一种高分辨率低畸变线扫镜头制造技术

本发明专利技术公开一种高分辨率低畸变线扫镜头，包括光学系统，光学系统由物方到像方依次设置具有正光焦度的前组S1、光阑、具有正光焦度的中组S2和具有负光焦度的后组S3；所述光学系统的焦距f，所述前组的焦距为f

【技术实现步骤摘要】
一种高分辨率低畸变线扫镜头
本专利技术属于机器视觉镜头
，具体涉及一种高分辨率低畸变线扫镜头。
技术介绍
在工业自动化的浪潮中，机器视觉系统广泛地应用于各行各业。在电子制造、液晶屏缺陷检测、印刷检测、无纺布检测、手机触摸屏光滑表面划伤、裂痕检测等应用中，对机器视觉系统检测精度要求越来越高，这意味着其核心部件线扫镜头的分辨率要尽可能提高；同时，在一些尺寸测量、针脚定位、料盘定位、电路基板定位等应用中，要求线扫镜头的畸变尽量小。然而，国内现有的线扫镜头在分辨率和畸变方面的性能总存在不同程度的不足。因此对于高分辨率低畸变线扫镜头的研发就更为迫切。
技术实现思路
鉴于相关技术中存在的问题，本申请的目的在于提供一种具有较高的解析度，最高可达150lp/mm，低畸变、大靶面的线扫镜头。为了实现上述目的，本申请提供一种高分辨率低畸变线扫镜头，包括光学系统，光学系统由物方到像方依次设置具有正光焦度的前组S1、光阑、具有正光焦度的中组S2和具有负光焦度的后组S3；所述前组S1包括具有正光焦度、弯月结构的第一透镜G本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高分辨率低畸变线扫镜头，其特征在于：包括光学系统，光学系统由物方到像方依次设置具有正光焦度的前组S1、光阑、具有正光焦度的中组S2和具有负光焦度的后组S3；/n所述前组S1包括具有正光焦度、弯月结构的第一透镜G1；具有负光焦度、弯月结构的第二透镜G2；具有负光焦度、平凹结构的第三透镜G3；具有正光焦度、双凸结构的第四透镜G4；具有负光焦度、平凹结构的第五透镜G5；其中，第一透镜G1和第二透镜G2胶合成具有负光焦度的第一胶合透镜组U1；第三透镜G3、第四透镜G4和第五透镜G5胶合成具有正光焦度的第二胶合透镜组U2；/n所述中组S2包括具有正光焦度、弯月结构的第六透镜G6；具有负光焦度、弯...

【技术特征摘要】
1.一种高分辨率低畸变线扫镜头，其特征在于：包括光学系统，光学系统由物方到像方依次设置具有正光焦度的前组S1、光阑、具有正光焦度的中组S2和具有负光焦度的后组S3；
所述前组S1包括具有正光焦度、弯月结构的第一透镜G1；具有负光焦度、弯月结构的第二透镜G2；具有负光焦度、平凹结构的第三透镜G3；具有正光焦度、双凸结构的第四透镜G4；具有负光焦度、平凹结构的第五透镜G5；其中，第一透镜G1和第二透镜G2胶合成具有负光焦度的第一胶合透镜组U1；第三透镜G3、第四透镜G4和第五透镜G5胶合成具有正光焦度的第二胶合透镜组U2；
所述中组S2包括具有正光焦度、弯月结构的第六透镜G6；具有负光焦度、弯月结构的第七透镜G7；具有正光焦度、弯月结构的第八透镜G8；其中，第六透镜G6和第七透镜G7胶合成具有正光焦度的第三胶合透镜组U3；
所述后组S3包括具有负光焦度、弯月结构的第九透镜G9；
所述光学系统的焦距f，所述前组的焦距为fS1，中组的焦距为fS2，后组的焦距为fS3，分别满足关系式：4.40<|fS1/f|<5.00；0.75<|fS2/f|<1.10；1.50<|fS3/f|<1.95。


2.根据权利要求1所述的高分辨率低畸变线扫镜头，其特征在于：所述光学系统的第一透镜G1的前表面顶点到第九透镜后表面顶点的距离L与光学系统的焦距f，满足关系式：|L/f|>1.50。


3.根据权利要求1所述的高分辨率低畸变线扫镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾振煌，林佳敏，卢盛林，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44