【技术实现步骤摘要】
用于光学传感设备的准直阵列相关申请的交叉引用本美国专利技术专利申请还要求依照《美国法典》第35编第119(e)条对2019年7月11日提交的名称为“用于光学传感设备的准直阵列”的第62/932,304号美国临时申请的权益,其全部内容通过引用并入本文,并且出于任何和所有目的,作为本美国专利技术专利申请的一部分。
本专利技术总体上涉及光谱学,并且更具体地说,涉及使用基于干涉的滤光器的光谱传感器。
技术介绍
光谱学设备已被证明在各种行业中的应用是有用的,包括例如健康、生物测定、农业、化学和健身等。基于干涉的滤光器,诸如法布里-珀罗滤光器,当与光谱学结合使用时,已被证明能够提供有用的光谱信息。以相对较小的角度入射到传感器表面的光通过基于干涉的滤光器会对传感器的性能产生负面影响。已经提出了许多方法,通过基于干涉的滤光器来管理入射角,包括单独或组合地添加物镜、狭缝和准直器。附图说明图1示出了根据本专利技术的不同f数的740纳米至790纳米的滤光器透射率或响应;图2示出了根据本专利技术的覆盖有滤光器的光学传感器的自上而下的图示;图3提供了示例性光学传感器的侧视图,示出了入射光照射根据本专利技术的光学传感器的一部分的表面;图4A示出了根据本专利技术的示例性光学传感器的一部分的透视图;图4B示出了根据本专利技术的示例性光学传感器的侧视图;图5示出了根据本专利技术的另一示例性光学传感器的侧视图;图6示出了根据本专利技术的另一示例性光学传感器的侧视图; ...
【技术保护点】
1.一种光学传感器系统,包含:/n光学传感器阵列,所述光学传感器阵列布置在集成电路上,所述光学传感器阵列具有各自的顶表面;/n多个滤光器,所述多个滤光器具有各自的顶表面和各自的底表面,其中所述多个滤光器的所述底表面定位在所述光学传感器阵列的所述顶面附近;以及/n入射角层,所述入射角层具有各自的顶表面、各自的底表面和各自的厚度Y,其中所述入射角层的所述底表面距所述多个滤光器的所述顶表面预定距离X处定位,其中所述入射角层包括多个准直元件,其中所述入射角层的每个准直元件具有孔径宽度Z。/n
【技术特征摘要】
20191107 US 62/932,304;20200831 US 17/007,2541.一种光学传感器系统,包含:
光学传感器阵列,所述光学传感器阵列布置在集成电路上,所述光学传感器阵列具有各自的顶表面;
多个滤光器,所述多个滤光器具有各自的顶表面和各自的底表面,其中所述多个滤光器的所述底表面定位在所述光学传感器阵列的所述顶面附近;以及
入射角层,所述入射角层具有各自的顶表面、各自的底表面和各自的厚度Y,其中所述入射角层的所述底表面距所述多个滤光器的所述顶表面预定距离X处定位,其中所述入射角层包括多个准直元件,其中所述入射角层的每个准直元件具有孔径宽度Z。
2.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述多个准直元件包括多组准直元件,其中所述多组准直元件中的一组的每个准直元件具有基本相同的各自的孔径宽度Z,其中所述多组准直元件中的每组的所述孔径宽度Z不同于所述多组准直元件中的任何其它组。
3.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述孔径宽度Z、所述入射角层厚度Y和所述预定距离X适于将从所述入射角层射出的光的入射角限制在最大角度以下。
4.根据权利要求1所述的光学传感器系统,进一步包含漫射层,所述漫射层具有各自的顶表面和各自的底表面。
5.根据权利要求4所述的光学传感器系统,其中所述漫射层顶表面和底表面位于所述多个滤光器和所述光学传感器阵列之间。
6.根据权利要求4所述的光学传感器系统,其中所述漫射层的所述底表面在所述多个滤光器的所述顶表面的顶上。
7.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述入射角层顶表面和底表面位于所述多个滤光器的所述底表面和所述光学传感器阵列的所述顶表面之间。
8.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述入射角层的所述底表面在所述多个滤光器的所述顶表面的顶上。
9.根据权利要求8所述的光学传感器系统,其中所述入射角层适于延伸超过所述光学传感器阵列的一个或多个边缘。
10.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述入射角层包含光纤板。
11.根据权利要求1所述的光学传感器系统,其中所述多个滤光器的所述顶表面和所述底表面位于所述入射角层的所述底表面和所述光学传感器阵列的所述顶表面之间。
12.根据权利要求1所述的光学传感器系...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·博勒曼斯,M·德博克,R·丽藤,
申请(专利权)人:光谱公司,
类型:发明
国别省市:比利时;BE
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