一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统技术方案

本发明专利技术涉及一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统。首先构造数据矩阵；然后构造采样协方差矩阵；接着根据采样协方差矩阵构造白化矩阵；再根据白化矩阵对信号矩阵、干扰矩阵和待检测数据矩阵进行白化；接着根据白化后的待检测数据矩阵、白化后的信号矩阵和白化后的干扰矩阵构造厄米特矩阵，并计算该矩阵的迹；然后求解协方差矩阵失配量；再根据厄米特矩阵的迹和协方差矩阵失配量构造检测统计量；接着根据系统设定的虚警概率及检测统计量确定检测门限；最后比较检测统计量与检测门限的大小，并判决目标是否存在。本发明专利技术设计的检测器无需独立的滤波和恒虚警处理步骤就可实现干扰抑制和目标检测，且具有恒虚警特性。特性。特性。

【技术实现步骤摘要】
一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统


[0001]本专利技术涉及信号检测
，尤其涉及一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统。

技术介绍

[0002]随着雷达工作带宽的不断提升，雷达的距离分辨能力也不断提高，相应的雷达距离分辨单元不断变小。因此，目标往往呈现出扩展特性，从而占据多个距离分辨单元。由于分辨单元尺寸的减小，每个分辨单元中含有的杂波强散射点减少，增加了不同距离单元之间统计特性不相同的可能性，从而导致环境的非均匀特性。部分均匀是一种典型的非均匀特性，可广泛适用于机载雷达等其他场景，具体指的是，待检测单元的协方差矩阵与训练样本的协方差矩阵具有相同的结构，但具有不同的功率。
[0003]除了杂波环境的非均匀特性以外，雷达的接收数据中往往还含有由敌方释放的干扰或者由友邻雷达/电台/通信设备释放的无意干扰，严重影响雷达探测性能的发挥。

技术实现思路

[0004]为了解决部分均匀环境中存在干扰时的目标检测难题，本专利技术基于自适应检测思想，提供一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器与系统，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：构造待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵；步骤2：根据所述训练样本矩阵构造采样协方差矩阵；步骤3：根据所述采样协方差矩阵构造白化矩阵；步骤4：根据所述白化矩阵对信号矩阵、干扰矩阵和待检测数据矩阵进行白化；步骤5：根据所述白化后的待检测数据矩阵、白化后的信号矩阵和白化后的干扰矩阵构造厄米特矩阵，并计算该矩阵的迹；步骤6：求解协方差矩阵失配量；步骤7：根据所述厄米特矩阵的迹和所述协方差矩阵失配量构造检测统计量；步骤8：根据系统设定的虚警概率及所述的检测统计量确定检测门限；步骤9：比较所述检测统计量与所述检测门限的大小，并判决目标是否存在；所述步骤1中，构造的信号矩阵、干扰矩阵、待检测数据矩阵和训练样本矩阵可分别可表示为、、和,四者的数据维数分别为、、和，表示系统维数，也就是待检测数据矩阵的行数，表示信号矩阵的列数，表示干扰矩阵的列数，表示待检测数据矩阵的列数，表示训练样本的个数，也就是训练样本矩阵的列数；所述步骤5中，根据所述白化后的待检测数据矩阵、白化后的信号矩阵和白化后的干扰矩阵构造的厄米特矩阵为其中，，为维单位矩阵，上标表示矩阵的逆；根据平方根矩阵对信号矩阵进行白化处理；根据平方根矩阵对干扰矩阵进行白化处理；根据平方根矩阵对待检测数据矩阵进行白化处理；所述步骤6中，协方差矩阵失配量通过求解下述方程得到其中，为未知量，表示协方差矩阵失配量，为和中较小的一个，为矩
阵的第个非零特征值，，的取值为1、2、
……
、。2.根据权利要求1所述的一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器，其特征在于：所述步骤2中，根据所述训练样本构造的采样协方差矩阵为其中，上标表示共轭转置。3.根据权利要求2所述的一种部分均匀环境中存在干扰时的扩展目标检测器，其特征在于：所述步骤3中，根据所述采样协方差矩阵构造的白化矩阵为其中，为采样协方差矩阵的特征值分解，为的特征矩阵，为对角矩阵，为的个特征值，。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘维建，杜庆磊，李槟槟，周必雷，陈辉，王永良，
申请(专利权)人：中国人民解放军空军预警学院，
类型：发明
国别省市：