【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试领域，更确切地说，涉及。
技术介绍
边界扫描技术通过在器件输入输出管脚与内核电路之间置入边界扫描单元来提高器件的可控性和可观察性，革新了器件及其外围电路的测试方式。它的提出是为了解决电路板上互连测试的问题，后来发展到应用于逻辑芯片的在板编程和FLASH的在板编程等多种场合。目前，绝大多数芯片都支持边界扫描测试。为便于叙述，将与本专利技术有关的边界扫描相关缩略语和术语列举如下JTAGJoint Test Action Group，联合测试行动组；BSBoundary Scan，边界扫描；BSCBoundary Scan Cell，边界扫描单元；TCKTest ClocK，测试时钟；TAPTest Access Port，测试存取端口；TDITest Data Input，测试数据输入；TDOTest Data Output，测试数据输出；TMSTest Mode Select，测试模式选择；TRSTTest Reset，测试复位；BSDLBoundary-Scan Description Language，边界扫描描述语言。如图1所示，一个边界...
【技术保护点】
一种自动调整测试数据输出端口数据采样点的装置，其特征在于，包括有：扫描单元，用于使用测试数据对扫描链路进行扫描，并根据扫描结果判断采样点是否可靠，并在采样点可靠时输出测试成功信息；调整单元，用于设置扫描单元的初始采样点，并在 扫描单元确定采样点不可靠时使所设置的采样点延迟预定时间；第一判断单元，用于判断所述调整单元设置的采样点时间值是否低于预定的下限并在确定采样点时间值不低于预定的下限时将所述设置的采样点发送到扫描单元，并在确定延迟预定时间后的采样点时间 值低于预定采样点下限时，输出测试失败的信息。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：滑思真，李颖悟，徐光晓，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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