一种短物距镜头测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。与现有技术相比，本实用新型专利技术通过在遮光主体的内部设有一可滑动的镜头测试载台，方便安装和拆卸待测镜头，可以解决微距镜头物距短，镜头取放操作困难的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种短物距镜头测试治具
本技术涉及光学光电
，更具体的说是涉及一种短物距镜头测试治具。
技术介绍
现有的微距镜头物距短，物距在1.5mm-3mm间，在如此短的距离下，镜头取放操作困难。因此，如何提供一种可以解决上述问题的短物距镜头测试治具是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种短物距镜头测试治具，其不仅具有结构简单，而且操作方便。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，在所述遮光主体的顶部中心位置上固定有一可见光光源，所述可见光光源下端电电连接有所述标准Chart。优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，所述遮光主体的内侧底部开设有所述滑轨，所述滑台在所述滑轨上移动，且所述滑轨延伸出所述遮光主体一定距离。优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，所述成像芯片与主控电脑和测试软件电连接。经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本技术通过在遮光主体的内部设有一可滑动的镜头测试载台，方便安装和拆卸待测镜头，可以解决微距镜头物距短，镜头取放操作困难的问题。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1附图为本技术的状态1结构示意图。图2附图为本技术的状态2结构示意图。图3附图为本技术的滑台的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅附图1、附图2、附图3，为本技术公开的一种短物距镜头测试治具，具体包括：遮光主体1，在所述遮光主体1的内部的上端面设有一标准Chart2；所述遮光主体1的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台3、成像芯片4、物距微调平台5以及滑台6；其中，所述镜头测试载台3的中心位置设有待测镜头槽31；所述滑台6底部设有开有一滑槽61，所述滑槽61内移动放置有滑轨7。为了进一步优化上述技术方案，在所述遮光主体1的顶部中心位置上固定有一可见光光源8，所述可见光光源下端电电连接有所述标准Chart。为了进一步优化上述技术方案，所述遮光主体1的内侧底部开设有所述滑轨7，所述滑台6在所述滑轨7上移动，且所述滑轨7延伸出所述遮光主体一定距离。为了进一步优化上述技术方案，所述成像芯片4与主控电脑和测试软件电连接。为了进一步优化上述技术方案，本技术中标准Chart和成像芯片为现有技术，在本技术中不在赘述。为了进一步优化上述技术方案，本技术的工作原理为：如附图1-3所示，先在镜头测试载台的待测镜头槽内放上镜头，通过滑轨把镜头测试载台移动到遮光主体内，通过物距调节平台把物距调整到规定范围，然后接通可见光光源电源，打开成像芯片的主控电脑及测试软件，然后开始通过软件测试，测试软件会通过标准Chart计算出各个视场的MTF值，判定镜头性能结果，测试完毕通过滑轨把镜头测试载台滑出去下测试完毕镜头，整个操作完成。本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本技术。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本技术将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。/n

【技术特征摘要】
1.一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。


2.根据权利要求1所述的一种短物距镜头测试治具，其特征在于，在所述遮光...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕洪伟，
申请(专利权)人：湖北华鑫光电有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42