显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法制造方法及图纸

公开了显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法。显示装置包括：显示面板，其被分为显示区域和非显示区域，使得数据线和栅极线以交叉的方式布置在显示区域中，从而以矩阵的形式限定像素；复用器，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的一侧；自动探针(AP)测试电路，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的另一侧；以及数据驱动器，其用于通过复用器向显示面板的数据线供应数据电压。复用器和AP测试电路可以检测连接至每条数据线的链路线的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法相关申请的交叉引用本申请要求于2019年11月7日提交的韩国专利申请第10-2019-0141734号的权益，其通过引用并入于此，如同在本文中完全阐述一样。
本专利技术涉及显示装置，并且更具体地涉及能够检测数据链路线的缺陷的显示装置和链路线缺陷检测方法。
技术介绍
随着依赖信息的社会的最新进展，已经增加了对于被配置成显示图像的平板显示装置的各种需求。近年来，已经使用了诸如液晶显示(LCD)装置和有机发光显示(OLED)装置的平板显示装置。LCD装置的制造过程包括基板清洁过程、基板图案化过程、取向膜形成/摩擦过程、基板组装过程、液晶滴下(liquidcrystaldropping)过程、驱动电路安装过程、测试过程、修复过程和液晶模块组装过程。在基板清洁过程中，使用清洁溶液去除污染显示面板中的上玻璃基板和下玻璃基板的表面的异物。在基板图案化过程中，在下玻璃基板上形成包括数据线和栅极线的信号线、薄膜晶体管(TFT)、像素电极、公共电极等。另外，在上玻璃基板上形成黑矩阵、滤色器等。在取向膜形成/摩擦过程中，将取向膜分别涂覆在玻璃基板上，并且使用摩擦布摩擦取向膜或者对取向膜进行光取向处理。通过上述连续的过程，在下玻璃基板上形成TFT阵列。TFT阵列包括：数据线，向其供应视频数据电压；栅极线，其与数据线交叉并且顺序地向其供应扫描信号即栅极脉冲；TFT，其形成在数据线和栅极线的交叉点处；分别连接至TFT的像素电极；存储电容器等。在以扭曲向列(TN)模式或垂直取向(VA)模式驱动液晶的垂直电场驱动系统中，公共电极形成在上玻璃基板上。在另一方面，在以面内切换(IPS)模式或边缘场切换(FFS)模式驱动液晶的水平电场驱动系统中，公共电极与像素电极一起形成在下玻璃基板上。偏振板分别被接合至上玻璃基板和下玻璃基板。在基板组装过程和液晶滴下过程中，在上玻璃基板和下玻璃基板之一上绘制(draw)密封剂，并且然后滴下液晶。之后，通过密封剂将上玻璃基板和下玻璃基板接合。所得到的液晶层被定义为由密封剂限定的液晶区域。在驱动电路安装过程中，使用玻璃上芯片(COG)工艺或带载自动封装(TAB)工艺通过各向异性导电膜(ACF)将集成有数据驱动电路的集成电路(IC)接合至显示面板的数据焊盘。可以使用面板内栅极(GIP)工艺将栅极驱动电路直接形成在下玻璃基板上，或者可以在驱动电路安装过程中使用TAB工艺将栅极驱动电路接合至显示面板的栅极焊盘。在驱动电路安装过程中，IC和印刷电路板(PCB)连接至柔性电路板例如柔性印刷电路板(FPCB)或柔性扁平线缆(FFC)。该过程包括对驱动电路的测试、对形成在TFT阵列基板上的数据线、栅极线等的线测试、在形成像素电极之后进行的测试、在基板组装和液晶滴下之后进行的电气测试、接通测试等。在修复过程中，将修复在测试过程中发现的缺陷。在通过执行上述连续的过程完成显示面板之后，执行液晶模块组装过程。在液晶模块组装过程中，将背光单元在显示面板下方对准，并且使用工具例如引导件/套管构件来组装显示面板和背光单元。可以执行自动探针测试。在自动探针测试中，在执行驱动电路安装过程之前，对显示面板的基板执行接通测试，以便检查基板上的信号线缺陷或薄膜图案缺陷。为了能够执行自动探针测试，在下玻璃基板上布置：接触自动探针测试装置的针的自动探针测试焊盘(以下被称为“AP焊盘”)和要连接至AP焊盘的信号线(以下被称为“AP线”)，以及各自连接在AP线与数据线中的相应一条数据线之间的AP开关。同时，在TFT阵列基板上形成复用器(MUX)，以减少数据驱动电路的输出引脚的数目。复用器布置在数据驱动电路与数据线之间。也就是说，数据驱动电路的输出通道通过复用器分别连接至数据线。数据驱动电路从时序控制器接收图像数据，在时序控制器的控制下将所接收到的图像数据转换成模拟电压，并且将经转换的模拟电压作为数据电压输出。在时序控制器的控制下，复用器对从数据驱动电路输出的数据电压进行分配。当复用器是1：3复用器时，复用器对通过数据驱动电路的一个输出通道输出的数据电压进行时分，并且因此将时分后的数据电压供应至三条数据线。因此，当使用这样的1：3复用器时，数据驱动电路中的输出引脚的数目可以减少到原来的1/3。然而，在常规的自动探针测试方法中，不可能对连接数据焊盘和数据线的数据链路线进行开路/短路测试。
技术实现思路
因此，本公开内容涉及显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法，上述显示装置和方法基本上消除了由于相关技术的局限性和缺点引起的一个或更多个问题。本专利技术的目的是提供显示装置和链路线缺陷检测方法，上述显示装置和链路线缺陷检测方法能够使用用于自动探针(AP)测试的AP开关和被配置成减少数据驱动电路中的输出引脚的数目的复用器来检测数据链路线的缺陷。本专利技术的其他优点、目的和特征将在随后进行的描述中部分地阐述，并且对于本领域普通技术人员而言在查阅以下内容时将部分地变得明显，或者可以从对本专利技术的实践中获知。本专利技术的目的和其他优点可以通过在撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现和获得。为了实现这些目的和其他优点，并且根据本专利技术的目的，如在本文中具体实施和广泛描述的，显示装置包括：显示面板，其被分为显示区域和非显示区域，使得数据线和栅极线以交叉的方式布置在显示区域中，从而以矩阵的形式限定像素；复用器，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的一侧；自动探针(AP)测试电路，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的另一侧；以及数据驱动器，用于通过复用器向显示面板的数据线供应数据电压，其中，复用器和AP测试电路检测分别连接至数据线的链路线的缺陷。AP测试电路可以包括多个AP焊盘以及连接在数据线与多个AP焊盘之间的多个AP开关元件。在进行AP测试和链路线的缺陷检查时，可以接通多个AP开关元件。当进行链路线的缺陷检查时，可以将正(+)数据电压施加至多个AP焊盘中的奇数编号的AP焊盘，并且可以将负(-)数据电压施加至多个AP焊盘中的偶数编号的AP焊盘。复用器可以包括：多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间，并且由第一复用器(MUX)控制信号控制，其中n是自然数；多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制；以及多个第三复用器开关元件，所述多个第三复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间，并且由第三MUX控制信号控制。在进行链路线的缺陷检查时，复用器可以接通第一复用器开关元件以驱动显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像，复用器可以接通第二复用器开关元件以驱动显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像，以及复用器可以接通第三复用器开关元件以驱动显示面板，并且可以检测以暗线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置，包括：/n显示面板，其被分为显示区域和非显示区域，使得数据线和栅极线以交叉的方式布置在所述显示区域中，从而以矩阵的形式限定像素；/n复用器，其在所述显示面板的非显示区域中布置在所述数据线的一侧；/n自动探针AP测试电路，其在所述显示面板的非显示区域中布置在所述数据线的另一侧；以及/n数据驱动器，用于通过所述复用器向所述显示面板的数据线供应数据电压，/n其中，所述复用器和所述AP测试电路检测分别连接至所述数据线的链路线的缺陷，以及/n其中，在执行驱动电路安装过程之前，所述AP测试电路检查所述显示面板的数据线的缺陷或所述像素的薄膜晶体管的缺陷，并且检测分别连接至所述数据线的链路线的缺陷。/n

【技术特征摘要】
20191107 KR 10-2019-01417341.一种显示装置，包括：
显示面板，其被分为显示区域和非显示区域，使得数据线和栅极线以交叉的方式布置在所述显示区域中，从而以矩阵的形式限定像素；
复用器，其在所述显示面板的非显示区域中布置在所述数据线的一侧；
自动探针AP测试电路，其在所述显示面板的非显示区域中布置在所述数据线的另一侧；以及
数据驱动器，用于通过所述复用器向所述显示面板的数据线供应数据电压，
其中，所述复用器和所述AP测试电路检测分别连接至所述数据线的链路线的缺陷，以及
其中，在执行驱动电路安装过程之前，所述AP测试电路检查所述显示面板的数据线的缺陷或所述像素的薄膜晶体管的缺陷，并且检测分别连接至所述数据线的链路线的缺陷。


2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述复用器以时分方式将来自所述数据驱动器的数据电压供应至所述显示面板的数据线。


3.根据权利要求1所述的显示装置，其中：
所述AP测试电路包括：
多个AP焊盘，以及
多个AP开关元件，每个AP开关元件连接在所述数据线中相应之一与所述多个AP焊盘中相应之一之间；以及
所述多个AP开关元件在进行AP测试和所述链路线的缺陷检查时接通。


4.根据权利要求3所述的显示装置，其中，在进行所述链路线的缺陷检查时，向所述多个AP焊盘中的奇数编号的AP焊盘施加正数据电压，并且向所述多个AP焊盘中的偶数编号的AP焊盘施加负数据电压。


5.根据权利要求4所述的显示装置，其中：
所述复用器包括：
多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间，并且由第一复用器MUX控制信号控制，其中n是自然数，
多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制，以及
多个第三复用器开关元件，所述多个第三复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间，并且由第三MUX控制信号控制；以及
在进行所述链路线的缺陷检查时，
所述复用器接通所述第一复用器开关元件以驱动所述显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在所述显示面板上的图像，
所述复用器接通所述第二复用器开关元件以驱动所述显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在所述显示面板上的图像，以及
所述复用器接通所述第三复用器开关元件以驱动所述显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在所述显示面板上的图像。


6.根据权利要求5所述的显示装置，其中：
第(6k-5)条数据线经由所述第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至所述数据驱动器的奇数编号的通道，其中k是自然数，
第(6k-4)条数据线经由所述第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至所述数据驱动器的偶数编号的通道，
第(6k-3)条数据线经由所述第三复用器开关元件Tr3中相应之一连接至所述数据驱动器的奇数编号的通道，
第(6k-2)条数据线经由所述第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至所述数据驱动器的偶数编号的通道，
第(6k-1)条数据线经由所述第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至所述数据驱动器的奇数编号的通道，以及
第(6k)条数据线经由所述第三复用器开关元件Tr3中相应之一连接至所述数据驱动器的偶数编号的通道。


7.根据权利要求4所述的显示装置，其中：
所述复用器包括：
多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间，并且由第一复用器MUX控制信号控制，其中n是自然数，
多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制，以及
多个第三复用器开关元件，所述多个第三复用器开关元件连接在所述数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间，并且由第三MUX控制信号控制；以及
当进行所述链路线的缺陷检查时，所述复用器接通所述第一复用器开关元件至所述第三复用器开关元件中的全部以驱动所述显示面板，并且检测以黑块的形式显...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊烨，禹相墉，高尚范，池缦箕，
申请(专利权)人：乐金显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR