采用小型化频率选择表面的电磁透镜制造技术

技术编号:28446561 阅读:17 留言:0更新日期:2021-05-15 21:07
本发明专利技术提出了一种采用小型化频率选择表面的电磁透镜,包括若干个呈矩阵形式排列成圆形的天线单元,中心位置天线单元和边缘位置天线单元延时一个波长,天线单元包括依次包括第一单元贴片层、第一单元介质层、第一单元栅格层、第二单元介质层、第二单元贴片层、第三单元介质层、第二单元栅格层、第四单元介质层以及第三单元贴片层,第一单元栅格层和第二单元栅格层为金属十字架,且中心镂空一个正方形缺口,并在十字架四角上设置四个L形金属条。发明专利技术通过改变栅格结构带宽增大可以覆盖X波段。通过改变栅格结构带宽增大可以覆盖X波段。通过改变栅格结构带宽增大可以覆盖X波段。

【技术实现步骤摘要】
采用小型化频率选择表面的电磁透镜


[0001]本专利技术属于天线技术,具体为一种采用小型化频率选择表面的电磁透镜。

技术介绍

[0002]平面微波透镜和传统的介质透镜相比有许多优点,有体积小,重量轻,成本低,结构紧凑等特点。传统的平面微波透镜采用单层结构或者单层级联结构,其厚度大,单元尺寸大,带宽小,在面对不同角度入射时效果不佳。2013年,Nader Behdad将小型化频率选择表面应用于X波段的平面微波透镜,这种透镜体积小,单元尺寸小,精度高,不同角度入射时聚焦效果好,但是无法做到全周期覆盖,在面对大面积多周期应用场景时受到限制。

技术实现思路

[0003]本专利技术目的在于提出了一种采用小型化频率选择表面的电磁透镜。
[0004]实现本专利技术目的的技术方案为:一种采用小型化频率选择表面的电磁透镜,包括若干个呈矩阵形式排列成圆形的天线单元,所述中心位置天线单元和边缘位置天线单元延时一个波长,所述天线单元包括依次包括第一单元贴片层、第一单元介质层、第一单元栅格层、第二单元介质层、第二单元贴片层、第三单元介质层、第二单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采用小型化频率选择表面的电磁透镜,其特征在于,包括若干个呈矩阵形式排列成圆形的天线单元,所述中心位置天线单元和边缘位置天线单元延时一个波长,所述天线单元包括依次包括第一单元贴片层(1)、第一单元介质层(2)、第一单元栅格层(3)、第二单元介质层(4)、第二单元贴片层(5)、第三单元介质层(6)、第二单元栅格层(7)、第四单元介质层(8)以及第三单元贴片层(9),所述第一单元贴片层(1)、第二单元贴片层(5)以及第三单元贴片层(9)为完全相同的金属层,所述第一单元栅格层(3)和第二单元栅格层(7)完全相同,所述第一单元栅格层(3)和第二单元栅格层(7)为金属十字架,且中心镂空一个正方形缺口,并在十字架四角上设置四个L形金属条。2.根据权利要求1所述的采用小型化频率选择表面的电磁透镜,其特征在于,所述第一单元贴片层(1)、第二单元贴片层(5)以及第三单元贴片层(9)为金属正方形,边长为p1,边长p1的确定方法为:根据单元贴片层到焦点的距离,确定相位延迟,根据相位延迟与贴片层边长的对应关系,确定第一单元贴片层(1)、第二单元贴片层(5)以及第三单元贴片层(9)的边长。3.根据权利要求2所述的采用小型化频率选择表面的电磁透镜,其特征在于,根据单元贴片层到焦点的距离,确定相位延迟的具体公式为:式中,l1为r1到焦点的距离,l

【专利技术属性】
技术研发人员:宋耀良范源
申请(专利权)人:南京理工大学
类型:发明
国别省市:

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