形夹板的形状与所述电压开关的外周面的形状相符。


4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王龙雨，邹祥祥，穆东磊，张海龙，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11