通过发光对测量对象的特性进行测量的设备制造技术

一种用于监测测量对象(107b)的设备，包括：具有发射具有波长光谱的光的光源(101)的有源单元(115)和光学检测器(109)。光学链路(104a，104b)将发射光传递到至少一个无源单元(117)。每个无源单元包括传感器(106)和用于将发射光转移到传感器的选择器(105)。传感器包括直接或间接地受到由选择器(105)转移的发射光的影响的发光材料(332、342、905、1002、1107、1109)。传感器(106)对测量对象(107b)的外部影响(107a、107a

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过发光对测量对象的特性进行测量的设备
专利

[0001]本专利技术涉及一种将光学设备用于测量设备的至少一部分的测量技术。
[0002]背景
[0003]在许多
中，需要对测量对象的特性进行测量。这样的特性可以通过电测量方法来测量。
[0004]在许多
中，电测量方法的使用可能是困难的，例如在具有大的电或磁干扰的领域或具有高湿度或高温的领域中。
[0005]光学测量技术可以用于这样的困难领域。光学测量方法在其中有益的测量领域的示例是：
[0006]1)医疗器械，其中电交互是不希望的；
[0007]2)建筑物和基础设施的监测，如温度、湿度、负荷、火警、烟雾；
[0008]3)危险领域，例如对火灾隐患有很高要求的船只、石化工业、核电站；
[0009]4)小组件在其中是有利的移动电话；
[0010]5)服装和紧身衣；
[0011]6)高温和高湿度的测量；
[0012]常规光学测量设备可以包括由例如电池或线电压提供的电力驱动的光源。光经由光纤传输到光学传感器。光学传感器受本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于监测测量对象(107b)的设备，包括：有源单元(115)，所述有源单元具有发射具有波长光谱的光的光源(101)；和光学检测器(109)；一个或几个无源单元(117)；至少一个光学链路(104a，104b)，其用于将来自所述光源的所述发射光传递到所述一个或几个无源单元(117)；其中每个无源单元(117)包括；传感器(106)：选择器(105)，其用于将所述发射光的至少一部分转移到所述传感器(106)；所述传感器(106)包括直接或间接地受到由所述选择器(105)转移的所述发射光影响的发光材料(332、342、905、1002、1107、1109)，其中，所述光源(101)发射例如UV光的波长发射光谱中的光，所述光直接或间接地影响所述发光材料，并且当所述发光材料被所述发射光直接或间接影响时，所述发光材料辐射例如可见光的辐射波长光谱中的光；所述传感器(106)被布置成对所述测量对象(107b)的外部影响(107a、107a
’
、107a”、107a
”’
)敏感，以在所述外部影响(107a、107a
’
、107a”、107a
”’
)期间产生调制信号；由此所述调制信号被传递到所述光学检测器(109)。2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述发光材料是荧光材料(332、342、905、1002、1107)，所述荧光材料被来自所述光源的所述发射光直接照射，以辐射所述辐射波长光谱中的光。3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述发光材料是当受到由包含在所述无源单元中的带电粒子发生器产生的带电粒子影响时辐射在所述辐射波长光谱中的光并且当受到来自所述光源的所述发射光影响时生成带电粒子的材料。4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述选择器(105)包括：光学设备，所述光学设备用于将从所述光学链路(104a)接收的光的至少一部分转移到所述无源单元(117)；固定滤波器(203)，所述固定滤波器用于将来自所述光源的所述发射光的至少一部分传递到所述传感器(106)。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述有源单元(115)包括光学传输滤波器(102)，所述光学传输滤波器具有可调节的UV通带滤波器，所述可调节的UV通带滤波器被布置成传输例如200nm
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250nm、250nm
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300nm、300nm
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350nm和350nm
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400nm或其任意组合的所述多个不同波长光谱的UV光。6.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中光学接收器滤波器(108)被布置在所述光学检测器(109)之前。7.根据前述权利要求中任一项所述的设备，还包括：控制处理器(100)，所述控制处理器用于控制以下项中的至少一项：所述光源(101)和所述光学检测器(109)以及可选的所述光学传输滤波器(102)和可选的所述光学接收器滤波器(108)以及可选的所述光学多路...

【专利技术属性】
技术研发人员：帕特里克，
申请(专利权)人：奥丁韦尔有限公司，
类型：发明
国别省市：