一种用于集成电路加工用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于集成电路加工用测试装置，包括工作台和检测台体，工作台的顶部固定安装有检测台体，检测台体和工作台之间呈凸型结构设置，检测台体相对两侧的工作台上设有夹持件，检测台体一侧的工作台上设有通风口，工作台远离通风口的一侧设有散热口，散热口内固定安装有散热风扇，散热口和通风口之间的检测台体内部设有散热组件，散热组件的顶部与检测台体的底部接触，工作台的顶部固定安装有防护罩，防护罩的一侧呈开口设置；本实用新型专利技术结构紧凑，促进工作台内空气流通，散热组件改善测试装置散热性能，降低温度对集成电路测试精度影响，夹持件对集成电路下压夹持固定，夹持简单、易行，提高测试设备抗干扰性能。提高测试设备抗干扰性能。提高测试设备抗干扰性能。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路加工用测试装置


[0001]本技术涉及测试装置，特别涉及一种用于集成电路加工用测试装置，属于电路测试


技术介绍

[0002]随着科技不断的进步，电子产品快速发展，集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，集成电路在加工时通过集成电路测试仪测试，集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。
[0003]目前集成电路测试仪在使用过程中，测试仪设备产生的热量、以及被测试元件松动、偏动均会造成集成电路测试结果存在误差，测试仪受外界因素干扰影响较大，实用性不强。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是克服现有技术目前集成电路测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路加工用测试装置，其特征在于：包括工作台(1)和检测台体(2)，所述工作台(1)的顶部固定安装有检测台体(2)，所述检测台体(2)和工作台(1)之间呈凸型结构设置，所述检测台体(2)相对两侧的工作台(1)上设有夹持件(3)，所述检测台体(2)一侧的工作台(1)上设有通风口(4)，所述工作台(1)远离通风口(4)的一侧设有散热口(6)，所述散热口(6)内固定安装有散热风扇(7)，所述散热口(6)和通风口(4)之间的检测台体(2)内部设有散热组件(5)，所述散热组件(5)的顶部与检测台体(2)的底部接触，所述工作台(1)的顶部固定安装有防护罩(8)，所述防护罩(8)的一侧呈开口设置。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路加工用测试装置，其特征在于：所述散热组件(5)包括基板(51)、散热片(52)和散热通道(53)，所述基板(51)的顶部固定安装有等间距分布的散热片(52)，相邻两个所述散热片(52)之间形成散热通道(53)，所述散热通道(53)相对两端的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王景文，周梦，朱双利，
申请(专利权)人：武汉市明佳芯源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：