一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具制造技术

技术编号:28530866 阅读:32 留言:0更新日期:2021-05-20 00:19
本实用新型专利技术涉及一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所述测量机构可向远离和靠近所述支撑机构的方向转动。本实用新型专利技术通过驱动机构推支撑机构退出测量位置,便于放置和取下工件,且通过驱动机构抬起测量机构,操作方便,测量时只需要反向转动手柄即可,操作简单,且更换下一个零件后,不需要重新调整触头的位置,操作步骤少,操作方法简单,测量效率高。测量效率高。测量效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具


[0001]本技术涉及一种检测装置,特别是一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具。

技术介绍

[0002]目前,测量结合齿圈锁齿面对称度常用的方法是:布置两个测点,采用两块千分表进行测量,通过观察两块千分表的示值差计算出对称度误差。上述结合齿圈锁齿面对称度的测量方法操作性差,需要操作这观察并记录两千分表的数值并计算出示值查,人工劳动力大。且取放工件不便,且测量后取下零件时,千分表也需要移开,更换下一个零件后,需要触头重新对准测量面,导致每次更换零件时都需要重新调整千分表的位置,操作麻烦,工作效率低。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种操作方便的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具。
[0004]为实现上述目的,本技术提供一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下,所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下,所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所述测量机构可向远离和靠近所述支撑机构的方向转动;以及机架,用于支撑所述支撑机构、测量机构、定位机构和驱动机构。2.根据权利要求1所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的支撑机构包括:定位台,用于放置所述齿圈;定位柱,与所述定位台同轴设置,固定于所述定位台的上方,用于定位所述齿圈内孔;以及滑动组件,位于所述定位台的下方,用于支撑所述定位台;在所述驱动机构的作用下,在所述滑动组件的带动下,所述定位台及定位柱向远离或靠近所述测量机构的方向移动。3.根据权利要求2所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的滑动组件包括:滑动座;以及固定座;其中,所述固定座固定于所述机架上,顶面上设有滑轨,所述滑动座位于所述定位台的下方,并滑动连接在所述固定座上,其底面上设有与所述滑轨适配的滑块,所述滑轨和所述滑块形成滑动副。4.根据权利要求2所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的定位台为圆盘状,该定位台的至少一侧面为平面,进行测量工作时,所述平面位于靠近所述测量机构的一侧。5.根据权利要求1所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:庞五江王新川何胜利
申请(专利权)人:三门峡中测量仪有限公司
类型:新型
国别省市:

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