数控机床空间型面的测量方法技术

技术编号:28617114 阅读:53 留言:0更新日期:2021-05-28 16:12
本发明专利技术公开了一种数控机床空间型面的测量方法,包括以下步骤:1)校准测量所使用的红外线探头,使探头的中心与机床主轴中心保持一致;2)将零件固定放置在机床上,完成零件的底面定位和夹紧;3)取待测量零件的平面中心为基准点确定数控机床的坐标系;4)使用校准好的探头探测零件的复合斜面,取零件复合斜面上三点;5)通过测量零件复合斜面三点,从而确定工件找正时C轴的补偿值;6)根据C轴的补偿值运行机床C轴,使该交线和机床X轴重合,则零件倾斜面的最高点和X轴重合,完成坐标系中C轴值补偿,确定零件C轴坐标。本发明专利技术方法通过测量零件复合斜面三点,测量出平面与机床坐标系C轴的位置关系,从而确定工件找正时C轴的补偿值。

【技术实现步骤摘要】
数控机床空间型面的测量方法
本专利技术涉及数控加工及测量技术,尤其涉及一种数控机床空间型面的测量方法。
技术介绍
目前,国际上多轴数控加工中心包含找正、测量模块。自带的循环(如;海德汉系统431测量模块)测量平面功能,通过测量平面与坐标系A、B两旋转轴的角度,使被探测平面和主轴垂直。但无法找出该测量面与C轴的位置关系。无法借助其它特征确定零件C轴坐标值时,该功能无法实现实际需求。在日常应用中,有很大的局限性。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷,提供一种数控机床空间型面的测量方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种数控机床空间型面的测量方法,包括以下步骤:1)校准测量所使用的红外线探头,使探头的中心与机床主轴中心保持一致;2)零件固定放置在机床上,完成零件的底面定位和夹紧;3)取待测量零件的平面中心为基准点确定数控机床的坐标系,包括X轴、Y轴、Z轴、A轴、B轴、C轴,使待测量零件的复合斜面最高点处与X轴正方向重合;4)使用校准好的探头探测零件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数控机床空间型面的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n1)校准测量所使用的红外线探头,使探头的中心与机床主轴中心保持一致;/n2)将零件固定放置在机床上,完成零件的底面定位和夹紧;/n3)取待测量零件的平面中心为基准点确定数控机床的坐标系,包括X轴、Y轴、Z轴、A轴、B轴、C轴,使待测量零件的复合斜面最高点处与X轴正方向重合;/n4)使用校准好的探头探测零件的复合斜面,取零件复合斜面上三点,记录这三个点的X、Y、Z坐标;/n5)通过测量零件复合斜面三点,测量出平面与机床坐标系C轴的位置关系,从而确定工件找正时C轴的补偿值;/n6)根据C轴的补偿值运行机床C轴,使该交线和机床X轴重合...

【技术特征摘要】
1.一种数控机床空间型面的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)校准测量所使用的红外线探头,使探头的中心与机床主轴中心保持一致;
2)将零件固定放置在机床上,完成零件的底面定位和夹紧;
3)取待测量零件的平面中心为基准点确定数控机床的坐标系,包括X轴、Y轴、Z轴、A轴、B轴、C轴,使待测量零件的复合斜面最高点处与X轴正方向重合;
4)使用校准好的探头探测零件的复合斜面,取零件复合斜面上三点,记录这三个点的X、Y、Z坐标;
5)通过测量零件复合斜面三点,测量出平面与机床坐标系C轴的位置关系,从而确定工件找正时C轴的补偿值;
6)根据C轴的补偿值运行机床C轴,使该交线和机床X轴重合,则零件倾斜面的最高点和X轴重合,完成坐标系中C轴值补偿,确定零件C轴坐标,然后找正零件X、Y坐标,确定该零件坐标。


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【专利技术属性】
技术研发人员:葛应龙胡炜王帅军金鑫陈峻
申请(专利权)人:航宇救生装备有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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