一种用于检测电子产品高度差的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于检测电子产品高度差的检测装置，包括装置本体，所述装置本体一侧外部表面固定设有第一信号灯，所述第一信号灯一侧固定设有第二信号灯，所述第二信号灯一侧固定设有第三信号灯，所述出料口一侧固定设有控制开关，所述装置本体内部底部固定设有第一电机，所述第一螺纹杆上螺纹连接有第一滑块，所述第一滑块底部表面固定连接有第一连接杆，所述第一连接杆下端固定连接有测量主体，本实用新型专利技术设置了控制开关、第一信号灯、第二信号灯、第三信号灯、预定高度差范围、第一压力传感器、第二压力传感器、第三压力传感器和测量主体，无需工作人员进行分别测量再求差值，减轻工作人员负担，提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测电子产品高度差的检测装置
本技术涉及一种高度差检测装置，具体是一种用于检测电子产品高度差的检测装置。
技术介绍
在电子产品的加工过程中，经常需要测量两个测量点间的高度差，根据该高度差判断电子产品的姿态、尺寸、安装位置是否符合要求，两个测量点可位于同一电子产品或分别位于两个电子产品。目前，在测量两个测量点的高度差时，需要分别测量两个测量点相对于同一水平面的高度，然后再计算两个高度值的差值，从而得到高度差。现有的技术存在以下问题：现有的“分别测量，再求差值”的方式，操作较为繁琐，在电子产品加工过程中，需要对大量的产品进行检测，如果进行分别测量再求差值，工作量庞大，并且需要进行多次计算，而工作人员的体里和脑力有限，由于较长时间进行精力的高度集中，在测量和计算过程中难免会出现错误，导致检测结果不准确，从而影响产品的合格率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于检测电子产品高度差的检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于检测电子产品高度差的检测装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测电子产品高度差的检测装置，包括装置本体（1），其特征在于：所述装置本体（1）一侧外部表面固定设有第一信号灯（4），所述第一信号灯（4）一侧固定设有第二信号灯（5），所述第二信号灯（5）一侧固定设有第三信号灯（6），所述第三信号灯（6）下侧设有出料口（3），所述出料口（3）一侧固定设有控制开关（2），所述装置本体（1）另一侧表面设有进料口（27），所述装置本体（1）内部底部固定设有第一电机（9），所述第一电机（9）设置有两个，所述第一电机（9）输出端固定连接有第一螺纹杆（14），所述第一螺纹杆（14）上螺纹连接有第一滑块（8），所述第一滑块（8）底部表面固定连接有第一连接杆（7）...

【技术特征摘要】
1.一种用于检测电子产品高度差的检测装置，包括装置本体（1），其特征在于：所述装置本体（1）一侧外部表面固定设有第一信号灯（4），所述第一信号灯（4）一侧固定设有第二信号灯（5），所述第二信号灯（5）一侧固定设有第三信号灯（6），所述第三信号灯（6）下侧设有出料口（3），所述出料口（3）一侧固定设有控制开关（2），所述装置本体（1）另一侧表面设有进料口（27），所述装置本体（1）内部底部固定设有第一电机（9），所述第一电机（9）设置有两个，所述第一电机（9）输出端固定连接有第一螺纹杆（14），所述第一螺纹杆（14）上螺纹连接有第一滑块（8），所述第一滑块（8）底部表面固定连接有第一连接杆（7），所述第一连接杆（7）下端固定连接有测量主体（26），所述测量主体（26）下侧固定设有固定槽（12），所述固定槽（12）两侧表面固定连接有电动伸缩杆（13），所述电动伸缩杆（13）设置有两个，所述电动伸缩杆（13）一端固定连接有固定夹块（11），所述固定夹块（11）设置有两个，两个所述固定夹块（11）之间设有被检测电子产品（10），所述固定槽（12）两侧设有传送带（28）。


2.根据权利要求1所述的一种用于检测电子产品高度差的检测装置，其特征在于：所述测量主体（26）一侧外部表面设有预定高度差范围（17），所述测量主体（26）顶部固定设有第二电机（15），所述第二电机（15）输出端固定连接有第二螺纹杆（16），所述第二螺纹杆（16）上螺纹连接有...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛小青，
申请(专利权)人：苏州青瑞轩精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32