一种用于脉冲电流激发的荧光寿命探测装置制造方法及图纸

本公开提供一种用于脉冲电流激发的荧光寿命探测装置，包括：中控单元，用于发出触发信号，所述触发信号包括第一触发信号、第二触发信号、以及第三触发信号；脉冲发生器，用于在第一触发信号作用下，生成脉冲电流，所述脉冲电流作用于待测样品；激光器，用于在第二触发信号作用下，发出与所述脉冲电流同频率的脉冲激光；数据采集单元，用于对所述脉冲激光进行处理后照射待测样品，并收集所述待测样品被所述脉冲电流作用前后产生的样品荧光后，将所述样品荧光转换为样品荧光强度电信号；以及数据处理及成像单元，用于对所述样品荧光强度电信号进行处理获得样品荧光寿命图像。进行处理获得样品荧光寿命图像。进行处理获得样品荧光寿命图像。

【技术实现步骤摘要】
一种用于脉冲电流激发的荧光寿命探测装置


[0001]本公开涉及荧光寿命探测
，尤其涉及一种用于脉冲电流激发的荧光寿命探测装置。

技术介绍

[0002]荧光物质可以吸收照射在其上的光子，使得基态电子被激发致激发态。而处于激发态的电子受到微小扰动时会以自发辐射跃迁和无辐射跃迁两种形式回到基态，而荧光物质的荧光寿命主要由自发辐射跃迁寿命和无辐射跃迁寿命来决定。
[0003]荧光物质的荧光寿命是指在激发停止时荧光物质的荧光强度下降到荧光最大强度的1/e所需要的时间。而我们可以从荧光寿命获得载流子的动力学过程，以及辐射寿命、非辐射寿命，能量转移等信息。并且相较于光致发光光强，荧光寿命不受激发光强的影响，因而可以更为准确的获得荧光物质发射荧光时的信息。
[0004]目前已有测量荧光寿命的方法有时间相关单光子计数方法(time
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correlated single
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photon counting，TCSPC)，闪频技术(strobe techniques)，相调制法(phase modulation本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于脉冲电流激发的荧光寿命探测装置，包括：中控单元，用于发出触发信号，所述触发信号包括第一触发信号、第二触发信号、以及第三触发信号；脉冲发生器，用于在第一触发信号作用下，生成脉冲电流，所述脉冲电流作用于待测样品；激光器，用于在第二触发信号作用下，发出与所述脉冲电流同频率的脉冲激光；数据采集单元，用于对所述脉冲激光进行处理后照射待测样品，并收集所述待测样品被所述脉冲电流作用前后产生的样品荧光后，将所述样品荧光转换为样品荧光强度电信号；以及数据处理及成像单元，用于对所述样品荧光强度电信号进行处理获得样品荧光寿命图像。2.根据权利要求1所述的荧光寿命探测装置，其中，所述数据采集单元包括：显微成像系统，用于将所述脉冲激光进行处理后照射所述待测样品，并收集所述待测样品被所述脉冲电流作用前后产生的样品荧光；光电探测器，用于接收所述样品荧光，并将其转化为荧光强度电信号；计数器，用于对所述荧光强度电信号进行及储存。3.根据权利要求2所述的荧光寿命探测装置，其中，所述显微成像系统对所述脉冲激光进行处理后照射待测样品，所述待测样品被所述脉冲电流作用前产生的样品荧光为第一荧光，所述待测样品被所述脉冲电流作用后产生的样品荧光为第二荧光。4.根据权利要求2所述的荧光寿命探测装置，其中，所述显微成像系统包括：凸透镜组...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊逢佳，李波，宋杨，徐淮豫，杜江峰，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：发明
国别省市：