全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，辅助夹具包括夹具主体，所述夹具主体顶端设置多个限位柱，底端形成至少一个装配槽。本发明专利技术辅助夹具实现全自动磨抛机在不同的转速和下压力条件下，对较大尺寸圆盘型试样进行全自动磨抛功能；保证磨抛后样品上下两表面的平行度；单位时间内最小可以达到同时抛光3个直径最大为2.74英寸盘型试样呈镜面效果，且各盘样间抛光效果一致，有效提高抛光效率。

【技术实现步骤摘要】
全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具
本专利技术属于机械抛光装置领域，具体涉及一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具。
技术介绍
参照美国材料与试验协会制定的ASTMG99-2017“StandardTestMethodforWearTestingwithaPin-on-DiskApparatus用针盘仪进行磨损试验的标准试验方法”，为保证高转速下磨损体系的稳定性，美、欧、日等国家在此基础上研制的高精度摩擦磨损试验机通常默认盘型试样的直径尺寸为2.74英寸（约69.6毫米）、高度为0.26英寸（约6.6毫米），并将此定为标准的盘型试样尺寸。在摩擦磨损试验中，磨损的状态和程度与被检测样品的表面质量直接相关联，试验前必须对被测样品的表面质量进行有效的控制。机械抛光是依靠非常细小的抛光粉的研磨、滚压作用，除去试样磨面上极薄的一层金属，形成平坦、小缺陷的表面质量。通过提高试样的表面光洁度、消除细小划痕，对表面质量达到“精确”控制，从而提高摩擦磨损试验结果的准确性和有效性。因此在不考虑电解抛光等非环保型抛光方式的前提下，需采用具有一定加工效率的机械抛光方式对试样的表面质量进行处理。高精度摩擦磨损试验机指定的标准盘型试样外径尺寸较大但高度较小，手持抛光方式极易造成盘型试样的表面质量控制效果不一致，且抛光效率低下。为减小研磨抛光过程中人为造成的盘型试样表面质量控制的效果不佳、提高抛光质量和效率，需要采用全自动磨抛机。全自动磨抛机虽然可以实现多工位研磨抛光，但由于其圆形试样装卡槽的尺寸较小（最大仅适用于直径约30mm的圆形试样），无法满足摩擦磨损试验用较大尺寸盘型试样的表面抛光，因此亟需设计一种在依靠全自动磨抛机处理较大尺寸圆盘表面抛光质量时，与之相配合的辅助夹具。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具。本专利技术是通过以下技术方案实现的：一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，包括夹具主体，所述夹具主体顶端设置多个限位柱，底端形成至少一个装配槽。在上述技术方案中，所述夹具主体为圆盘型。在上述技术方案中，所述限位柱的数量与全自动磨抛机卡盘的限位孔的数量一致。在上述技术方案中，多个所述限位柱以夹具主体圆心为中心沿圆周均布。在上述技术方案中，所述装配槽为多个时，多个装配槽沿夹具主体圆心为中心沿圆周均布。在上述技术方案中，所述装配槽的直径为试样直径的1.05~1.4倍。在上述技术方案中，所述装配槽的槽深为试样高度的0.5~0.9倍。在上述技术方案中，所述装配槽为横截面为圆形。在上述技术方案中，所述限位柱的顶面与装配槽的槽底面平行。在上述技术方案中，所述限位柱的高度大于全自动磨抛机卡盘的限位孔的孔深。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，实现全自动磨抛机对较大尺寸圆盘表面抛光质量的处理，提高抛光效率；采用该辅助夹具，可通过全自动磨抛机在不同的转速和下压力条件下，对盘型试样进行全自动磨抛功能；采用该辅助夹具，可通过全自动磨抛机在不同的转速和下压力条件下，保证磨抛后样品上下两表面的平行度；采用该辅助夹具，单位时间内最小可以达到同时抛光3个直径最大为2.74英寸盘型试样呈镜面效果，且各盘样间抛光效果一致。附图说明图1是本专利技术全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的结构示意图；图2是本专利技术全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的仰视图；图3是本专利技术全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的俯视图；图4是本专利技术全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的使用状态装配图。其中：1夹具主体2装配槽3限位柱4下部转盘5打磨层6卡盘7限位孔8上部压头9上部旋转头10试样。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据以上附图获得其他的相关附图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术技术方案，下面结合说明书附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的技术方案。如图1~3所示，一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，包括夹具主体1，所述夹具主体1顶端设置多个限位柱3，底端形成至少一个装配槽2。所述夹具主体1为圆盘型。所述限位柱3的数量与全自动磨抛机卡盘的限位孔7的数量一致，为4~8个。多个所述限位柱3以夹具主体1圆心为中心沿圆周均布。所述装配槽2的数量为3~8个，多个装配槽2沿夹具主体1圆心为中心沿圆周均布。所述装配槽2的直径为试样10直径的1.05~1.4倍。所述装配槽2的槽深为试样10高度的0.5~0.9倍。所述装配槽2为横截面为圆形。所述限位柱3的顶面与装配槽2的槽底面平行，且两者之间的平行度公差为0.01~0.05。所述限位柱3的高度大于全自动磨抛机卡盘的限位孔7的孔深。所述全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具的材质为铝合金，也可以采用其他材质或在铝合金表面进行所需的表面改性处理。本专利技术的工作原理：本专利技术采用一种直径尺寸大于磨抛机试样装配卡盘直径的盘型结构，可加工性好并具有一定的防锈能力。辅助夹具一侧具有盘型试样的装配槽位，可安装盘型试样，抛光过程中与砂纸、抛光布等直接接触；另一侧设计有凸起一定高度的限位柱，可套入全自动磨抛机上部研磨抛光试样卡盘的装配限位孔。本专利技术的工作过程：如图4所示，在全自动磨抛机下部转盘4上放置打磨层5（砂纸或者抛光布），且在夹具主体底端的装配槽2内安装完盘型试样10后，落下全自动磨抛机的卡盘6，卡盘6的试样装配限位孔7套在辅助夹具的限位柱3外侧，实现试样、辅助夹具、卡盘完整配合。设定全自动磨抛机下部转盘转速、旋转方向、上部压头下压力、旋转方向，启动全自动磨抛机，反复研磨、抛光盘型试样的表面，从而达到精确控制试样的表面质量。本专利技术提供了一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，实现全自动磨抛机对较大尺寸圆盘表面抛光质量的处理，提高抛光效率；采用该辅助夹具，可通过全自动磨抛机在不同的转速和下压力条件下，对盘型试样进行全自动磨抛功能；采用该辅助夹具，可通过全自动磨抛机在不同的转速和下压力条件下，保证磨抛后样品上下两表面的平行度；采用该辅助夹具，单位时间内最小可以达到同时抛光3个直径最大为2.74英寸盘型试样呈镜面效果，且各盘样间抛光效果一致。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：包括夹具主体（1），所述夹具主体（1）顶端设置多个限位柱（3），底端形成至少一个装配槽（2）。/n

【技术特征摘要】
1.一种全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：包括夹具主体（1），所述夹具主体（1）顶端设置多个限位柱（3），底端形成至少一个装配槽（2）。


2.根据权利要求1所述的全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：所述夹具主体（1）为圆盘型。


3.根据权利要求1所述的全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：所述限位柱（3）的数量与全自动磨抛机卡盘的限位孔（7）的数量一致。


4.根据权利要求3所述的全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：多个所述限位柱（3）以夹具主体（1）圆心为中心沿圆周均布。


5.根据权利要求1所述的全自动磨抛机抛光盘型试样的辅助夹具，其特征在于：所述装配槽（2）为多个时，多个装配槽（2）沿夹具主体（1）圆心为中心沿圆...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯一可，杨国良，张旭，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：天津;12