一种提高精度的磁光克尔测量调节装置制造方法及图纸

一种提高精度的磁光克尔测量调节装置，包括第一底座，所述第一底座上设有X轴滑轨，所述X轴滑轨上安装有第一电动滑台，所述第一电动滑台连接有Y轴滑轨，所述Y轴滑轨上安装有第二电动滑台，所述第二电动滑台上安装有气缸，所述气缸连接固定块，圆柱形旋转杆横穿过固定块，圆柱形旋转杆一端的凸台连接有固定座；所述底座的一侧还设有水准仪，所述水准仪包括升缩杆和薄膜,所述薄膜上设有圆孔。能够准确调节光学器件位置，提高磁光克尔测量的精度。提高磁光克尔测量的精度。提高磁光克尔测量的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种提高精度的磁光克尔测量调节装置


[0001]本技术属于磁光克尔效应测量领域，具体涉及一种提高精度的磁光克尔测量调节装置。

技术介绍

[0002]磁光克尔效应测量装置是材料表面磁性研究中的一种重要手段，其工作原理是基于光与磁化介质间相互作用而引起的磁光克尔效应，其不仅能够进行单原子层厚度材料的磁性检测，而且可实现非接触式测量，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向异性、层间耦合和磁性超薄膜的相变行为等方面的研究中都有重要应用。磁光克尔效应测量装置主要是通过检测一束线偏振光在材料表面反射后的偏振态变化引起的光强变化进行样品表面的磁化观测。在磁光克尔效应测量过程中，需要将所需要的光学元件的位置调整到对应位置，使得对应的光路达到准直状态，才能得到准确的测量结果。
[0003]如公布号为CN205280568U公开了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其由导轨、平衡调节孔和水准仪组成；导轨的长度应能容纳实验所放置的若干个光具座，并满足一定的光路间距需要；导轨顶部凸起部分与实验用光具座匹配，所有光具座螺丝拧紧后，其中轴线处于同一直线；导轨远端的两个平本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高精度的磁光克尔测量调节装置，包括第一底座(1)，其特征在于：所述第一底座(1)上设有X轴滑轨(2)，所述X轴滑轨(2)上安装有第一电动滑台(3)，所述第一电动滑台(3)连接有Y轴滑轨(5)，所述Y轴滑轨(5)上安装有第二电动滑台(6)，所述第二电动滑台(6)上安装有气缸(15)，所述气缸(15)连接固定块(7)，圆柱形旋转杆(9)横穿过固定块(7)，圆柱形旋转杆(9)一端的凸台(91)连接有固定座(8)；所述第一底座(1)的一侧还设有水准仪(10)，所述水准仪(10)包括升缩杆(13)...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘卫滨，
申请(专利权)人：北京东方晨景科技有限公司，
类型：新型
国别省市：