一种外置式GPU芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种外置式GPU芯片测试装置，属于计算机技术领域。一种外置式GPU芯片测试装置，包括测试外壳，测试外壳内滑动连接有滑板，滑板外壁连接有测试座，测试座内连接有GPU主体，测试外壳的顶部连接有U形板，U形板外壁连接有第一电机，第一电机的输出端连接有转轴，转轴远离第一电机的一端穿过U形板并连接有第一转杆，第一转杆外壁连接有第一锥齿轮，第一转杆的底壁连接有L形板，L形板外壁连接有与第一锥齿轮相互啮合的第二锥齿轮；本发明专利技术通过测试外壳来模拟GPU的工作环境，进而降低测试的误差，通过温度探头与GPU相抵，精准测量GPU的温度，且使温度探头呈螺旋状运动去动态测量GPU各个位置的温度，进而降低温度测量时的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种外置式GPU芯片测试装置
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种外置式GPU芯片测试装置。
技术介绍
GPU是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上图像运算工作的微处理器，GPU根据图形图像计算的特点设计，一块GPU设备上通常集成了数百至上千的轻量级计算核心，针对相互独立的SIMD、MIMD计算具有极高的计算能力，由于其并行加速等特性，GPU已经应用到各个领域。GPU在生产时需要对其性能进行测试，GPU性能指标中温度指标比较重要，温度对GPU的影响最大，但在测试过程中大多是开放式的测试温度，GPU在使用的环境是在相对封闭的机箱中，温度和外界有一定的差距，这导致温度测试过程中误差较大。现有技术中专利号为CN202010348397.9的中国专利技术公开了一种GPU性能测试装置，包括测试台，所述测试台顶部外壁的一侧开设有安装口，且安装口的内壁通过螺栓固定有机箱，所述机箱的两侧外壁均开设有矩形口，且两个矩形口的内壁均通过螺栓固定有进气格栅，所述机箱底部内壁均开设有等距离分布的气孔，所述机箱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种外置式GPU芯片测试装置，包括测试外壳（1），其特征在于，所述测试外壳（1）内滑动连接有滑板（2），所述滑板（2）外壁连接有测试座（201），所述测试座（201）内连接有GPU主体（3），所述测试外壳（1）的顶部连接有U形板（4），所述U形板（4）外壁连接有第一电机（5），所述第一电机（5）的输出端连接有转轴，所述转轴远离第一电机（5）的一端穿过U形板（4）并连接有第一转杆（501），所述第一转杆（501）外壁连接有第一锥齿轮（5011），所述第一转杆（501）的底壁连接有L形板（6），所述L形板（6）外壁连接有与第一锥齿轮（5011）相互啮合的第二锥齿轮（601），所述第二锥齿轮（6...

【技术特征摘要】
1.一种外置式GPU芯片测试装置，包括测试外壳（1），其特征在于，所述测试外壳（1）内滑动连接有滑板（2），所述滑板（2）外壁连接有测试座（201），所述测试座（201）内连接有GPU主体（3），所述测试外壳（1）的顶部连接有U形板（4），所述U形板（4）外壁连接有第一电机（5），所述第一电机（5）的输出端连接有转轴，所述转轴远离第一电机（5）的一端穿过U形板（4）并连接有第一转杆（501），所述第一转杆（501）外壁连接有第一锥齿轮（5011），所述第一转杆（501）的底壁连接有L形板（6），所述L形板（6）外壁连接有与第一锥齿轮（5011）相互啮合的第二锥齿轮（601），所述第二锥齿轮（601）外壁连接有第一丝杆（602），所述第一丝杆（602）外壁螺纹连接有套筒（6021），所述套筒（6021）的底部连接有测温机构，所述测试外壳（1）的外壁连接有显示屏（7）。


2.根据权利要求1所述的一种外置式GPU芯片测试装置，其特征在于，所述测温机构包括管体（8），所述管体（8）连接在套筒（6021）的底部，所述管体（8）内壁连接有弹性元件（801），所述弹性元件（801）远离管体（8）内壁的一端连接有温度探头（802），所述温度探头（802）滑动连接在管体（8）内，所述温度探头（802）与GPU主体（3）活动相抵，且所述温度探头（802）与显示屏（7）电性连接。


3.根据权利要求2所述的一种外置式GPU芯片测试装置，其特征在于，所述温度探头（802）两侧外壁均连接有限位块（8021），所述管体（8）内开凿有与限位块（8021）相配合的限位槽（803）。


4.根据权利要求3所述的一种外置式GPU芯片测试装置，其特征在于，所述温度探头（802）的外壁套接有橡胶套（8022），所述橡胶套（8022）的底壁设置有弧形面，且所述橡胶套（8022）与GPU主体（3）活动相抵。


5.根据权利要求4所述的一种外置式G...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永，
申请(专利权)人：中天恒星上海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31